Microscopio confocal Raman inVia™ InSpect
Nuestro microscopio Raman confocal más vendido, optimizado para análisis químico de trazas en laboratorios forenses.
Identifique materiales fácilmente, prácticamente sin necesidad de preparación, como polvos cristalinos duros, fragmentos de cerámica o de vidrio, y cuyo proceso con otras técnicas podría ser dificultoso o llevar más tiempo.
Características
Su microscopio Raman inVia InSpect le ofrece:
- Identificación altamente específica: la microscopía Raman puede diferenciar las estructuras químicas, incluso las que están estrechamente relacionadas.
- Alta resolución espacial, comparable a sus otras técnicas microscópicas
- Una gama de técnicas microscópicas de contraste, que incluyen campo claro, campo oscuro y contraste de polarización con luz reflejada y transmitida
- Análisis de partículas: utilice algoritmos avanzados de reconocimiento de imágenes y funciones de control de instrumentos para caracterizar distribuciones de partículas
- Imágenes correlativas: cree imágenes compuestas combinando datos Raman con imágenes de otras técnicas de microscopía
Para obtener información más detallada, descargue el folleto de inVia InSpect.
Empty Modelling™
El software Empty Modelling emplea una técnica de análisis multivariable para determinar los componentes principales de conjuntos de datos más complejos. Utilice esta técnica, junto con la búsqueda en diferentes bibliotecas, para analizar con éxito los datos de muestras que contengan materiales desconocidos.
Mapeo StreamHR™
El mapeo StreamHR armoniza el funcionamiento del detector de alto rendimiento de los microscopios InSpect con la plataforma de microscopios MS30. Esto aumenta la velocidad de recopilación de datos y ahorra tiempo en la generación de imágenes.
Plena automatización
Puede controlar la alineación, la calibración y las configuraciones, todo desde el software WiRE de Renishaw. Por ejemplo, puede cambiar rápidamente, con un clic, entre la visualización de muestras y el análisis Raman.
Aplicaciones
Residuo de disparo
El microscopio inVia InSpect proporciona un paquete completo para el análisis de residuos de disparos, independientemente de su origen, facilitando la detección e identificación de residuos orgánicos e inorgánicos. En esta nota, exploramos algunas de las ventajas y características clave de la técnica Raman para el análisis de GSR.
Falsificación de documentos
Hay muchos tipos diferentes de tintas; los colores pueden ser los mismos, pero químicamente pueden ser diferentes. El análisis Raman con el microscopio inVia permite realizar pruebas rápidas y no destructivas de las áreas cuestionadas, y distinguir específicamente tipos de tinta similares, que pueden ser visualmente idénticos.
¿Desea más información?
Su representante local estará encantado de ayudarle con su consulta.
Puede contactar con él completando un formulario o enviándole un correo electrónico.
Obtenga las últimas noticias
Manténgase al día de nuestras últimas innovaciones, noticias, aplicaciones y lanzamiento de productos, y reciba actualizaciones directamente en su bandeja de entrada.
Descargas: Microscopio Raman inVia InSpect
-
Folleto: Microscopio confocal Raman inVia™ InSpect
El complemento perfecto para el análisis de trazas en su laboratorio forense
-
Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
-
Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
-
Hoja de datos técnicos: Microscopio confocal Raman inVia™ InSpect
Características del microscopio confocal Raman inVia™ InSpect
Especificaciones
Parámetro | Valor | |
| Rango de longitud de onda | De 200 nm a 2200 nm | |
| Láseres compatibles | De 229 nm a 1.064 nm. | |
| Resolución espectral | 0,3 cm-1 (FWHM) | Mayor resolución típicamente necesaria: 1 cm-1 |
| Estabilidad | < ±0,01 cm-1 | Variación de la frecuencia central de la banda ajustada de 520 cm-1 del Si mediante medidas repetitivas. Lograda utilizando una resolución espectral de 1 cm-1 o mayor |
| Corte inferior de número de onda | 5 cm-1 | Menor valor típicamente necesario: 100 cm-1 |
| Corte superior de número de onda | 30.000 cm-1 | Estándar: 4.000 cm-1 |
| Resolución espacial (lateral) | 0,25 µm | Estándar: 1 µm |
| Resolución espacial (axial) | < 1 µm | Estándar: < 2 µm Depende del objetivo y láser empleados |
| Tamaño de detector (estándar) | 1024 píxeles × 256 píxeles | Existen otras opciones disponibles |
| Temperatura de funcionamiento del detector | -70 °C | |
| Compatibilidad con filtros Rayleigh | Ilimitado | Hasta cuatro juegos de filtros en montaje automático. Juegos de filtros adicionales ilimitados compatibles con montaje de colocación precisa intercambiable por el usuario. |
| Número de láseres soportado | Ilimitado | Uno de serie Más de 4 láseres adicionales requieren montaje en una mesa óptica |
| Controlado por PC con Windows | Última especificación de PC con Windows® | Incluye estación de trabajo PC, monitor, teclado y trackball |
| Tensión de red | 110 V CA a 240 V CA +10 % -15 % | |
| Frecuencia de la red | 50 Hz o 60 Hz | |
| Consumo de potencia típico (espectrómetro) | 150 W | |
| Profundidad (sistemas de dos láseres) | 930 mm | Base para dos láseres |
| Profundidad (sistemas de tres láseres) | 1116 mm | Base para tres láseres |
| Profundidad (compacto) | 610 mm | Hasta tres láseres (depende del tipo de láser) |
| Peso típico (sin incluir los láseres) | 90 kg |