CMM 系統元件

VIONiC™ 光學尺系列

VIONiC 光學尺系列是 Renishaw 最高效的增量式光學尺。VIONiC™ 光學尺可提供直接的數位位置回饋，具有直觀的自動校正模式和超精巧的外形，量測性能優異，可靠性高。

用於 CMM 的光學尺

對於具有低熱膨脹係數 / 高熱品質基材的精密 CMM，基材固定式光學尺具有諸多優勢。另一個光學尺解決方案是 Renishaw RTL 伸縮式不銹鋼光學尺，可與 FASTRACK™ 光學尺導軌系統搭配安裝，不僅安裝簡便，無需固定孔，而且能夠迅速更換，即使在空間狹小受限的場合也是如此，進而縮短停機時間。

XM-600 多光束校正儀

XM-600 多光束校正儀新增加與 Renishaw UCC 控制器直接通訊的功能。XM-600 使用為 XM-60 多光束校正儀開發的技術，可在單一量測之中同時量測所有 6 個自由度。這樣就可針對 CMM 的各個線性軸，輕鬆建立正確的誤差對應圖。

XM-600 與 CARTO 的相容性和 XM-60 相同，是理想的校正解決方案。

RESOLUTE™ 真正絕對式光學尺系統

對於需要絕對式光學尺系統的 CMM 應用，RESOLUTE 光學尺系列的性能出色，可提供高解析度絕對位置回饋，而且具有超低的電子細分誤差和抖動。

功能強大的量測軟體

MODUS 量測軟體為 5 軸量測提供了強大的平台。可設定的使用者介面能能離線開發程式、繪製幾何圖形、從 CAD 內嵌尺寸和公差資料，並具備完整的模擬和碰撞偵測功能。該軟體包括認證的特徵量測、特徵結構和工件坐標系的演算法。

使用者可以根據螢幕上的測頭路徑校驗結果，直接從 CAD 離線新建程式。可用來定義 CMM 環境、夾具和機台上的工件位置，並提供完整的模擬和 5 軸量測程式的碰撞偵測。在收到程式時，它只需要極少或完全不需要驗證時間，即可完成機台準備執行作業，將 CMM 的停機時間降至最低。

控制器

Renishaw 的 UCC 通用 CMM 控制器系列，能提供精準的機台運動控制、連接所有 Renishaw CMM 感測器，並與計量軟體通訊。Renishaw UCC靈活的控制器具備先進的觸發和掃描運算功能，工件量測速度快、精度高、適應性強。