光學尺常見問題
一般資訊
可以使用哪些溶劑清潔光學尺及讀頭？
建議使用的清潔溶劑，需視使用的特定光學尺系統而定，詳情請參閱系統安裝指南。
是否可能取下膠帶光學尺並重複使用？
否。取下光學尺後，黏性背膠就無法再使用。此外若取下光學尺，也可能會對其造成損傷，或影響其量測效能。
Renishaw 讀頭上接頭的針腳分配為何？
在可能情況下，Renishaw 會針對類比及數位輸出讀頭及介面使用的 15 向 D 型接頭，採用標準化的針腳分配。此外在可能情況下，其他接頭類型則採用業界標準針腳分配。如需瞭解 Renishaw 編碼器系統的所有針腳分配，請參閱系統安裝指南。
Renishaw 光學尺是使用公（插頭）接頭類型還是母（插槽）接頭類型？
一般來說，公接頭用於由光學尺輸出增量訊號的部分，母接頭則用於由光學尺接收增量訊號的部分（例如進入中間介面）。如需瞭解接頭類型及其為插頭或插槽，詳情請參閱系統安裝指南。
為何在具有時脈輸出的數位光學尺系統中，理論速度和可達成的最高速度之間有所差異？
對時脈輸出系統而言，Renishaw 將時脈頻率選項作為接收電子裝置的建議計數頻率。這比光學尺的實際時脈輸出頻率更高，因為其中加入了安全係數。這項安全係數可允許時脈振盪器公差、線路驅動器、纜線及線路接收器偏斜值、週期誤差 (SDE) 及抖動，而前述所有因素都會讓增量訊號的最小邊緣區隔，低於理論上完美系統的計算結果。
例如 20 MHz Ti TONiC™ 介面選項的實際時脈輸出為 15 MHz，讓 0.1 μm 解析度光學尺的最高速度達到 1.35 m/s。理論上，此系統的極速可達 1.5 m/s，然而由於上述理由，實際上不可能達到。
無論光學尺時脈輸出情況為何，類比訊號頻寬都會賦予極速上限。就 TONiC 系統而言，此項限制為 10 m/s。
我怎麼知道光學尺是否正常運作？
光學尺在讀頭及/或介面內建設定 LED，可顯示讀頭是否通電，以及光學尺設定的品質。如需特定系統的詳細資訊，請參閱安裝指南。
讀頭纜線的內外護套要如何連接至單遮蔽延長線？
讀頭纜線的內護套必須連接至中間接頭內部的 0 V 線路，讀頭纜線的外護套則必須透過（金屬/導電）接頭外殼，連接至延長線的護套，如下圖所示。附註：外部護套應形成連續隔離，從接頭周圍的讀頭機身延續至客戶電子裝置。
1.讀頭
2.內護套
3.外護套
4.接頭
5.單遮蔽延長線
6.客戶電子裝置
7.輸出訊號
讀頭纜線的撓曲壽命為何？
讀頭纜線類型的撓曲壽命，經測試可達 20 x 106 循環以上。
視纜線直徑而定，纜線撓曲壽命是以 20 或 50 mm 彎曲半徑進行測試。請參閱相關光學尺系統安裝指南。
Renishaw 讀頭纜線是否適合用於需要撓曲纜線的機器人應用？
若未超過讀頭纜線最小彎曲半徑（請參閱相關規格資料表），纜線就可達到最低 20,000,000 次運作的撓曲壽命。不過纜線並非設計用於需要旋轉（扭曲）整段長度的應用。並不建議彎曲或撓曲 UHV 讀頭纜線，因為這會對纜線造成損傷。
什麼是「時脈輸出選項」？如何選擇正確的時脈頻率？
如果需要限制編碼器能夠輸出的最高頻率，就應使用「時脈輸出選項」。如果不限制輸出頻率，在超過最高輸入頻率時，接收電子裝置就會發生計數錯誤。對固定（或移動非常緩慢）的光學尺而言，如果可能迅速變更輸出狀態，這點就特別重要。選擇時脈輸出頻率時，應等於或小於接收電子裝置的最高輸入頻率。請注意，若選擇的時脈頻率遠低於輸入頻率，將造成光學尺最高速度降低。
延長線不產生訊號失真的最大長度為何？
特定系統延長線長度資訊的詳細資訊，請參閱安裝指南。
Renishaw 光學尺的 MTBF（平均故障前時間）為何？
請參閱以下範例瞭解 RGH24/RGH25 讀頭可靠性：
MTBF (M) = pt / n
其中：
p：已安裝的讀頭數量
t：平均運作長度
n：總計相關故障
根據我們的記錄（每年的生產數據及故障資料），讀頭連續使用時的 MTBF 為 2,013 年。
如果實際舉例，假設客戶擁有 28 個三軸機台，已安裝的讀頭數量 (p) 就是 84。任何讀頭故障（亦即 n = 1）之間的平均間隔 (t)，可將 MTBF 公式重新排列加以計算：
t = Mn / p =（2,013 年 * 1）/ 84 = 約 24 年
因此在總共 84 個讀頭每日 24 小時運作的情況下，客戶可預期大約每 24 年發生一次讀頭故障。
以上資訊並非保證產品可靠性，也不代表保固條件。
如需其他 Renishaw 光學尺系列的 MTBF 資料，請聯絡與您最近的 Renishaw 代表。
為何 Renishaw 建議使用轂黏性安裝表面外觀？
建議使用的黏合外觀，可讓黏膠適應更廣泛的極端溫度範圍，也可以確保圓盤在轂安裝面上的位置正確無誤。
我是否需要校正 Renishaw 光學尺系統？
ATOM™、TONiC™、VIONiC™ 及 QUANTiC™ 需要校正以確保最佳效能。
光學尺
Renishaw 供應的光學尺類型範圍為何？
請參閱我們的光學尺系統系列網頁。
影響增量式光學尺刻距（週期）的因素為何？
Renishaw 增量式光學尺系統提供 20 µm 或 40 µm 光學尺刻距，視特定系統而定。（一般來說，較大的光學尺刻距可提供更寬裕的安裝公差及更高速度，較小的光學尺刻距則提供更高的解析度，以及更低的 SDE（細分誤差））。
就角度編碼器而言，刻度精度、系統精度及安裝精度之間的差異為何？
刻度精度是指製造期間寫入環的光學尺刻度精度。
系統精度是指刻度精度加上讀頭週期誤差 (SDE)。
安裝精度是指光學尺安裝至工作軸後，客戶可預期達到的精度。這將包括系統精度，但也會受到若干其他因素影響，主要影響因素是環/圓盤的偏心率。
若使用較小的環/圓盤，偏心率對安裝精度造成影響的可能性最大。指定系統精度或安裝精度需視系統而定，不過在所有環校正認證中，都會顯示依據安裝指南詳述建議準則安裝時的一般安裝精度圖。如需應用上的建議，請洽詢距您最近的 Renishaw 代表。
Renishaw 是否有生產與精細刻距光學尺一同運作的增量式光學尺系統？
Renishaw 生產 20 μm 或 40 μm 刻距的增量式光學尺。即使市面上有刻距更精細的光學尺系統，但這些系統不見得能提供更好的整體效能。刻距更精細的系統安裝難度可能更高，速度能力有限並且抗汙能力不佳。此外許多 Renishaw 光學尺系統具備效率佳的增量式訊號處理技術，精度與週期誤差 (SDE) 足以媲美刻距更精細的系統。
部分弧線應用應使用何種光學尺？
我們建議部分弧線應用使用 RKL 系列光學尺。RKL 光學尺纖薄有彈性，相較其他類型的鋼帶光學尺，不但可環繞部分弧線輕鬆安裝，也提供最佳的精度。
部分弧線應用應使用何種安裝表面？
可以在所有金屬安裝表面使用 RKL 光學尺量測部分弧線，熱膨脹係數須介於 8 到 24 ppm/oC，例如鋁、鋼或鈦。如需其他材質的資訊，請洽詢當地 Renishaw 代表。
合規性
Renishaw 光學尺系統是否符合 RoHS 規範？
是，請參考我們的合規性證書。
Renishaw 光學尺系統是否使用衝突區域礦產？
請參考我們的合規性證書。
Renishaw 光學尺系統是否符合歐盟法規（CE 符合性聲明）？
是，請參考我們的合規性證書。
絕對式
相較於增量式光學尺，絕對式光學尺的優勢為何？
選擇絕對式而非增量式技術的關鍵理由之一，就是考量機台的啟動週期。安裝增量式光學尺的軸，一般必須尋找以定位參考原點，以建立基準或歸零位置。Renishaw 絕對式光學尺可於啟動時立即提供確切位置，軸無需進行任何移動。定位參考原點對多軸機台而言是一大問題，特別是在軸並非正交，或載荷敏感或脆弱的情況下。
絕對式光學尺通常不需要另一個光學尺系統進行馬達通訊。由於不需要運動判定絕對位置，因此可使用相同的光學尺進行運動回饋及馬達通訊。
最後，Renishaw 絕對式光學尺無需在速度/解析度之間做出取捨，而這通常是增量式軸效能受限的原因。位置可隨需提供，不必在快速移動的軸使用非常高的頻寬傳輸高解析度增量式訊號。例如 RESOLUTE 在移動速度高達 100 m/s 的軸上就能提供1 nm 解析度的回饋。使用增量式光學尺時，需要 100 GHz 的頻寬才能達到以上功能！
RESOLUTE 光學尺系統是否支援 SSI 通訊協定？
RESOLUTE 並不支援 SSI。SSI 是非常簡單的序列通訊協定，不支援任何資料完整性檢查。RESOLUTE 則提供類似的通訊協定，也就是所謂的「BiSS® C 單向」。這項通訊協定幾乎同樣簡便，不過新增了報告錯誤及警告資訊，並可保護位置資料避免因為 CRC（循環冗餘檢查）而損毀，進而排除軸運動不受控制的風險。
增量式
VIONiC 和 TONiC 光學尺系列有什麼不同？
請參閱下面瞭解 Renishaw 增量超輕巧型產品的主要特色差異：
特性 | VIONiC | TONiC |
輸出 | 自 5 µm 至 20 nm 直接來自讀頭的數位解析度 | 僅限類比 1 Vpp。 |
細分誤差 | 一般低於 ±15 nm | 一般低於 ±30 nm |
抖動 (RMS) | 小至 1.6 nm | 小至 0.7 nm |
最高速度 | 12 m/s | 10 m/s |
Renishaw 是否有生產與精細刻距光學尺一同運作的增量式光學尺系統？
Renishaw 生產 20 μm 或 40 μm 刻距的增量式光學尺。即使市面上有刻距更精細的光學尺系統，但這些系統不見得能提供更好的整體效能。刻距更精細的系統安裝難度可能更高，速度能力有限並且抗汙能力不佳。此外許多 Renishaw 光學尺系統具備效率佳的增量式訊號處理技術，精度與週期誤差 (SDE) 足以媲美刻距更精細的系統。
CAL 和 AGC 有何功用？
CAL 為系統校正常式，是完成讀頭設定的必要元素，有助於增量和參考原點訊號的最佳化。校正設定儲存於本機記憶體，因此開啟電源後即可立即達到最佳效能。不同介面具有各自的校正程序。
Renishaw 高效能增量式光學尺系列採用 DC 光伺服；這是在光感測器維持平均反射光入射的控制迴圈，控制光學尺光源的驅動電流。DC 伺服可有效移除溫度變化效應、部分的光學尺污染物、光學尺反射變化及 IRED 老化等問題。
AGC（自動增益控制）系統是控制迴圈，量測增量式光學尺訊號的 AC 元件，並調整 DC 光伺服的目標。此系統可用來補償影響讀頭 AC 效能的因素，例如光學尺上的潤滑脂/指紋，可成功維持一致的 1 Vpp 輸出訊號振幅。AGC 功能可於必要時切換。
在任何情況下，只要光學尺系統的安裝經過最佳化，就能取得系統的最大效能（即最廣的動態範圍）。
CAL 及 AGC 於 QUANTiC、VIONiC、TONiC 及 ATOM 等系列產品提供。
增量式光學尺訊號的位置（時間）延遲為何？
增量式光學尺系統的時間延遲取決於許多因素，包括輸出類型、光學平台、類比及數位電子平台、線路驅動器/接收器及走線設計/長度。以上數據雖然已知，但難以記錄，因此如需確切的應用建議，請洽詢距您最近的 Renishaw 代表。
絕對式 - EVOLUTE™
EVOLUTE 和 RESOLUTE 光學尺系列有什麼不同？
EVOLUTE 和 RESOLUTE 皆為 Renishaw 目前供應的 2 種絕對式光學尺系列。其技術規格的差異如下：
| 特性 | EVOLUTE | RESOLUTE |
| 解析度 | 50、100 或 500 nm | 1、5 或 50 nm |
| 精度 | ±10 µm/m | ±5 µm/m (RTLA) |
| SDE | ±150 nm | ±40 nm |
| 抖動 | ≤10 nm RMS | ≤10 nm RMS |
| 安裝高度（公差） | 0.8 ± 0.25 mm | 0.8 ± 0.15 mm |
| 偏擺角（公差） | ±0.75° | ±0.5° |
| 俯仰角（公差） | ±0.5° | ±0.5° |
| 翻轉角（公差） | ±0.5° | ±0.5° |
EVOLUTE 系列的建議應用方式是什麼？
EVOLUTE 系列可為絕對式光學尺帶來獲得改良的安裝公差，使得安裝作業快速又容易，無需進行微調。因此，EVOLUTE 光學尺非常適合機器組裝時間相當重要的大量 OEM 應用；在這項應用中，安裝元件的過程所省下的時間可縮短製程的前置作業時間，從而帶來更高的獲利能力。
EVOLUTE 系列支援哪些通訊協定？
EVOLUTE 光學尺支援 BiSS C、Mitsubishi（伺服驅動器 J4 系列和適用於工具機應用的 MDS-D2/DH2/DM2/DJ 驅動器）和 Yaskawa（Sigma-5 和 Sigma-7 SERVOPACK）序列通訊協定。
增量式 - QUANTiC™
QUANTiC 光學尺提供哪種光學尺？
QUANTiC 讀頭相容於具有雙向光學 IN-TRAC 參考原點的 RTLC40-S 不鏽鋼捲尺、FASTRACK™ RTLC40 軌道系統，以及 RESM40 旋轉（角度）環。
QUANTiC 系列的建議應用方式是什麼？
QUANTiC 專為製造商和系統整合商而設計，憑藉其極為寬廣的安裝公差，可同時兼顧超輕巧的外型與絕佳量測性能。因此，如果有平台製造商想要尋求具有航位推測潛力而且安裝簡易的系統，藉此減少安裝次數並增加產量，就非常適合應用 QUANTiC 光學尺。其他應用方式還包括多軸系統、半導體製造和需要長軸的應用。
進階診斷工具（ADT）有什麼優點？
QUANTiC 系列與 ADTi-100 和免費附贈的 ADT View 軟體相容，便於進行 QUANTiC 讀頭設定和校正例行程序的控制和監控，以及現場診斷和故障排除。軟體功能包括：增強圖型、訊號強度與位置關係圖自動產生、利薩如圖、DRO 輸出以及讀取頭間距指示。
深入瞭解請瀏覽 www.renishaw.com/adt。
增量式 - VIONiC™
VIONiC 和 TONiC 光學尺系列有什麼不同？
請參閱下面瞭解 Renishaw 增量超輕巧型產品的主要特色差異：
特性 | VIONiC | TONiC |
輸出 | 自 5 µm 至 2.5 nm 直接來自讀頭的數位解析度 | 僅限類比 1 Vpp。 RS422 連接到 Ti、TD 或 DOP 介面時，可選擇 5 μm 至 1 nm 的數位解析度 |
細分誤差 | 一般低於 ±15 nm | 一般低於 ±30 nm |
抖動 (RMS) | 小至 1.6 nm | 小至 0.7 nm |
最高速度 | 12 m/s | 10 m/s |
VIONiC 讀頭有哪些光學尺可用？
VIONiC™ 讀頭可搭配最新型的 RTLC-S 不鏽鋼捲尺，以及雙向光學 IN-TRAC™ 參考原點、FASTRACK™/RTLC 軌道系統和 REXM 超高精度角度編碼器，此外還有現成的 RSLM 不鏽鋼光學尺、RELM 高精度低膨脹、高穩定度光學尺，以及 RESM 旋轉環。
進階診斷工具（ADT）有什麼優點？
進階診斷工具（ADT）包含使用者軟體，可用來控制並且監控 VIONiC 和 QUANTiC 的設定和校準例行程序。新軟體功能包括：增強圖型、訊號強度與位置關係圖自動產生、利薩如圖、DRO 輸出以及讀頭間距指示。此設定工具配備進階的遠端校準功能，是安裝於工廠生產線的理想選擇。深入瞭解請瀏覽 www.renishaw.com/adt。
VIONiC 系列的建議應用方式是什麼？
VIONiC 在設計上將整體系統尺寸縮減到最小，但系統仍可維持高效能，同時在循環誤差 (SDE)、抖動和精度方面仍保持領先級的效能。VIONiC 的主要應用，為仰賴高控制器增益及大頻寬的線性馬達，以便盡可能縮短位置設定時間，並允許恆定速率運動。速率誤差是由不精確的光學尺輸出，經由控制增益放大而造成：VIONiC 向線性馬達設計人員提供最佳的全方位光學尺解決方案，因應速率（扭矩）漣波問題。其他可能的應用包括小型平移台、多軸平台、大型封裝 DDR 馬達、半導體、醫療，以及空間有限但對效能要求最高的各種應用。
增量式 - TONiC™
TONiC 光學尺介面如何以機械方式連接至機台或控制機櫃？
TONiC 介面可直接連接在面板上，面板配備具有鎖定柱的 15 向 D 型插座，因為此插座在尺寸上和標準 15 向 D 型插頭相仿。Renishaw 也可以供應簡單支架，以兩顆 M4 螺絲將 TONiC 介面連接至安裝表面。其零件編號為 A-9690-0015。
增量式 - ATOM DX™
ATOM DX 系列光學尺提供哪種光學尺？
ATOM DX 讀頭相容於 RTLF 不鏽鋼光學捲尺、RCLC 玻璃光學尺、RCDM 旋轉（角度）玻璃盤和 CENTRUM™ CSF40 旋轉（角度）不鏽鋼盤。
ATOM DX 頂部出口版本的連接器為何？
ATOM DX 讀頭上的連接器為 10 向 JST，配對連接器為 10SUR-32S。
是否供應頂部出口讀頭的纜線？
是，我們提供 15 向 D 型連接器或 10 向 JST (SUR) 連接器的纜線，共有 0.5、1、1.5 及 3 公尺等四種長度。零件編號詳細資料請參閱 ATOM DX 規格資料表。
增量式 - ATOM™
使用 ACi 介面時有哪些考量因素？
ACi 介面的設計是在客戶應用內部整合，並沒有外殼。為了確保良好效能，終端使用者必須提供適當遮蔽（以減少 RF 放射及易受性），並提供電氣及機械連接至纜線屏蔽。一般來說，遮蔽連接至 FG（現場接地）時的效能最佳。
使用 ATOM 時有哪些因素會影響介面選擇？
使用 ATOM 讀頭時，許多因素都會影響您對介面的選擇。部分關鍵因素可能包括解析度、最高系統速度、SDE（細分誤差）或介面大小。下表比較以上因素。
介面類型 | 解析度 | 最高速度 | SDE | 介面尺寸（長 x 寬 x 高） | |||
Ti | 5 µm 至 1 nm | 10 µm 至 2 nm | 10 m/s | 20 m/s | < ±50 nm | < ±100 nm | 67 mm x 40 mm x 16 mm |
Ri | 5 µm 至 0.5 nm | 10 µm 至 1 nm | 10 m/s | 20 m/s | < ±100 nm | < ±150 nm | 52 mm x 40 mm x 16 mm |
Ri | 0.2 µm 至 50 nm | 0.4 µm 至 0.1 nm | 0.8 m/s | 1.6 m/s | < ±125 nm | < ±220 nm | 52 mm x 40 mm x 16 mm |
ACi | 1 µm 至 0.1 nm | 2 µm 至 0.2 nm | 6.5 m/s | 13 m/s | < ±100 nm | < ±150 nm | 25 mm x 25 mm x 9.5 mm |
ACi | 50 nm 至 10 nm | 0.1 µm 至 20 nm | 0.35 m/s | 0.7 m/s | < ±125 nm | < ±220 nm | 25 mm x 25 mm x 9.5 mm |
可成功校正 ATOM 的最短量測長度為何？
ATOM 可在軸行程 ±120 µm（即使在初步訊號位階非常低或非常高的情況下，可能需要多次傳送）條件下成功校正（包括參考原點）。
短的 (< 50 mm) RTLF 光學尺是否可穩固黏合至基材？
是的，在大多數實例中，只要空間足夠，RTLF 光學尺皆可穩固地直接黏貼在基材上。如需任何特定應用的進一步建議，請洽詢距您最近的 Renishaw 代表。
ATOM 的抗油漬污染能力有多高？
Renishaw 的 ATOM 和其他「光學濾波型」光學尺系統採用獨特的光學運作技術，可在一般潤滑脂或油漬污染環境作業。唯一的不良效應是降低增量訊號振幅，可利用 AGC 功能加以補償。
請參閱詞彙表，查詢此頁各項技術專業術語的定義。