5-assige technologie
Een revolutie op meetgebied
In tegenstelling tot conventionele meetmethodes op CMM's bewegen bij de 5-assige technologie van Renishaw de CMM en meetkop gesynchroniseerd om de dynamische machinefouten bij zeer hoge scansnelheden te minimaliseren.
Wat is 5-assige meting?
Op basis van geavanceerde kop-, sensor- en regeltechnologie levert de 5-assige meettechnologie van Renishaw ongekende meetsnelheid en flexibiliteit, waarbij de compromissen voor snelheid en nauwkeurigheid worden voorkomen die inherent zijn aan conventionele technieken. Het vergroot de meetdoorvoer, verkort de doorlooptijden en geeft fabrikanten een uitgebreidere evaluatie van de kwaliteit van hun producten.
In tegenstelling tot systemen gebaseerd op indexeerkoppen of vaste meettasters, maakt de 5-assige beweging het de stylus mogelijk om een ononderbroken pad te volgen rond complexe componenten zonder het oppervlak te hoeven verlaten om van styluscluster te veranderen of de kop te indexeren. Besturingsalgoritmen die CMM en kopbeweging synchroniseren, produceren een optimaal puntpad en minimaliseren dynamische fouten van de CMM.
Uitleg 5-assige meettechnologie
Bij conventionele meetmethodes voert de CMM alle bewegingen uit die nodig zijn om de oppervlaktegegevens op te nemen. Versnellingen veroorzaken door de massatraagheid vervormingen in de machinestructuur, die op hun beurt leiden tot meetfouten.
Fabrikanten van meetsystemen ontwikkelen al jarenlang technieken om die dynamische fouten het hoofd te bieden, maar de stijfheid van machine en servosysteem legt de snelheid een bovengrens op, waarboven niet meer betrouwbaar te meten is.
5-assige meettechnologie doorbreekt die grens door een scharnierende meetkop toe te passen die tijdens het meten om twee assen draait. De CMM kan nu doen waarvoor hij het meest geschikt is: bewegen met constante snelheid langs één vector tijdens het meten. De meetkop is veel lichter en dynamischer dan de CMM en heeft een aanmerkelijk betere bandbreedte. Hierdoor is de kop in staat om veranderingen in de productgeometrie snel te volgen zonder schadelijke dynamische fouten te introduceren. Dit resulteert in veel hogere snelheden over het oppervlak en dus in kortere meetcycli.