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라만 분광기를 사용한 미립자 및 오염 물질 식별

오염물 식별은 가장 큰 라만 응용 분야 중 하나입니다. 막대한 비용 손실로 이어질 생산 중단을 초래하는 오염 문제가 전 세계 거의 모든 생산 현장을 위협하고 있습니다. 또한 물질과 오염물의 환경 및 규제 모니터링으로 확대됩니다.

다음은 오염물의 몇 가지 예입니다.

  • 반도체 웨이퍼에 붙은 입자
  • 금속류의 부식 산물
  • 가공품에 잔류하는 오일과 절삭유
  • 제약 성분에 침투된 이물질
  • 큰 웨이퍼 사이트 내 폴리머 입자(예: 마이크로비즈)

오염물의 라만 분석

라만 분광기는 오염물을 분별하여 오염원을 판정하는 데 매우 유용한 기법입니다. Renishaw 라만 시스템은 가능한 최상의 데이터를 제공하여 오염물을 쉽고 빠르게 식별할 수 있도록 지원합니다. 다음과 같은 특성을 제공합니다.

  • 서브마이크로미터의 공간 분해능과 고감도 – 물질와 박막의 아주 작은 흔적까지 분석
  • 라만 스펙트럼 데이터베이스 - 신속하게 오염물을 식별하는 데 유용한 자료 제공
  • UV부터 IR까지 다양한 레이저 – 광범위한 샘플을 분석할 수 있는 유연성 지원
  • 비파괴 비접촉식 분석 - 오염의 증거를 보존
  • 크기가 다른 입자에서의 측정 위치를 찾고 측정을 분석 및 자동화하는 옵션
UV 접착제의 라이브러리 스펙트럼을 포함한 알 수 없는 오염 물질의 라만 스펙트럼UV 접착제의 라이브러리 스펙트럼(붉은색)을 포함한 알 수 없는 오염 물질의 라만 스펙트럼(검은색) 스펙트럼 간의 명확한 일치로 알 수 없는 물질을 식별할 수 있으며 오염 분석을 위해 inLux 인터페이스의 강점을 강조합니다. 532 nm 레이저 여기에서 수집한 데이터.
오염 물질의 EDS 스펙트럼오염 물질의 EDS 스펙트럼이 제공하는 기본 정보만으로는 오염 물질을 완벽하게 식별할 수 없습니다.
라만 칸포칼 깊이 프로필 라만 칸포칼 깊이 프로필. 칸포칼 분석으로 오염 물질 두께를 정량화할 수 있습니다.

Renishaw는 문제의 심각성을 알고 있습니다.

제조 공정에 아무리 많은 주의를 기울여도 변동이 일어나고 오염이 발생할 수 있습니다.

Renishaw는 첨단 제조 업계의 선두에 있으며 제품의 우수한 품질로 명성이 높습니다. 엔지니어들이 Renishaw의 품질 관리 프로세스의 일환으로 inVia Reflex 칸포칼 라만 현미경을 사용합니다. 저희는 오염의 심각성을 잘 알고 있습니다.

언제든 도와드릴 것입니다

이 응용 분야 또는 이곳에서 언급하지 않은 응용 방법에 대한 자세한 정보가 필요하면 Renishaw의 응용 팀에 문의하십시오.

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