適用於 REVO® 系統的 SFP2 表面光潔度測頭
REVO® SFP2 使表面光潔度檢測成為您 CMM 量測程序不可或缺的一部分。
表面光潔度/表面粗糙度量測
傳統上,表面光潔度量測都要使用手持感測器,或必須將工件移至專用的量測機器上。REVO 多重感測器系統徹底改變這項作法,使表面光潔度檢測成為您 CMM 量測不可或缺的一部分,並方便您在掃描與表面光潔度量測功能間進行切換。此獨家功能可將表面光潔度分析完全整合至單一量測報告。
SFP2 採用 5 軸量測技術自動化了表面光潔度檢測功能,可大幅節省時間、減少工件處理程序,提升 CMM 投資報酬率。
![REVO SFP2 量測引擎汽缸](/media/img/gen/666d0a90ce464d09b15b96d565316f6d.jpg)
SFP2 系統 - 特徵與優點
SFP2 系統包含測頭及各種模組,能夠與所有其他 REVO 測頭選項自動互換,輕鬆選擇最佳工具,在單一 CMM 平台完成檢測各式各樣的特徵。將多個感測器的資料自動參照至共同的基準。
- 利用 MRS-2 交換架和 RCP TC-3 連接埠為 SFP2 測頭模組和測針固定座進行自動更換,即可將表面光潔度量測完全整合至標準 CMM 檢測程式。
- SFP2 測頭能充分發揮 REVO-2 測頭座無限定位功能和 5 軸運動的優點。
- 透過內建的測頭 C 軸構造,結合各種端頭幾何及模組和固定座間關節接頭,可深入極難到達的部位量測相關特徵。
![SFP2 的航太產業中 應用](/media/img/gen/41c90136bce6406ea73a816cec05fed8.jpg)
測頭特性
- SFP2 是具有 2 µm、5 µm 或 10 μm 半徑鑽石測針端頭的偏位測頭,可以約 0.2 N 的控制力支撐對表面的偏位,而測針端頭力度最低為 0.003 N。
- SFP2 可用於直徑 5 mm 的孔洞。
- 表面量測功能:6.3 μm 至 0.05 μm Ra。
- 輸出:使用 I++ DME 通訊協定,將 Ra、RMS 和未經處理的資料,從 UCCserver 傳回計量應用程式的用戶端軟體。未經處理的資料可傳送至專業表面分析軟體套件,以製作更詳細的報告。
- 感測器校正會量測安裝在 MRS-2 交換架上之表面光潔度校正標準件 (SFA) 的表面光潔度。校正軟體能依據校正標準件的校正值,自動調整測頭輸出。
- SFP2 包含一支內建的電動 C 軸,能在工件四周的所有必要方位上,執行表面光潔度量測。
SFM 測頭模組
專業 SFM 模組系列可提供獨特的接觸功能,適用於最繁重的工業計量應用。
每種模組系列都提供各種獨特設計功能及最佳用途:從一般用途 A 系列高效能的引擎汽缸墊圈表面量測及曲柄軸軸頸側向掃描,乃至於專業 E 系列的雙零件滑道搭配中央測針,是在深入工件小孔進行短距離掃描的理想選擇,也適用於自動傳動閥體。
各模組具備獨特的幾何與關節接頭,可讓您透過 MST 模組設定工具,在 180° 範圍內選擇 SFH 表面光潔度固定座和 SFM 表面光潔度模組間的角度。
![表面光潔度模組 - SFM-A1 及 SFM-A2](/media/img/gen/53ea75bea4c743d081b7d6c4ea2d50c2.jpg)
![SFM-E2 表面光潔度模組](/media/img/gen/cc7d733a001849d29156afbb02c36f1e.jpg)
延長保固
自購買全新三次元量床產品當日起,您可在 3 個月內選購 3 年保固服務,免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。
產品資訊
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傳單: SFP2 表面粗糙度測頭
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Data sheet: SFM-A1 [en]
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Data sheet: SFM-A2 [en]
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Data sheet: SFM-B1 [en]
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Data sheet: SFM-B2 [en]
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Data sheet: SFM-B3 [en]
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Data sheet: SFM-B4 [en]
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Data sheet: SFM-B5 [en]
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Data sheet: SFM-C3 [en]
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Data sheet: SFM-D1 [en]
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Data sheet: SFM-E1 [en]
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Data sheet: SFM-E2 [en]
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Data sheet: SFM-G1 [en]
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Data sheet: SFM-H1 [en]
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傳單: 適用 SFP2 表面粗糙度測頭模組的校正及功能標準件