Сканирующие датчики

Сканирующие датчики могут также выполнять измерения в отдельных точках, как это делают обычные контактные датчики.

Широкий выбор датчиков позволяет найти подходящее решение для КИМ любой конструкции и размера.

Принципы сканирования

Измерение в режиме сканирования позволяет в кратчайшее время получить данные формы и профиля призматических и иных компонентов сложной формы.

В то время как обычными контактными датчиками измерения выполняются в отдельных точках поверхности детали, сканирующие системы позволяют измерять координаты огромного количества точек поверхности изделия, предоставляя подробную информацию о ее контуре и форме. Таким образом, сканирование является идеальным способом измерения в тех случаях, когда решающим фактором является отклонение детали от заданной формы, или когда нужно проверять точность изготовления деталей со сложным рельефом поверхности.

Выполнение сканирования требует принципиально иного подхода к разработке конструкции датчика, системе управления КИМ и анализу данных.

Сканирующие датчики производства Renishaw характеризуются использованием принципиально нового легкого исполнительного механизма пассивного типа (т.е. не имеют двигателей или механизмов блокировки), который отличается высокой собственной частотой и обеспечивает возможность применения таких датчиков для высокоскоростного сканирования. Независимые оптические измерительные системы измеряют отклонение щупа напрямую (составные оси внутри механизма срабатывания отсутствуют), что дает повышенную точность и быстроту динамического отклика датчика.

Каким образом система сканирования производит измерения и обработку их результатов?

Сканирующие датчики обеспечивают непрерывный выходной сигнал, несущий информацию об отклонении контактного щупа, который может быть сопоставлен с данными о координатах исполнительного элемента КИМ, чтобы определить местоположение поверхности сканируемой детали. В процессе сканирования наконечник контактного щупа приводится в соприкосновение с поверхностью детали, а затем движется вдоль ее поверхности, осуществляя в процессе этого движения сбор данных. При измерениях необходимо, чтобы отклонение щупа находилось в пределах диапазона измерений датчика.

Для получения наилучших результатов требуется комплексная интеграция датчика и системы управления КИМ, а также сложная обработка и фильтрация данных, чтобы преобразовать непосредственные результаты измерений в информацию о 'слепке' поверхности, используемую на практике. Программы управления перемещением при сканировании позволяют перемещать датчик вдоль контуров детали, изменяя скорость сканирования с тем, чтобы она соответствовала степени кривизны поверхности изделия (увеличивая скорость перемещения вдоль плоских поверхностей), и подстраивая скорость считывания данных (производя большее количество измерений в тех местах, где рельеф поверхности меняется быстрее всего).

Вас может также заинтересовать...

В данный момент вы просматриваете сканирующие системы. Вас может также заинтересовать информация о 5-осевой сканирующей системе REVO…