EVOLUTE™ 光學尺系列
EVOLUTE™ 系統採用 RESOLUTE™ 光學尺系列的業界領先技術,為 50 µm 光學尺週期的真正絕對式光學尺,具有充裕的安裝公差、更優異的抗汙能力和多功能量測效能。
由於採用創新的影像處理演算法和針對抗污染性進行最佳化的光學鏡組,可維持優異的操作完整性。
EVOLUTE 光學尺以達 50 nm 的解析度及高達 100 m/s 的速度來測量絕對位置。
EVOLUTE 光學尺提供線性光學尺與各種系列介面。所有版本(以 ADT 標誌標記)皆與選配的進階診斷工具 ADTa-100 及 ADT View 軟體相容,可取得全面即時編碼器資料以進行最佳化與現場偵錯。
線性光學尺選項
![網站特寫:EVOLUTE™ 讀頭](/media/img/gen/c8b668ce08ea4863b5b501d604ce3cc8.jpg)
真正絕對式位置測量
![絕對式圖表](/media/img/gen/5574af0c2b834b30abd1047790a6691f.png)
EVOLUTE 光學尺系列提供出自單軌線性光學尺的絕對式位置測量。一啟動就會立即取得位置,無需任何運動,適合用於各種運動控制的應用。
安裝容易且操作穩定
![簡易安裝圖表](/media/img/gen/c1b8283a87b74eb8b463412034127cc1.png)
EVOLUTE 光學尺使用具有 50 µm 週期的單軌光學尺,可提供 500 µm(安裝高度)的寬廣安裝公差,同時具備創新的影像處理演算法及提供更優異抗汙能力的最佳化光學鏡組。
多功能的量測效能
![細分誤差 (SDE) 圖表](/media/img/gen/0b4dc6cf1c194c98bb7cc1b31a99bc64.jpg)
EVOLUTE 光學尺系統以 ±150 nm 的細分誤差 (SDE) 以及少於 10 nm RMS 的超低雜訊(抖動)提供絕對位置測量,適合為各種運動控制應用提供平順的運動控制。
光學尺類型 | 光學尺名稱 | 精度 | 柵距 | 20 °C 時的熱膨脹係數 | 光學尺最長長度 |
不鏽鋼光學尺與選購的軌道 | ±10 μm/m | 50 μm | 10.1 ±0.2 μm/m/°C | 高達 10,020 mm |
選配的進階診斷工具 ADTa-100
![進階診斷工具 ADTa-100](/media/img/gen/b7ce927551c5444aa10e35ea129cb3ad.jpg)
EVOLUTE 光學尺讀頭相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋,以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能:
- 遠程校正
- 在整個軸上達到訊號優化
- 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數
- 匯出和保存資料
- 設定為零