複合ラマンシステム
レニショーの inVia™ コンフォーカルラマンマイクロスコープや Virsa™ ファイバーラマン装置は他の分析装置と組み合わせることができます。例えば、チップ増強ラマン分光測定 (TERS) を使った原子間力顕微鏡 (AFM)、走査型電子顕微鏡 (SEM)、蛍光寿命イメージング (FLIM)、ナノインデンテーション、赤外線 (IR) サーモグラフィなどです。また、レニショーのラマン装置ではフォトルミネセンスイメージングや光電流イメージングを行うこともできます。
作業効率化のために、1 台の装置で複数の手法を用いてサンプルを分析することもあります。レニショーの相関性顕微システムなら、複数の技術で同時に同じ位置を分析できます。その特徴について紹介いたします。
微小粒子の光トラッピング
光トラッピングは光を使って微小粒子を捕捉し動かす技術です。inVia™ Qontor コンフォーカルラマンマイクロスコープでは、ラマン測定やフォトルミネッセンス (PL) 測定を介して微小粒子の捕捉と解析が可能です。
詳細についてSPM/AFM ラマン
inVia™ コンフォーカルラマンマイクロスコープにはさまざまな 走査型プローブ顕微鏡 (SPM) または原子間力顕微鏡 (AFM) を組み合わせることができます。さらに、チップ増強ラマン分光測定 (TERS) によりナノメートル単位の化学的分解能を追加することもできます。
詳細について蛍光寿命イメージング (FLIM)
inVia ラマンマイクロスコープには FLIM を統合して、蛍光色素分子の蛍光寿命を示す空間イメージを取得することができます。FLIM は細胞生物学において、環境検知、分子間相互作用の観察、蛍光色素分子の特定などの活用されています。
詳細について光電流イメージング
inVia コンフォーカルラマンマイクロスコープは、入射レーザー光から生じる光電流のマッピングができるようにアレンジできます。光起電装置の光電流イメージングができれば、素材の電子輸送特性、光輸送特性、電荷輸送特性を明らかにできます。
詳細についてフォトルミネセンス
材料の電子特性を調べることができるのがフォトルミネセンス (PL) です。inVia には、原子空孔や原子置換といった結晶の欠陥を調べるための構成を持たせることができます。太陽電池や半導体、宝石などの分析に便利です。
詳細についてナノインデンテーション
ナノインデンテーション測定に inVia ラマンマイクロスコープの機能を応用し、機械特性およびトライボロジ特性と、結晶化度、結晶多形性、位相、応力などの化学情報を直接相関させます。詳細についてinLux™ SEM-ラマンインターフェース
inLux SEM-ラマンインターフェースは、お使いの SEM で高度なラマン分析を実現できる製品です。高解像度の SEM 画像と 2D や 3D のラマンイメージをまとめて収集することができます。
詳細について中赤外線 (MWIR) ラマンサーモグラフィ
Virsa には MWIR 温度測定マイクロスコープを統合することができます。半導体素子にラマンサーモグラフィを活用すると、サブミクロン単位の横方向空間分解能で局所的な温度を検出できます。
詳細についてラマン eBook: 相関ラマンイメージングの最新技術
ラマン分光はその活用分野や範囲が急速に拡大しています。ラマン分光を走査型電子顕微鏡 (SEM) や蛍光寿命イメージング (FLIM) と組み合わせ、さまざまな分野に応用する手法について紹介いたします。
- ラマン装置の進化とラマン技術のイノベーション
- SEM サンプル室内での in-situ ラマン測定と inLux SEM-ラマンインターフェースの役割
- 相関的な FLIM/ラマン分光 (植物の組織片や HeLa 細胞のイメージ例)
オンデマンドウェビナー: 豊富なデータに基づく科学のための、ラマン分光と他の技術の融合
ラマン分光は、複雑な研究課題を解決するのに必要な数々のツールの中のひとつです。レニショーの inVia なら他の技術と組み合わせて、相関データを収集したり、サンプルを科学的により深く理解できたりすることができます。このウェビナーでは、光電流測定、PL、SEM、AFM、形状測定、レイリー散乱など、他の技術と組み合わせて収集されたラマンデータを紹介します。