inVia™ InSpect コンフォーカルラマンマイクロスコープ
科学捜査でのトレース解析に最適化された、当社ベストセラーのコンフォーカルラマンマイクロスコープ
硬い結晶性粉末、セラミック片、ガラスチップなど、他の技術では困難だったり時間を要したりする材料を同定し、簡単な前処理だけやまたは前処理なしで容易に解析できます。
特徴
inVia InSpect ラマンマイクロスコープのメリット:
- 高精度の同定 - 密接に関連した化学構造であっても、ラマン顕微鏡によって同定可能
- 高空間分解能 - 現在お使いの顕微鏡技術と同等以上
- 幅広い顕微鏡コントラスト技法 - 明視野、暗視野、反射光および透過光の照明による偏光コントラストなど
- 粒子解析 - 高度な画像認識アルゴリズムと装置制御機能を使用して粒子分布の特性評価を実施
- 相関イメージング - ラマンデータを、他の顕微鏡技術による画像と組み合わせて合成画像を作成
詳細については、inVia InSpect のパンフレットをダウンロードしてご覧ください。
Empty Modelling™
Empty Modelling ソフトウェアは、多変量解析を用いて複雑なデータを分解します。ライブラリ検索と併用することで、未知の物質を含んだサンプルから取得したデータを分析できます。
StreamHR™ マッピング
StreamHR マッピングは、InSpect マイクロスコープの高性能ディテクタと MS30 マイクロスコープステージの動作と連携します。データの収集速度が上がり、イメージ生成の時間が短縮できます。
フルオートメーション
アライメント、キャリブレーションそして装置の設定は、WiRE ソフトウェアを介して制御します。例えばサンプルの観察とラマン分析の切替えは、ワンクリックで簡単に行えます。
導入事例
射撃残渣
inVia InSpect マイクロスコープは、その発生場所にかかわらず射撃残渣の包括的な分析に最適で、有機物と無機物の残渣の両方の検出や特定が可能です。このノートでは、射撃残渣分析に役立つレニショー技術の特徴とメリットを紹介します。
文書の偽造
インクには無数の種類があり、同じ色であっても、化学的には異なる場合があります。inVia ラマンマイクロスコープを使ったラマン分析では、同じように見えるよく似たインクタイプを区別する特異性を利用して、対象領域の非破壊での検査を短時間で行うことができます。
ダウンロード: inVia InSpect ラマンマイクロスコープ
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Brochure: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The perfect addition for trace analysis in your forensic laboratory.
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Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
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Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
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Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
仕様
パラメータ | 値 | |
| 波長範囲 | 200nm～2200nm | |
| 対応レーザー | 229nm～1064nm | |
| 波数分解能 | 0.3cm-1 (FWHM) | 通常必要な最高水準: 1cm-1 |
| 安定性 | <±0.01cm-1 | 繰返し測定後にカーブフィットし、Si 520cm-1 バンドの中心周波数の変化。波数分解能 1cm-1 以上にて |
| 低波数カットオフ | 5cm-1 | 通常必要な最低水準: 100cm-1 |
| 高波数カットオフ | 30,000cm-1 | 標準: 4,000cm-1 |
| 空間分解能 (横方向) | 0.25µm | 標準: 1µm |
| 空間分解能 (縦方向) | <1µm | 標準: <2µm。対物レンズとレーザーに依存 |
| ディテクタサイズ (標準) | 1024 ピクセル×256 ピクセル | 他のサイズもオプションで対応可能 |
| ディテクタの動作時温度 | -70℃ | |
| レイリーフィルタ | 無制限 | 自動マウントに最大 4 個のフィルタを使用可。ユーザーによる切替えが可能なキネマティックマウントにより、フィルタセットを無制限に追加可能 |
| レーザー数 | 無制限 | 標準は 1 基。4 基を超えるレーザーは光学テーブルに要設置。 |
| Windows PC による制御 | 最新スペックの Windows® PC | PC ワークステーション、モニタ、キーボード、トラックボール含む |
| 供給電圧 | AC110～AC240V、+10%/-15% | |
| 供給周波数 | 50Hz または 60Hz | |
| 平均消費電力 (分光装置) | 150W | |
| 奥行 (デュアルレーザーシステム) | 930mm | デュアルレーザーのベースプレート |
| 奥行 (トリプルレーザーシステム) | 1116mm | トリプルレーザーのベースプレート |
| 奥行 (コンパクト) | 610mm | 最大レーザー数 3 (レーザータイプに依存) |
| 平均質量 (レーザーを除く) | 90kg |