Sonda do pomiarów chropowatości powierzchni SFP2 dla systemu REVO®
Sonda REVO® SFP2 pozwala na zintegrowanie kontroli chropowatości powierzchni z pomiarem części na maszynie współrzędnościowej.
Pomiar chropowatości powierzchni
Pomiar chropowatości powierzchni tradycyjnie wymagał użycia ręcznych czujników pomiarowych lub przenoszenia mierzonych części na dedykowane urządzenie. System multisensoryczny REVO umożliwia wykonanie pomiaru chropowatości powierzchni na maszynie współrzędnościowej, jako integralną część programu pomiarowego, a wymiana między sondą skanującą, a SFP2 wykonywana jest automatycznie przy użyciu magazynka. Ta unikalna cecha pozwala na pełne zamieszczenie analizy jakości wykończenia powierzchni w jednym raporcie z pomiarów.
Automatyczny pomiar chropowatości powierzchni za pomocą SFP2 w połączeniu z 5-osiową technologią pomiarową pozwala na uzyskanie znaczących oszczędności czasu oraz zwiększa rentowność inwestycji w maszynę współrzędnościową.
Cechy i korzyści systemu SFP2
System SFP2 składa się z sondy i gamy modułów. Wszystkie komponenty dostępne dla głowicy REVO można automatycznie wymieniać za pomocą magazynka. Dzięki temu otrzymujemy dużą elastyczność i wszystkie charakterystyki mogą zostać zmierzone za pomocą jednej maszyny współrzędnościowej. Dodatkowo dane pomiarowe ze wszystkich rodzajów sond automatycznie odniesione są do jednej bazy wymiarowej.
- Dzięki automatycznej wymianie sondy SFP2 oraz talerzyków z magazynka MRS-2, przy użyciu portów RCP TC-3, pomiar chropowatości powierzchni jest w pełni zintegrowany ze standardowym programem kontroli.
- Sonda SFP2 wykorzystuje możliwości nieograniczonego pozycjonowania kątowego oraz ruchy 5-osiowe charakterystyczne dla głowicy REVO-2.
- Możliwość pomiaru w trudno dostępnych miejscach zapewnia zintegrowana w sondzie oś C. Dodatkową elastyczność zapewnia gama modułów o różnej geometrii oraz obrotowy przegub pomiędzy talerzykiem, a modułem mierzącym.
Charakterystyka sondy
- SFP2 jest sondą typu ślizgowego, zakończoną końcówką diamentową o promieniu 2 µm, 5 µm lub 10 μm. Ślizgacz jest dociskany do powierzchni z przyłożeniem kontrolowanej siły równej w przybliżeniu 0,2 N, podczas gdy siła na końcówce pomiarowej wynosi 0,003 N.
- Sondy SFP2 można użyć do pomiaru w otworach o średnicy 5 mm.
- Możliwości pomiaru chropowatości powierzchni: od 6,3 do 0,05 μm Ra.
- Wyniki pomiarów: Ra, RMS oraz nieprzetworzone dane wysyłane są z oprogramowania sterownika UCCServer do oprogramowania pomiarowego przy wykorzystaniu protokołu I++ DME. Surowe dane są następnie przekazywane do oprogramowania pomiarowego, gdzie następuje analiza oraz raportowanie.
- Kalibracja sondy obejmuje pomiar chropowatości powierzchni na wzorcu (SFA), który mocuje się do magazynka MRS-2. Oprogramowanie automatycznie dokonuje niezbędnych korekcji na podstawie znanej wartości chropowatości wzorca.
- Sonda SFP2 ma wbudowaną oś C z napędem, która umożliwia wykonywanie pomiarów chropowatości powierzchni we wszystkich żądanych orientacjach kątowych.
Moduły sondy SFM
Opracowano specjalizowaną serię modułów SFM, których zadaniem jest zapewnienie unikatowego dostępu do elementów w najbardziej wymagających zastosowaniach metrologii przemysłowej.
Każda z serii modułów ma unikatowe cechy konstrukcyjne i jest przeznaczona do innego zastosowania. Uniwersalna seria A zapewnia wysoką wydajność pomiaru powierzchni czołowej uszczelki bloku silnika i skanowanie boczne czopów łożysk wału korbowego. Specjalizowaną serię E wyposażono w dwuczęściowy element ślizgowy z centralnym trzpieniem pomiarowym, który nadaje się idealnie do krótkich skanowań niewielkich otworów wewnątrz przedmiotu obrabianego, jak w przypadku korpusów zaworów w automatycznych skrzyniach biegów.
Każdy moduł wyposażono w przegub obrotowy między talerzykiem (SFH), a końcówką mierzącą chropowatość (SFM). Kąt ustawia się w zakresie 180° przy użyciu kątomierza (MST).
Przedłużona gwarancja
W ciągu 3 pierwszych miesięcy użytkowania dostępna jest 3-letnia gwarancja dla nowej maszyny współrzędnościowej. Skontaktuj się ze swoim dostawcą.
Informacje o produkcie
- Flyer: SFP2 surface finish probe [en]
- Data sheet: SFM-A1 [en]
- Data sheet: SFM-A2 [en]
- Data sheet: SFM-B1 [en]
- Data sheet: SFM-B2 [en]
- Data sheet: SFM-B3 [en]
- Data sheet: SFM-B4 [en]
- Data sheet: SFM-B5 [en]
- Data sheet: SFM-C3 [en]
- Data sheet: SFM-D1 [en]
- Data sheet: SFM-E1 [en]
- Data sheet: SFM-E2 [en]
- Data sheet: SFM-G1 [en]
- Data sheet: SFM-H1 [en]
- Flyer: Calibration and capability artefacts for SFP2 surface finish probe [en]
Przeglądasz aktualnie stronę dotyczącą sondy SFP2. Możesz też zapoznać się z innymi sondami REVO — RSP2 lub serią sond RSP3.