Microscopio confocal Raman inVia™
El último microscopio confocal Raman de grado de investigación ofrece un rendimiento excepcional y los mejores datos en el menor tiempo posible.
Es fácil de usar pero ofrece un rendimiento excepcional y unos resultados fiables, incluso en los experimentos más difíciles. Con él, puede generar tanto imágenes químicas ricas y detalladas como datos muy específicos de puntos discretos. Con una flexibilidad sin precedentes, los científicos e ingenieros de todo el mundo, confían en el microscopio inVia.
Características
El microscopio inVia está compuesto por un microscopio de grado de investigación acoplado a un espectrómetro Raman de alto rendimiento. Es fácil de usar y, sin embargo, ofrece rendimientos excepcionales: un alto aprovechamiento de la señal combinado con una alta resolución espectral y estabilidad que proporcionan resultados fiables, incluso para las mediciones más desafiantes.
El diseño óptico altamente eficiente del microscopio inVia proporciona los mejores datos Raman, incluso en diminutas trazas de material. Si necesita producir fácilmente y de manera fiable tanto imágenes químicas ricas y detalladas como datos altamente específicos a partir de puntos discretos, entonces el inVia es el sistema ideal para usted.
Para obtener información más detallada, descargue el folleto del microscopio inVia.
Velocidad y sensibilidad
La alta sensibilidad le permite examinar pequeñas señales Raman y analizar rápidamente trazas diminutas de materiales, monocapas y dispersores débiles. Utiliza un diseño óptico estigmático axial que le brinda una alta eficiencia óptica, un excelente rechazo de la luz parásita y una incomparable sensibilidad.
Alta resolución espacial
El diseño óptico le permite alcanzar un nivel muy alto de confocalidad (capacidad de rechazar la señal de las regiones alejadas del punto de interés). Esto le asegura poder alcanzar la más alta estabilidad y las mayores resoluciones espaciales posibles, estando limitado sólo por el límite de difracción inherente de la luz.
Gran rendimiento espectral
Puede resolver características espectrales inferiores a 0,5 cm-1, por lo que puede distinguir entre bandas Raman cercanas y diferenciar materiales muy similares, como polimorfos farmacéuticos. La alta estabilidad le permite supervisar cambios de minutos en la posición de la banda Raman (hasta de 0,02 cm-1).
Estabilidad excepcional
Una base de panal de abeja diseñada a medida fija con precisión el microscopio inVia y los láseres en su posición y es tan estable que no suele ser necesario disponer de una mesa óptica o antivibratoria. Los componentes móviles principales están equipados con encóderes de alta precisión de Renishaw, que garantizan que todo esté situado correctamente.
Flexibilidad espectral
Puede configurar el microscopio inVia de modo que sea el dispositivo ideal para analizar sus muestras particulares. Admite múltiples láseres con cambio automatizado controlado por ordenador. Puede cambiar la longitud de onda de excitación rápidamente y determinar las mejores configuraciones para obtener datos fiables de todas sus muestras.
Flexibilidad de muestreo
inVia es compatible con microscopios de grado de investigación de bastidor vertical, invertido y abierto, así como con sondas de fibra óptica para el análisis remoto a larga distancia. Es compatible con una variedad de objetivos y celdas ambientales que le permitirán analizar sus muestras en una variedad de condiciones ambientales.
Opciones adicionales
inVia™ InSpect
Hemos optimizado nuestro galardonado microscopio Raman para uso en laboratorios forenses. El microscopio inVia InSpect cuenta con las herramientas necesarias para análisis químico no destructivo.
Sistemas Raman combinados
Combine dos o más técnicas analíticas in situ en el microscopio Raman con otros dispositivos analíticos complementarios.
Soluciones Raman a medida
Nuestro experimentado Equipo de Productos Especiales puede desarrollar una solución a medida que cumpla con sus requisitos específicos.
Aplicaciones
Aplicaciones para espectroscopia Raman
Cada vez más laboratorios están cambiando a la espectroscopia Raman para la caracterización química y estructural. El análisis Raman es una técnica sin contacto no destructiva, por lo que puede aplicarse ampliamente a prácticamente cualquier muestra. Descubra cómo puede aplicar la técnica Raman a su área de aplicación.
Características y accesorios del sistema
Los innovadores sistemas Raman incluyen varias funciones patentadas para garantizar la rapidez, la flexibilidad y el automatismo total de nuestros microscopios Raman. Más información sobre las características del sistema, los componentes del microscopio y los accesorios que ayudan a los principales científicos a obtener excelentes resultados.
Mantenga el enfoque en
tiempo real con LiveTrack
El microscopio inVia utiliza la tecnología de seguimiento de enfoque automatizado LiveTrack™ para adquirir, en tiempo real, espectros y datos topográficos precisos y repetibles de muestras con grandes variaciones de altura. Cree impresionantes imágenes en 3D de superficies irregulares, curvas o rugosas sin necesidad de escanear previamente. Vea el vídeo de ejemplo.
Tecnología LiveTrackAnalice fácilmente muestras de líquido o gas con el kit de muestreo macro
El kit de muestreo macro permite analizar fácilmente muestras de líquido o gas en viales y cubetas. Se instala en segundos y le ayuda a realizar rápidamente los análisis Raman.
Por qué elegir un sistema Raman de Renishaw
Con los productos de Renishaw tiene la seguridad de que hace una buena inversión. Su sistema Raman será fácil de utilizar y le proporcionará datos fiables y repetibles, incluso a partir de muestras complicadas. Y le durará.
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Especificaciones
El microscopio inVia está disponible en tres modelos, desde nuestro buque insignia, el sistema inVia Qontor, totalmente automatizado y con tecnología de seguimiento de enfoque, al sistema básico inVia Basis.Parámetro | Valor | |
| Rango de longitud de onda | De 200 nm a 2200 nm | |
| Láseres compatibles | De 229 nm a 1.064 nm. | |
| Resolución espectral | 0,3 cm-1 (FWHM) | Mayor resolución típicamente necesaria: 1 cm-1 |
| Estabilidad | < ±0,01 cm-1 | Variación de la frecuencia central de la banda ajustada de 520 cm-1 del Si mediante medidas repetitivas. Lograda utilizando una resolución espectral de 1 cm-1 o mayor |
| Corte inferior de número de onda | 5 cm-1 | Menor valor típicamente necesario: 100 cm-1 |
| Corte superior de número de onda | 30.000 cm-1 | Estándar: 4.000 cm-1 |
| Resolución espacial (lateral) | 0,25 µm | Estándar: 1 µm |
| Resolución espacial (axial) | < 1 µm | Estándar: < 2 µm Depende del objetivo y láser empleados |
| Tamaño de detector (estándar) | 1024 píxeles × 256 píxeles | Existen otras opciones disponibles |
| Temperatura de funcionamiento del detector | -70 °C | |
| Compatibilidad con filtros Rayleigh | Ilimitado | Hasta cuatro juegos de filtros en montaje automático. Juegos de filtros adicionales ilimitados compatibles con montaje de colocación precisa intercambiable por el usuario. |
| Número de láseres soportado | Ilimitado | Uno de serie Más de 4 láseres adicionales requieren montaje en una mesa óptica |
| Controlado por PC con Windows | Última especificación de PC con Windows® | Incluye estación de trabajo PC, monitor, teclado y trackball |
| Tensión de red | 110 V CA a 240 V CA +10 % -15 % | |
| Frecuencia de la red | 50 Hz o 60 Hz | |
| Consumo de potencia típico (espectrómetro) | 150 W | |
| Profundidad (sistemas de dos láseres) | 930 mm | Base para dos láseres |
| Profundidad (sistemas de tres láseres) | 1116 mm | Base para tres láseres |
| Profundidad (compacto) | 610 mm | Hasta tres láseres (depende del tipo de láser) |
| Peso típico (sin incluir los láseres) | 90 kg |
Visualización de muestras | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Visión estereoscópica (oculares binoculares) | ■ | ▲ | ▲ |
| Visión tras la recogida de datos, memorizada y automática | - | ▲ | ▲ |
| Control del microscopio mediante software | - | ▲ | ▲ |
| Cambio automático Raman/luz blanca | - | ▲ | ▲ |
| Guardado automático, con datos, en el modo de luz blanca | - | ▲ | ▲ |
| Visión de vídeo combinada de los modos láser y de luz blanca | - | ▲ | ▲ |
| Autoenfoque con luz blanca (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Recogida de datos Raman | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Medición automatizada de datos en cola | ▲ | ▲ | ▲ |
| Seguimiento de enfoque automático (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Comprobación de alineación y rendimiento | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Fuente interna de neón de calibración de longitud de onda | - | ▲ | ▲ |
| Patrones de referencia internos de autocalibración | - | ▲ | ▲ |
| Corrección automática de calibración Raman (calibración rápida) | ▲ | ▲ | ▲ |
| Autoalineación del láser | ▲ | ▲ | ▲ |
| Autoalineación de la señal Raman | ▲ | ▲ | ▲ |
| Comprobación de rendimiento | - | ▲ | ▲ |
Llave
| - no disponible | ■ opcional | ▲ incluida |