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TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺

特性

  • 讀頭尺寸:35 x 13.5 x 10 mm
  • 能達到 1 nm 解析度
  • 速度高達 10 m/s
  • 類比或數位輸出
  • 超低的細分誤差 (SDE):一般 < ±30 nm
  • 客製化光學 IN-TRAC™ 參考原點

優點

  • 超高真空 (UHV)
  • 光學捲尺方便耐用
  • 攜帶型光學尺系統不論安裝或更換都非常迅速方便。
  • 超輕巧型編碼器具備動態訊號調節功能,能提高運動控制性能
  • 診斷套件
網站橫幅的透明修補程式

什麽是 TONiC UHV?

TONiC UHV 將 Renishaw 的輕巧型非接觸式光學尺系統引進超高真空應用,為客戶提供更卓越的運動控制性能。

TONiC 如與 Ti 介面結合,在線性和旋轉應用中,均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC 系統安裝快速簡便,提供寬鬆的安裝公差,按下按鈕即可進行校正。TONiC 的動態訊號處理功能可改善訊號穩定性,細分誤差通常超低,不到 ±30 nm,有助於實現優異的運動控制效能。

什麼是 RTLC20 光學尺?

RTLC20 是一種輕巧不鏽鋼光學捲尺,刻距為 20 µm,並提供 IN-TRAC 客製化參考原點。精度可達 ±5 µm/m,長度最長可達 10 公尺(可依要求供應 10 公尺以上長度)。提供兩種安裝選擇,皆允許獨立熱膨脹且具備光學捲尺的便利性。
RTLC20 能與創新 FASTRACK™ 光學尺攜帶系統搭配使用。此系統的軌道鋪設迅速簡便,無須使用固定孔。只要取下隔板,捲尺隨即送入軌道。
RTLC20-S 以自黏背膠帶鋪設於基材。自黏膠的設計能使光學尺獨立擴展於基材。
為了完成安裝,兩種光學尺皆夾固在一點以提供基準位置。

為什麼選擇這種光學尺系統?

超高真空 (UHV)

TONiC UHV 讀頭將標準 TONiC 的優異性能引入讀頭。TONiC UHV 讀頭在設計及建造上運用了 UHV 相容材質及加工技術,適合用於精細至 10 -10 Torr 的 UHV 條件。
TONiC UHV 光學尺及配件系列由真空相容材質及黏著劑製成,具備低放氣率並經過受證實的無塵殘留氣體分析 (RGA),適用於許多用途,包括晶片搬運/測試、科學儀器、光譜儀、真空檢驗設備等更多其他應用。

易拆型光學尺

RTLC20/FASTRACK 適合用於機器須拆卸運送,或須經常安裝/拆卸光學尺以利運送等場合。即使維修空間狹窄,也可從導軌拉出光學尺迅速更換,減少機器的停機時間。

優異的量測功能

TONiC 光學尺配備 Renishaw 獲市場肯定的過濾光學鏡組與進階訊號處理功能。自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC) 技術降低讀頭內的類比訊號雜訊與數位抖動。

TONiC 光學尺提供絕佳的 <±0.5 nm RMS 的低訊號輸出抖動及 <±30 nm 的低細分誤差 (SDE),使系統能夠更妥善維持位置並在線性馬達應用中產生較少熱能。低抖動亦使得低速下的高精度應用能展現更平順的速度控制。

彈性配置

TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置,多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。

TONiC 介面選項能進行數位、類比輸出或數位及類比訊號的雙輸出。TD(雙解析度)介面提供可選擇的雙解析度輸出,也提供於寬幅列印應用的 DPI 介面。TONiC 光學尺配置的彈性使 OEM 能在各種應用領域中受惠於優異的運動控制及高產量。

介面選項

TD(雙解析度)介面

  • 可選擇雙解析度正交輸出。Ti 介面(平方)
  • 介面選項適合需要高速運動的應用,結合更精密精度的運動。

DOP(雙輸出)介面

  • 提供同步數位正交及 1 Vpp 訊號。
  • 此介面在設計上適合用於須透過運動軸,將一或多項作業進行同步的應用。TONiC 雙輸出 (DOP) 介面

選配診斷工具組

TONiC™ 診斷工具組(軟體及硬體)

可採用 TONiC 軟體優化 TONiC 光學尺的安裝,提供快速全面的系統校準。必須將軟體與 TONiC 診斷硬體一起使用,即可使用 A-9411-0011 零件訂貨號從 Renishaw 購買。可透過 USB 線(於套件中提供)或客戶線上電子裝置連接硬體與電腦。

瞭解所有關於 TONIC 診斷工具組的資訊。

技術規格

量測標準

FASTRACK RTLC20:不鏽鋼光學捲尺與攜帶系統

RTLC20-S: 不鏽鋼光學捲尺與自黏背膠帶,可直接安裝在基材上,無須使用 FASTRACK 導軌

讀頭尺寸 (LxWxH)

35 mm x 13.5 mm x 10 mm

柵距

20 μm

熱膨脹係數(20 °C 時)

10.1 ±0.2 μm/m/°C

精度等級(20°C 時)

±5 μm/m

參考原點

IN-TRAC 的參考原點標記直接嵌入 RTLC20 / RTLC20-S

磁性選擇器用來辨識所選的參考原點

限位開關

雙或單限位(可於訂購時選擇)

光學尺長度

FASTRACK100 mm 至 25 m

RTLC20/RTLC20-S:長達 10 m

(可依要求供應 10 m 以上長度)

最高速度

類比

數位

(詳見規格手冊)

於 -3 dB 時最高達 10 m/s

達到 10 m/s

細分誤差 (SDE)

一般低於 ±30 nm

動態訊號控制

即時訊號調節,包括自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC),優化操作時的性能

增量訊號

類比

數位


1 Vpp(20 μm 週期)

解析度範圍為 5 μm 至 1 nm

電氣連接

0.5 m、1 m、1.5 m、3 m、5 m 及 10 m 纜線長度及迷你接頭(直接連接 TONiC 介面)

電源

5 V ±10%、< 100 mA(類比系統)、< 200 mA(數位系統)(無端接)

讀頭耗電量< 100 mA

振動(運作時)

於 55 Hz 至 2 000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s2

衝擊(非工作)

1000 m/s2、6 ms、½ 正弦

工作溫度(系統)

0 °C 至 +70 °C

烘烤溫度(非操作)

120 °C(僅限讀頭及光學尺)

防護等級

讀頭:IP20

介面:IP20

纜線構造

鍍錫銅編單屏蔽、FEP 芯線絕緣體

請參閱規格手冊,了解詳細資訊。