RESOLUTE™ 光學尺系列
RESOLUTE™ 真正絕對式光學尺為一種高速且具有精細解析度的位置測量系統。一啟動就會立即取得位置，無需任何運動，提供平順的速度控制及可靠的位置穩定性。
結合先進的光學鏡組與創新的位置測定演算法，RESOLUTE 光學尺以達 1 nm 的精細解析度及高達 100 m/s 的速度來測量絕對位置。這提供優異的量測效能，像是 ±40 nm 的低細分誤差 (SDE) 及小於 10 nm RMS 的超低雜訊（抖動），適合最嚴苛的運動控制挑戰。
RESOLUTE 光學尺提供具備各種系列介面的線性及旋轉光學尺。特殊應用版本包括 RESOLUTE UHV（超高真空）、RESOLUTE ETR（廣溫域）及 RESOLUTE FS（功能安全），其與選配的進階診斷工具 ADTa-100 及 ADT View 軟體相容，可取得全面即時的光學尺資料以進行最佳化與現場偵錯。
真正絕對式位置測量
RESOLUTE 光學尺系列提供出自單軌線性及旋轉光學尺的絕對式位置測量。一啟動就會立即取得位置，無需任何運動。
高速和高解析度
RESOLUTE 光學尺結合先進的光學鏡組與創新的位置測定演算法，以達 1 nm 的精細解析度及高達 100 m/s (36,000 rpm) 的速度來測量絕對位置。
卓越的量測效能
RESOLUTE 光學尺系列以 ±40 nm 的低細分誤差 (SDE) 以及少於 10 nm RMS 的超低雜訊（抖動）提供絕對位置測量，達到平順的速度控制效能及可靠的位置穩定性。
尋找您的 RESOLUTE 光學尺選項
標準
線性
光學尺類型 | 光學尺名稱 | 精度 | 柵距 | 20 °C 時的熱膨脹係數 | 供應長度 |
 不鏽鋼光學尺與選購的軌道 | ±5 µm/m | 30 µm | 10.1 ±0.2 µm/m/°C | 最長達 21 m | |
精細不鏽鋼捲尺
| RKLA30-S | ±5 µm/m | 30 µm | 以端蓋固定光學尺尾端時，能符合基板材質 | 最長達 21 m |
ZeroMet™ 光學尺
| RELA30 | ±1 µm 用於最多 1 m，則 ±1 µm/m | 30 µm | 0.75 ±0.35 µm/m/°C | 最長達 1.5 m |
不鏽鋼光學尺
| RSLA30 | ±1.5 μm 達到 1 m、±2.25 μm 達到 2 m、±3 μm 達到 3 m、±4 μm 達到 5 m | 30 µm | 10.1 ±0.2 µm/m/°C | 最長達 5 m |
部分弧線
光學尺類型 | 光學尺名稱 | 精度 | 柵距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 供應長度 |
精細型不鏽鋼部分弧線光學尺  | ±5 μm/m | 30 µm | 10.1 ±0.2 μm/m/°C | 最長達 21 m |
超高真空
廣溫域
功能安全
選配的進階診斷工具 ADTa-100
RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋，以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能：
- 遠程校正
- 在整個軸上達到訊號優化
- 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數
- 匯出和保存資料
- 設定為零