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RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺

特性

  • 序列介面：BiSS® C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ®、Yaskawa
  • 讀頭尺寸：36 x 16.5 x 17.2 mm
  • 速度高達 100 m/s 時能達到 1 nm 解析度
  • 20 °C 時精度為 ±1 µm
  • 20 °C 時的光學尺熱膨脹係數：0.75 ±0.35 µm/m/°C
  • 提供了真空相容版及側邊纜線插座版

優點

  • 極高的精度與幾近零的熱膨脹係數
  • 卓越的運動控制性能
  • 絕佳的抗汙能力
  • 寬廣的設定公差
  • RMS 抖動低於 10 nm，提升位置穩定性
  • ±40 nm 細分誤差，速度控制平穩
  • 選購的進階診斷工具 (ADT)

網站橫幅的透明修補程式

何謂 RESOLUTE？

RESOLUTE 是真正絕對式精細刻距光學尺系統，汙物抵擋能力卓越、規格出色，開創位置回饋領域的新境界。RESOLUTE 是世界上第一個能在高達 100 m/s 的速度下，實現 1 nm 解析度的絕對式光學尺。

而且，RESOLUTE 線性光學尺系統的超低電子細分誤差 (SDE) 和抖動使其從同類光學尺中脫穎而出。

什麼是 RELA30 光學尺？

RELA30 為由 ZeroMet 製成的光學尺。ZeroMet 為一種低膨脹係數鎳/鐵合金，具備我們的 30 µm 刻矩絕對式光學尺編碼。
RELA30 可媲美精細刻距玻璃光學尺，提供的整體精度（包括斜率與線性度）在長度達 1 m 的情況下優於 ±1 μm。ZeroMet 在溫度 20 °C 時的熱膨脹係數為 0.75 ±0.35 µm/m/°C。
系統設計師可選擇特別配製的膠帶或機械夾片滿足安裝需求。兩種安裝方式均可供基板單獨進行熱膨脹。

為什麼選擇這種光學尺系統？

輕鬆查錯和維護

進階診斷工具 ADTa‑100 可由 RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）取得全面即時資料。然後透過簡單易用的 ADT View 軟體介面顯示這些資訊。儘管在大多數情況下，藉由光學尺內建的 LED 安裝指示燈就能夠完成系統安裝，但 ADT 可協助完成要求更加嚴苛的安裝操作。ADT 還可回報光學尺效能並協助系統查錯，進而避免機器出現長時間停機。

卓越的運動控制性能

精密、可靠和創新運作原理賦予 RESOLUTE 領先業界的性能。更重要的是，此系統使用單軌非重複「條碼」光學尺格式，標稱刻距為 30 µm在此精密光學設計下，RESOLUTE 讀頭能捕捉幾近瞬間的光學尺影像，分析時也能在 100m/s 的速度下辨識特定位置。系統允許的位置辨識解析度高達 1nm（十億分之一公尺），不僅雜訊低（抖動低於 10 nm RMS），且SDE（細分誤差，即光學尺一個週期內的誤差）也只有 ±40 nm。這項優異的表現提供光學尺絕佳的回饋保真度，確保平順的速度控制與可靠的定位穩定性。

寬廣的設定公差

RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.5°）以利快速安裝，即使運動軸在一些時間後發生沈降或移位，也能展現優異的長期穩定性。讀頭內建一個設定用的 LED 指示燈，可進一步協助安裝和診斷。

外部介面選項

Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面

  • Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備搭配RESOLUTE真正絕對式光學編碼器使用的DRIVE-CLiQ介面
  • 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入
  • 顯示通訊警報
  • 重複讀頭 LED

其他可用的序列介面不需要外部介面。

選配的進階診斷工具 ADTa-100

進階診斷工具 ADTa-100

RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋，以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能：

  • 遠程校正
  • 在整個軸上達到訊號優化
  • 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數
  • 匯出和保存資料
  • 設定為零

序列介面

序列介面說明相容產品
BiSS C

Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。
RESOLUTE 線性及旋轉（角度）光學尺版本皆支援 BiSS C，相容於各種業界標準控制器、驅動器、DRO 及 PC 計數器介面卡。

BiSS C 相容產品頁面

FANUC

RESOLUTE 搭配 FANUC（α 和 αi）序列介面可用於旋轉及線性應用。
RESOLUTE 為使用 FANUC 控制器的高性能工具機帶來許多優勢。更高的速度、堅固耐用的純序列通訊、優異的輪廓加工性能及更理想的伺服剛性。此外，非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他遲滯錯誤等傳統封閉式光學尺令人困擾之處。

N/A


Mitsubishi

RESOLUTE 搭配 Mitsubishi 序列介面可用於旋轉及線性格式。RESOLUTE 能與 J4 和 J5 系列伺服驅動器相容，在工具機應用方面則相容於 MDS-D2/DH2/DM2/DJ 驅動器。

N/A

Panasonic


RESOLUTE 搭配 Panasonic 序列介面可用於線性及旋轉格式。RESOLUTE 與 A5 和 A6 驅動器系列相容，提供高解析度重複回饋，帶來更佳的伺服及速度控制。

N/A

Siemens DRIVE-CLiQ

RESOLUTE 搭配 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面可（透過外部介面）用於線性及旋轉應用。Siemens DRIVE-CLiQ 為功能強大的創新通訊介面，可讓光學尺和直接量測系統連結至 SINUMERIK 和 SINAMICS 驅動器元件。

N/A

Yaskawa

RESOLUTE 搭配 Yaskawa 序列介面可用於旋轉及線性格式，且相容於 Sigma-5 與 Sigma-7 SERVOPACK。

N/A

如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。

技術規格

量測標準

絕對式編碼高精度 ZeroMet 光學尺

讀頭尺寸 (LxWxH)

36 mm x 16.5 mm x 17.2 mm

柵距

標稱為 ±30 μm

熱膨脹係數（20 °C 時）

0.75 ±0.35 μm/m/°C

精度等級（20°C 時）

驗證為最高可達 ±1 μm，校正可追溯至國際標準

光學尺長度

部分 BiSS C 通訊協定版本有長度限制

（詳見規格手冊）

80 mm 至 1.5 m

最高速度

（詳見規格手冊）

達到 100 m/s

序列介面*

BiSS C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ、Yaskawa

解析度

BiSS C：50 nm、5 nm 及 1 nm 解析度

FANUC、Mitsubishi 及 Siemens DRIVE-CLiQ：50 nm 及 1 nm 解析度

Panasonic：100 nm、50 nm 及 1 nm 解析度

Yaskawa：50 nm 及 1 nm 解析度

細分誤差 (SDE)

±40 nm

電氣連接

長達 10 m 纜線長度搭配 D 型連接器（9 針腳或 15 針腳）、飛線、FANUC 相容連接器、LEMO 及 M12

電源

5 V ±10%、max 250 mA @ 5 V（終端未連接）

振動（運作時）

於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 300 m/s2

衝擊（非工作）

1000 m/s2、6 ms、½ 正弦

工作溫度

0 °C 至 +80 °C

防護等級

IP64

如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。

*正持續增加其他序列介面。

†如需 Siemens DRIVE-CLiQ 規格，請參閱規格資料表。