스캐닝 장비 프로브

스캐닝 프로브는 접촉식 트리거 프로브와 비슷한 방식으로 측정하는 데도 사용할 수 있습니다.

다양한 크기와 구성의 CMM에 적합한 광범위한 솔루션을 제공합니다.

스캐닝 설명

스캐닝은 다면체이거나 복잡한 부품의 형태와 프로파일 데이터를 빠르게 캡처할 수 있는 방법을 제공합니다.

접촉식 트리거 프로브는 표면의 불연속점을 수집하는 반면, 스캐닝 시스템은 방대한 양의 표면 데이터를 포착하여 측정물의 형태와 모양을 보다 정확하게 알아볼 수 있습니다. 따라서 스캐닝 프로브는 형상의 형태가 중요한 요소가 되거나 복잡한 표면을 검사해야 하는 측정 분야에 이상적입니다.

스캐닝을 위해서는 기본적으로 센서 설계, 기계 제어 및 데이터 분석에 다양한 접근 방식이 필요합니다.

Renishaw 스캐닝 프로브는 고속 스캐닝에 적합하도록 제작된 혁신적인 초경량 메커니즘(모터나 잠금 장치가 없음)이 특징입니다. 옵티컬 계측 시스템이 직접(프로브 메커니즘 내 스택형 축을 통하지 않고) 스타일러스의 편향을 감지하여 보다 정확하고 빠른 동적 응답을 제공합니다.

스캐닝 시스템은 어떤 방법으로 표면 데이터를 캡처하고 분석할까요?

스캐닝 프로브는 기계 위치와 결합하여 표면의 위치를 도출해 내는 지속적인 편향 출력을 제공합니다. 스캐닝할 때 프로브 스타일러스 팁이 형상에 접근하여 닿은 후 표면을 따라 이동하면서 데이터를 수집합니다. 측정이 진행되는 동안 프로브 스타일러스의 편향이 프로브 측정 범위 내로 유지되어야 합니다.

최상의 결과를 위해선 센서와 기계 제어의 긴밀한 통합과 측정 데이터를 사용 가능한 표면 정보로 전환하는 정교한 필터링 알고리즘이 필요합니다. 스캐닝 구동 알고리즘은 측정물의 곡면을 적용하여 곡률에 맞게 스캐닝 속도를 변경(평면에서는 속도 증가)하고 데이터 캡처 속도를 조정(표면 변동이 심하면 더 많은 데이터 수집)할 수 있습니다.

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