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ATOM DX™ 光學增量式光學尺系列

ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 最精巧的增量式光學尺,可直接自讀頭進行數位輸出,於微型封裝提供位置回饋、內建細分及過濾光學鏡組等所有功能。本系列光學尺適用於空間最有限並且不能犧牲效能的應用項目。

微型、高效、一體化

ATOM DX 的建構基礎,是獲得市場肯定的 ATOM™ 平台光學系統,其中整合 Renishaw 高效能插補技術,縮小系統尺寸,並且不需要額外轉接器及介面。

ATOM DX 以 Renishaw 整合式設定 LED 建構,以成熟的自動校正例行程序為基礎,提供直覺簡易的安裝程序,開箱後可立即就緒安裝。ATOM DX 相容於 ADTpro-100 獨立式光學尺診斷工具及 ADTi-100 診斷工具,而這兩款工具都相容於 ADT View 軟體。可提供深入的進階診斷資訊,有助於最佳化光學尺安裝及現場偵錯,滿足要求最嚴苛的運動控制應用。

ATOM DX 讀頭可搭配使用各種線性、部分弧線及旋轉光學尺,因應大部分應用需求,並提供纜線及頂端出口等兩種版本,各具備 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。

規格資料表和技術文件

如需規格資料表及安裝指南等進一步資訊以瞭解 ATOM DX 光學尺系列的技術規格,請前往技術下載部分。

請觀看 ATOM DX 增量式光學尺簡介

您需要量測哪種形式的運動?

線性

光學尺類型光學尺名稱精度

柵距

熱膨脹係數(20 °C 時)

供應長度

不鏽鋼捲尺

RTLF 線性光學尺

RTLF

20 µm:±5 µm/m

40 μm(高精度):±5 µm/m
40 µm:±15 µm/m

20 µm/40 µm~10.1 ±0.2 µm/m/°C長達 10 m(可依要求供應 10 m 以上長度)

玻璃光學尺

RCLC 線性光學尺

RCLC


±3 µm/m20 µm/40 µm~8 µm/m/°C最長達 130 mm

精細不鏽鋼捲尺

RKLC 線性光學尺

RKLF-S

20 µm:±5 µm/m

40 μm(高精度):±5 µm/m

40 µm:±15 µm/m

20 µm/40 µm

以端蓋固定光學尺尾端時,能符合基板材質

長達 10 m(可依要求供應 10 m 以上長度)

部分弧線

光學尺類型

光學尺名稱

精度

柵距

熱膨脹係數(20 °C 時)

光學尺最長長度

精細型不鏽鋼部分弧線光學尺

RKLC 部分弧線光學尺

RKLF-S

±15 µm/m


40 µm

10.1 ±0.2 μm/m/°C

長達 10 m(可依要求供應 10 m 以上長度)



旋轉

光學尺類型

光學尺名稱

刻劃精度

柵距

熱膨脹係數(20 °C 時)

圓盤外徑

玻璃盤

RCDM 圓盤

RCDM

±0.5 µm(圓盤 ø 高達 100 mm)

±0.7 µm(圓盤 ø 超過 100 mm)


20 µm/40 µm~8 µm/m/°C17 mm 至 108 mm

CENTRUM™ 不鏽鋼圓盤

CENTRUM™ 圓盤光學尺

CSF40±0.5 µm40 µm

15.5 ±0.5 µm/m/°C

固定選項:

螺栓:38.4 mm 至 120 mm

夾鉗:31 mm 至 120 mm

如需其他尺寸,請聯繫 Renishaw

主要優點

微型化圖示

微型讀頭

高度最低僅 7.85 mm,可容納於空間最小的應用中。提供線纜版和頂端出口版兩種型號。

速度計圖示

高速運作

最高 20 m/s 的速度,並具備各種高速細分選項。

呈現細分誤差 (SDE) 的圖示

速度控制

Renishaw 最新的細分技術搭配更新的訊號處理演算法,以減少細分誤差 (SDE)。

Renishaw 光學尺系列能以極簡易且靈活方式進行系統整合。我們幾乎總是使用 Renishaw ATOM 光學尺,並在最近於更精巧的微加工系統中使用 ATOMDX 光學尺。

Lasing Microsystem S.A.(西班牙)

選購的進階診斷工具

Renishaw 光學尺安裝時,通常只需使用讀頭上的設定 LED 指示燈,不過進階診斷工具 (ADT) 有助於處理更困難的安裝作業。這類工具可提供詳細的即時光學尺資料,以協助偵錯並避免機器長時間停機。

ATOM DX 光學尺相容於以下兩種進階診斷工具:ADTpro-100 及 ADTi-100。

ADTi-100 及 ADTpro-100 進階診斷工具

ADTpro-100

  • 手持獨立式光學尺診斷工具,無需使用電腦或其他設備。
  • 配備內建彩色觸控螢幕。
  • 簡易直覺的操作方式搭配隨插即用功能,有助於系統設定及校正。
  • 可透過介面連接選購的 ADT View 電腦軟體,用於儲存光學尺資料,作為系統設定和效能記錄。ADT View 也可用於更新 ADTpro-100 韌體

ADTi-100

  • 可透過介面連接直覺操作的 ADT View 電腦軟體。
  • 提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行挑戰較高的安裝與診斷作業。
  • 有助於進行全軸系統設定、校正及訊號最佳化。
  • 可儲存光學尺資料作為系統設定及效能記錄,例如訊號強度與軸位置的光學尺對比資料。

ADTpro-100 與 ADTi-100 可獨立使用,或在讀頭與控制器之間進行串聯連接,藉此形成控制迴路。

歡迎探索我們的開放式光學尺系列,滿足您的工業自動化需求。