最新消息
Renishaw 會定期更新 CARTO 套裝軟體，各種新功能也是更新項目之一。以下提供最新軟體版本的摘要說明。
Capture 主要特色
4.9 版功能
Capture：離軸旋轉量測模式
Capture 應用程式中的離軸旋轉量測模式是一種授權選項，可讓 XR20 無線旋轉軸校正儀結合 XL-80 雷射系統或 XM-60 多光束校正儀，在單一工作階段中擷取離軸量測。
Capture：加強真直度量測
可在使用 XM-60 或 XM-600 多光束校正儀進行真直度量測時，盡可能減少經常出現的空氣擾動及振動效應。動態資料調整模式可在連續掃掠軸的過程中，擷取更高密度的真直度資料。
對接受量測的應用而言，這種方法能夠呈現更具代表性的誤差。
Capture：長距離量測
XM-60 或 XM-600 多光束校正儀享有無限的量測範圍。Capture 之中的動態資料調整模式可定義子測試方法、建立工件程式並擷取資料集。子測試資料會自動在 Explore 拼接以便分析。
CARTO 目前支援無訊息安裝
此功能可利用無訊息安裝命令列選項，在公司各處分散安裝 CARTO，讓使用者輕鬆將 CARTO 整合至其企業網路。
Explore 主要特色
Explore：量測興趣點
興趣點通常無法進行量測。其位置可能會妨礙硬體安裝，或阻礙雷射光束。Explore 的偏置讀數功能，可在軟體中輸入接收器與興趣點之間的 X、Y、Z 軸偏差。擷取後的資料將重新計算，以提供來源的真正誤差。
Capture 及 Explore：XR20 支援
新型 XR20 無線旋轉軸校正儀搭載藍牙低功耗模組 (BLE)，目前已新增至 CARTO。XR20 需要使用 CARTO 4.6 或以上版本，而且不相容於 RotaryXL 軟體。
Explore：利用資料拼接量測較長的軸
CARTO Explore 全新的分析型資料拼接功能，可讓 XM-60 及 XL-80 雷射系統使用者依據國際標準分析拼接資料。CARTO Explore 新增此項功能之後，就能輕鬆拼接 XM-60 以目標型量測模式擷取的資料，針對較長的軸進行分析。
此外，XL-80 雷射系統使用者在充滿雜訊的量測環境量測較長的軸時，也能利用這項功能將擷取的量測資料分為小段拼接，減少環境對各個區段的影響，提升整體量測的精度。
Explore：誤差視覺化
即使瞭解誤差以及 6 個自由度彼此之間的關係，並不一定能夠輕鬆解讀其中意涵。Explore 提供 3D 誤差視覺化功能搭配曲線圖，可針對量測軸顯示可調整大小的動畫。這樣使用者就能更充分瞭解量測結果，並在誤差視覺化模式中輕鬆展示位置誤差。
Explore：通道篩選
Explore 可在匯出資料為 .carto 檔案時，篩選 XM-60 系統測試中納入的六個誤差通道。匯入檔案且套用篩選後，Explore 將在匯出檔案中顯示所選取的通道。
此功能可讓使用者在分享資料時自訂要顯示的誤差通道。
Explore：匯出至 CSV
您可將單一或多個資料集匯出為逗點分隔值檔案 (CSV)，以便立即存取資料。這樣可讓您享有最高彈性，擴展資料使用選項範圍。
Explore：XK10 真直度及平行度分析
XK10 校準雷射資料目前可在 Explore 之中進行分析，以利資料操作及比較，並提供平行軸真直度功能。其中也可利用客製化 PDF 報告分享資料。
Compensate 主要特色
Compensate：工具機誤差修正
目前支援 Mitsubishi M800 系列控制器。向使用者提供以原生工具機語言編寫的空間補償檔案。盡可能減少停機時間、創造最大利潤，以及實現最理想的切削效能。已支援 Siemens 840D。
深入探索 Compensate
Compensate：工具機誤差修正
目前支援 Heidenhain iTNC 530 及 Fanuc 30i 系列控制器。向使用者提供以原生工具機語言編寫的傾角補償檔案。盡可能減少停機時間、創造最大利潤，以及實現最理想的切削效能。已支援 Siemens 840D 及 Heidenhain TNC 640。
Compensate：工具機誤差修正
目前支援 Heidenhain TNC 640 控制功能。向使用者提供以原生工具機語言編寫的傾角補償檔案。盡可能減少停機時間、創造最大利潤，以及實現最理想的切削效能。已支援 Siemens 840D。