Геология
Высокое спектральное разрешение для анализа сложных структур.
Изучение разнообразных геологических проб
Спектроскопия комбинационного рассеяния света является отличным инструментом для геологов. Вы сможете:
- идентифицировать минералы и их полиморфные формы
- идентифицировать и дифференцировать другие органические и неорганические материалы
- определять размеры частиц и их распределение в тонких срезах и полированных блоках
- визуализировать и выявлять включения в прозрачных материалах
- исследовать образцы в различных средах, например, при высоком давлении
- определять характеристики нефтехимических образцов
Анализ неровных или шероховатых образцов
Просмотреть все уровни структуры
Геологические образцы имеют структуры, размеры которых варьируются от менее чем микрометр до многих миллиметров в диаметре. Созданный в компании Renishaw конфокальный рамановский микроскоп inVia может генерировать изображения во всем этом диапазоне.
- Высокое пространственное разрешение – микроскоп inVia обладает высокой конфокальностью и обеспечивает разрешение до субмикронного уровня . Вы можете использовать широкий спектр высококачественных объективов микроскопа, в том числе иммерсионный и с коррекцией покровного стекла, для выявления небольших особенностей.
- Отображение больших площадей – моторизованный столик HSES Renishaw позволяет анализировать большие образцы, имеющие сотни миллиметров в диаметре. Поставляемые по отдельному заказу бескорпусные микроскопы расширяют ваши возможности.
- Изображения высокой четкости – программное обеспечение WiRE может управлять рамановскими изображениями, состоящими из более чем 50 млн спектров. Вы будете располагать высоким пространственным разрешением и большой зоной покрытия. Захват всей необходимой информации в одном изображении.
Результаты, которым вы можете доверять
Большинство минералов являются очень прочными, но некоторые из них могут подвергнуться трансформации под воздействием лазерного излучения высокой интенсивности. Например, соединения железа могут окислиться. Технология StreamLine™ предполагает использование лазерной линии вместо лазерного пятна. Благодаря этому снижается интенсивность лазера и можно анализировать чувствительные материалы, не изменяя и не повреждая их.
Простая идентификация материала
Вы можете легко идентифицировать материалы с помощью спектральной базы данных "Неорганические материалы и минералы" компании Renishaw. Высокое спектральное разрешение рамановского конфокального микроскопа inVia позволяет дифференцировать материалы с очень похожими спектрами комбинационного рассеяния света, такие как полиморфы.
Рамановская система + SEM
Объедините анализ комбинационного рассеяния и сканирующий электронный микроскоп с помощью разработки Renishaw SEM-SCA. Этот прибор особенно полезен для геологов, так как он сочетает в себе высокое пространственное разрешение изображений сканирующего электронного микроскопа (SEM) и элементный анализ энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) с подробной химической информацией, полученной с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния света.
Мы рядом, когда это необходимо
Чтобы узнать больше об этой сфере использования или о другой сфере, которая не представлена здесь, свяжитесь с нашей группой прикладных задач.
Свяжитесь с нашей группой прикладных задачМатериалы для скачивания: Геонауки (геология)
-
Application note: Using the Correlate™ module to study a mineralogical section with Raman and SEM [en]
An application note detailing the use of the Correlate™ module of the WiRE™ software to combine a Raman and SEM image of the same section of a mineralogical sample and in so doing creating more powerful data, by combining the chemical and physical information of the two techniques.
-
Application note: SCA geological application note - meteor and clinker [en]
Using the SEM-SCA to analyse Portland cement clinker and meteorites (four pages).
-
Application note: SCA Geological applications note - sandstone [en]
The SEM-SCA is used to investigate a sandstone sample from the Loch Torridon area of NW Scotland, identifying the component minerals and their phases.
-
Application note: SCA geological application note - heavy mineral sands [en]
Combined SEM and Raman analysis of heavy mineral deposits from South Africa. These deposits are a valuable source of titanium, zirconium, and iron.