Sistemas Raman combinados
Conecte el microscopio confocal Raman inVia™ de Renishaw o el analizador Raman Virsa™ a otros dispositivos de análisis para obtener prestaciones de imagen multimodal. Los espectrómetros Raman de Renishaw se combinan correctamente con una amplia gama de técnicas de análisis, como el microscopio de fuerza atómica (AFM) con espectroscopia Raman de punta mejorada (TERS), microscopia electrónica de barrido (SEM), microscopia de imagen de vida útil fluorescente (FLIM), nanoindentación y termografía de infrarrojos (IR). Además, los dispositivos Raman de Renishaw pueden configurarse para imágenes de fotoluminiscencia (PL) y fototensión.
Para obtener la máxima eficiencia, puede analizar la muestra con dos o más técnicas de caracterización en un único dispositivo integrado. Con los sistemas de microscopia correlativos de Renishaw tiene la seguridad de analizar el mismo punto con ambas técnicas. Explore nuestros sistemas Raman combinados a continuación.
Disparo externo para análisis Raman
Sincronice y automatice las mediciones Raman con un disparador externo. Descubra cómo un sistema Raman de Renishaw puede interactuar con hardware o software de terceros.
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Captura óptica de micropartículas
La captura óptica utiliza la luz para sujetar y manipular partículas pequeñas. Con el microscopio Raman confocal Qontor inVia™, puede capturar micropartículas y analizarlas en Raman o mediante mediciones de fotoluminiscencia (PL).
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SPM/AFM Raman
Puede combinar el microscopio inVia™ Raman con una amplia gama de microscopios de sonda de barrido (SPM) y microscopios de fuerza atómica (AFM) para revelar informaciones complementarias, como propiedades mecánicas. Añada la espectroscopia Raman de punta mejorada (TERS) para obtener una resolución química a escala nanométrica.
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Microscopia de imagen de vida útil fluorescente (FLIM)
FLIM puede integrarse con un microscopio Raman inVia para obtener una imagen espacial que muestre vida útil fluorescente de un fluorurocromo. FLIM se utiliza en biología celular para detección ambiental, supervisión de interacción molecular e identificación de fluorurocromo.
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Imágenes de fototensión
Equipe el microscopio Raman confocal Raman inVia para mapear la fototensión generada por la luz láser incidente. El mapeado de fototensión de dispositivos fotovoltaicos revela las propiedades electrónicas, ópticas y el cambio de transporte del material.
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Fotoluminiscencia
Puede utilizar la fotoluminiscencia (PL) para estudiar las propiedades electrónicas de los materiales. También puede configurar el microscopio inVia para estudiar defectos cristalinos, como vacantes atómicas (huecos en la estructura) y sustituciones. PL es de utilidad para analizar materiales fotovoltaicos, semiconductores y piedras preciosas.
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Nanoindentación
Combine la potencia del microscopio Raman inVia con mediciones de nanoindentación y correlacione directamente propiedades mecánicas y tribológicas como cristalinidad, polimorfismo, fase y tensión con la información química.Ver más
Interfaz SEM-Raman inLux™
La interfaz SEM Raman inLux aporta funcionalidad Raman de alta calidad a su cámara SEM. Ahora puede obtener imágenes Raman en 2D y 3D mientras obtiene imágenes SEM de alta resolución.
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Termografía Raman de infrarrojos de longitud de onda media (MWIR)
El analizador Virsa puede conectarse por fibra a un microscopio de medición de temperatura MWIR. Utilice la termografía Raman en dispositivos semiconductores para determinar la temperatura local con resolución espacial lateral por debajo de la micra.
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Otras soluciones a medida
Si nuestros productos estándar no se ajustan exactamente a sus necesidades, nuestro equipo de productos especiales puede desarrollar una solución personalizada que satisfaga sus necesidades. Vea los ejemplos de integración Raman en el haz de un sincrotrón y rutinas de entornos de análisis QA/QC.
eBook de espectroscopia: Últimos avances en Imágenes correlativas Raman
La espectroscopia Raman es un campo que experimenta una rápida expansión, con modernos espectrómetros Raman que proporcionan a los laboratorios más facilidad de uso y sensibilidad. Vea cómo puede combinar la espectroscopia Raman con la microscopia electrónica de barrido (SEM) o microscopia de imagen de vida útil fluorescente (FLIM) para mejorar la técnica en varias aplicaciones.
- Desarrollo de dispositivos e innovaciones de la tecnología Raman;
- Espectroscopia Raman in situ con una cámara SEM y cómo la interfaz inLux SEM Raman aporta información complementaria en las imágenes SEM;
- Microscopia Raman correlativa FLIM, con ejemplos de imágenes de secciones de tejido de la planta y células HeLa.
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Seminarios web por encargo: Combine la espectroscopia Raman con otras técnicas para obtener datos científicos
La espectroscopia Raman es a menudo una herramienta entre las muchas necesarias para resolver complejos desafíos en la investigación. Renishaw ha desarrollado el microscopio inVia para combinarlo con otras técnicas, capturar datos relacionados y crear imágenes científicas más exactas que refuercen sus muestras. En este seminario en línea presentaremos los datos Raman recopilados junto a otras técnicas como mediciones de corrientes fotoeléctricas, PL, SEM, AFM, mediciones topográficas y dispersión de Rayleigh.
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