TP200
一種可更換模組的輕型測頭，使用應變電感機構，以獲得比動態接觸觸發式測頭更高的精度和更長使用壽命。
TP200 系統元件，包括：
- TP200 或 TP200B 測頭本體（TP200B 是具有更高耐振容忍度的版本）
- TP200 測針模組 - 固定超行程力道選項：SF（標準觸發力）或 LF（低觸發力）
- PI 200-3 測頭介面
- SCR200 測針交換架
另提供擁有與 SF 相同超行程力道，但能提供更大的操作範圍和測頭 Z 軸保護的 EO 模組（擴大超行程）。
特性和優點
- 應變電感技術能提供優異的重現性及精準的 3D 外形量測
- 歸零回位錯誤
- 無葉瓣效應
- 6 向量測功能
- 測針觸及範圍最大可達 100 mm（GF 測針）
- 快速測頭模組更換，無需重新檢定測針端頭
- 超過 1 千萬次觸發的使用壽命
TP200/TP200B 測頭本體
TP200 採用微型應變電感變頻器，即使在使用長測針的情況下，亦能提供優異的重現性及精確的 3D 外形量測。
感測器技術能提供次微米的重現性，並消除動態測頭所會遭遇到的葉瓣特性。測頭內的固態 ASIC 電子元件能確保在數百萬個觸發點上，進行可靠的操作。
TP200B 採用與 TP200 相同的技術，但具備更高耐振容忍度的設計。因此其能協助克服經由 CMM 所傳輸的振動，或以較高的定位速度，使用長測針所造成的「空氣」假性觸發問題。
請注意，我們並不建議將 TP200B 搭配 LF 模組或曲柄/星形測針使用。
規格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要用途 | 需要高精度的 DCC CMM。 | 與 TP200 相同，以及在會發生「空氣」假性觸發事件之處。 |
感測方向 | 6 軸：±X、±Y、±Z | 6 軸：±X、±Y、±Z |
單向重現性 (2σ µm) | 觸發水平 1：0.40 µm 觸發水平 2：0.50 µm | 觸發水平 1：0.40 µm 觸發水平 2：0.50 µm |
XY (2D) 形狀量測偏差 | 觸發水平 1：±0.80 µm 觸發水平 2：±0.90 µm | 觸發水平 1：±1 µm 觸發水平 2：±1.2 µm |
XYZ (3D) 形狀量測偏差 | 觸發水平 1：±1 µm 觸發水平 2：±1.40 µm | 觸發水平 1：±2.50 µm 觸發水平 2：±4 µm |
可重複更換測針能力 | 搭配 SCR200：±0.50 µm 最大值 手動：±1 µm 最大值 | 搭配 SCR200：±0.50 µm 最大值 手動：±1 µm 最大值 |
觸發力（測針端頭） | XY 平面（所有模組）：0.02 N Z 軸（所有模組）：0.07 N | XY 平面（所有模組）：0.02 N Z 軸（所有模組）：0.07 N |
超行程力道（@ 0.50 mm 位移） | XY 平面（SF/EO 模組）：0.2 N 至 0.4 N XY 平面（LF 模組）：0.1 N 至 0.15 N Z 軸（SF/EO 模組）：4.90 N Z 軸（LF 模組）：1.60 N | XY 平面（SF/EO 模組）：0.2 N 至 0.4 N XY 平面（LF 模組）：0.1 N 至 0.15 N Z 軸（SF/EO 模組）：4.90 N Z 軸（LF 模組）：1.60 N |
重量（測頭感測器和模組） | 22 g | 22 g |
最大延長桿（若在 PH10 PLUS 系列測頭座上） | 300 mm | 300 mm |
最大建議測針長度（M2 測針系列） | SF/EO 模組：50 mm 鋼至 100 mm GF LF 模組：20 mm 鋼至 50 mm GF | SF/EO 模組：50 mm 鋼至 100 mm GF LF 模組：20 mm 鋼至 50 mm GF |
安裝方式 | M8 螺紋 | M8 螺紋 |
適合的介面 | ||
測針模組交換架 | ||
測針系列 |
TP200 測針模組
測針模組可透過高度重現性的磁性動態聯軸器，安裝在 TP200/TP200B 測頭本體上，以提供快速的測針更換功能及測頭超行程保護。
共有三種模組，各有兩種不同的超行程力道。
模組 | SF（標準觸發力） | LF（低觸發力） | EO（擴大超行程） |
|---|---|---|---|
應用 | 一般性使用。 | 小直徑的測針球或極需要最少力道的情況。 | 額外超行程，好讓 CMM 能從較高的量測速度安全地停止。 |
意見 | 最長至 100 mm 及測針球直徑小於 1 mm 的測針。 | 測針球直徑小於 1 mm。 | 與 SF 相同的超行程力道。 在測頭的 Z 軸提供額外 8 mm 的超行程。 |
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