Datenblätter – Optische Messsysteme

Optische Messsysteme in geschlossener Bauweise

FORTiS™ Absolut-Messsysteme

Datenblatt: FORTiS-S™ Messsystem in geschlossener Bauweise

Datenblatt: FORTiS-S™ Messsystem in geschlossener Bauweise

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Datenblatt: FORTiS-N™ Messsystem in geschlossener Bauweise

Datenblatt: FORTiS-N™ Messsystem in geschlossener Bauweise

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Datenblatt: FORTiS-S™ FS (Funktionale Sicherheit) Messsystem in geschlossener Bauweise

Datenblatt: FORTiS-S™ FS (Funktionale Sicherheit) Messsystem in geschlossener Bauweise

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Datenblatt: FORTiS-N™ (Funktionale Sicherheit) Messsystem in geschlossener Bauweise

Datenblatt: FORTiS-N™ (Funktionale Sicherheit) Messsystem in geschlossener Bauweise

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Datenblatt: BiSS® Safety für RESOLUTE™ Messsysteme

Datenblatt: BiSS® Safety für RESOLUTE™ Messsysteme

Renishaw RESOLUTE BiSS Messsysteme bieten die Möglichkeit, entweder das serielle BiSS C-Mode (unidirektional) Protokoll (www.renishaw.de/biss-protocol-support) oder das serielle BiSS Safety Protokoll zu verwenden. In diesem Datenblatt wird das BiSS Safety Protokoll beschrieben.
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Datenblatt: Luftfiltersysteme zur Verwendung mit FORTiS™ Messsystemen

Datenblatt: Luftfiltersysteme zur Verwendung mit FORTiS™ Messsystemen

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Datenblatt: Kabel für FORTiS™ Absolut-Messsysteme

Datenblatt: Kabel für FORTiS™ Absolut-Messsysteme

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Optische Messsysteme in offener Ausführung

RESOLUTE™ Absolut-Messsysteme

Datenblatt: RESOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem

Datenblatt: RESOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem

RESOLUTE™ ist ein optisches, hochauflösendes, absolutes Messsystem mit hervorragender Messleistung. Die patentierte RESOLUTE Messtechnologie verbindet eine 1 nm Auflösung mit extrem hohen Geschwindigkeiten und kann mit verschiedenen linearen oder rotativen Maßverkörperungen kombiniert werden.
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Datenblatt: RESOLUTE™ Funktionale Sicherheit absolutes, optisches Messsystem

Datenblatt: RESOLUTE™ Funktionale Sicherheit absolutes, optisches Messsystem

RESOLUTE™ FS (Funktionale Sicherheit) ist ein optisches, hochauflösendes absolutes Messsystem, das gemäß den Normen zur Funktionalen Sicherheit zertifiziert ist. Die patentierte RESOLUTE Messtechnologie verbindet eine 1 nm Auflösung mit extrem hohen Geschwindigkeiten und kann mit verschiedenen linearen oder rotativen Maßverkörperungen kombiniert werden.
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Datenblatt: RESOLUTE™ UHV absolutes optisches Messsystem

Datenblatt: RESOLUTE™ UHV absolutes optisches Messsystem

Das RESOLUTE UHV System bietet alle Vorteile der bewährten RESOLUTE Weg- und Winkelmess-Systeme in einem Abtastkopf, der unter Verwendung von UHV tauglichen Materialien und Prozessen konzipiert und gefertigt wurde.
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Datenblatt: RESOLUTE™ ETR (Extended Temperature Range) absolutes Winkelmess-System

Datenblatt: RESOLUTE™ ETR (Extended Temperature Range) absolutes Winkelmess-System

RESOLUTE ETR ist ein optisches hochauflösendes absolutes Mess-System mit hervorragender Verschmutzungstoleranz, beeindruckenden Spezifikationen und jetzt auch mit garantiertem Betrieb bei bis zu -40°C
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Datenblatt: BiSS® Safety für RESOLUTE™ Messsysteme

Datenblatt: BiSS® Safety für RESOLUTE™ Messsysteme

Renishaw RESOLUTE BiSS Messsysteme bieten die Möglichkeit, entweder das serielle BiSS C-Mode (unidirektional) Protokoll (www.renishaw.de/biss-protocol-support) oder das serielle BiSS Safety Protokoll zu verwenden. In diesem Datenblatt wird das BiSS Safety Protokoll beschrieben.
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Datenblatt: BiSS© C-mode (unidirektional) für RESOLUTE™ Mess-Systeme

Datenblatt: BiSS© C-mode (unidirektional) für RESOLUTE™ Mess-Systeme

RESOLUTE BiSS Mess-Systeme von Renishaw verwenden das serielle BiSS C-Mode (unidirektional) Protokoll.
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Datenblatt: FASTRACK™ und RTLA-S hochgenaues, absolutes Wegmess-System

Datenblatt: FASTRACK™ und RTLA-S hochgenaues, absolutes Wegmess-System

Das absolute lineare RTLA Maßband von Renishaw kombiniert eine ±5 μm/m Genauigkeit mit der Unempfindlichkeit von Edelstahl. Es ist in zwei Versionen erhältlich: als selbstklebendes Edelstahlmaßband RTLA-S und als RTLA zur Verwendung mit FASTRACK, dem schnell und einfach zu installierenden Trägersystem.
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Datenblatt: RKLA30 Maßband für Absolut-Wegmesssystem

Datenblatt: RKLA30 Maßband für Absolut-Wegmesssystem

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Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

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Datenblatt: RELA absoluter, hochgenauer ZeroMet™-Maßstab

Datenblatt: RELA absoluter, hochgenauer ZeroMet™-Maßstab

Der absolute, hochgenaue Maßstab RELA aus ZeroMet ist kompatibel mit dem absoluten berührungslosen Wegmess-System RESOLUTE™ von Renishaw.
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Datenblatt: RSLA absoluter, hochgenauer Edelstahlmaßstab

Datenblatt: RSLA absoluter, hochgenauer Edelstahlmaßstab

Der absolute, hochgenaue Edelstahlmaßstab RSLA ist kompatibel mit dem absoluten berührungslosen Wegmess-System RESOLUTE™ von Renishaw.
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Datenblatt: RESA30 absolutes Winkelmesssystem

Datenblatt: RESA30 absolutes Winkelmesssystem

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Datenblatt: REXA hochgenaues, absolutes Winkelmess-System

Datenblatt: REXA hochgenaues, absolutes Winkelmess-System

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Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTa-100

Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTa-100

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EVOLUTE™ Absolut-Messsysteme

Datenblatt: EVOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem mit serieller Panasonic Schnittstelle

Datenblatt: EVOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem mit serieller Panasonic Schnittstelle

Das auf derselben industrieerprobten Technik wie RESOLUTE ™ beruhende System EVOLUTE ist ein absolutes, berührungsloses, optisches Messsystem mit 50 μm Teilungsperiode, das verbesserte Installationstoleranzen sowie eine höhere Unempfindlichkeit gegenüber Verschmutzungen für Großserienanwendungen bietet, die höchste Funktionssicherheit verlangen.
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Datenblatt: EVOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem mit serieller Yaskawa Schnittstelle

Datenblatt: EVOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem mit serieller Yaskawa Schnittstelle

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Datenblatt: EVOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem mit serieller Mitsubishi Schnittstelle

Datenblatt: EVOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem mit serieller Mitsubishi Schnittstelle

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Datenblatt: EVOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem mit serieller BiSS Schnittstelle

Datenblatt: EVOLUTE™ absolutes, optisches Messsystem mit serieller BiSS Schnittstelle

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Data sheet: BiSS® C-mode (unidirectional) for EVOLUTE™ encoders [en]

Data sheet: BiSS® C-mode (unidirectional) for EVOLUTE™ encoders

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Data sheet: EVOLUTE™ absolute optical encoder with FANUC serial communications [en]

Data sheet: EVOLUTE™ absolute optical encoder with FANUC serial communications

Incorporating industry-proven technology from the RESOLUTE™ encoder series, EVOLUTE™ is a true-absolute 50 μm scale period optical encoder with wide installation tolerances and high immunity to dirt.
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Data sheet: EVOLUTE™ absolute optical encoder with Siemens DRIVE-CLiQ serial communications [en]

Data sheet: EVOLUTE™ absolute optical encoder with Siemens DRIVE-CLiQ serial communications

Incorporating industry-proven technology from the RESOLUTE™ encoder series, EVOLUTE™ is a true-absolute 50 μm scale period optical encoder with wide installation tolerances and high immunity to dirt.
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Datenblatt: RTLA50 Maßbandsystem für die absolute Wegmessung zur Verwendung mit EVOLUTE™

Datenblatt: RTLA50 Maßbandsystem für die absolute Wegmessung zur Verwendung mit EVOLUTE™

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Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTa-100

Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTa-100

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QUANTiC™ inkrementelle Messsysteme

Datenblatt: QUANTiC™ Wegmesssystem

Datenblatt: QUANTiC™ Wegmesssystem

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Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTi-100

Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTi-100

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Datenblatt: RTLC inkrementelles Maßbandsystem

Datenblatt: RTLC inkrementelles Maßbandsystem

Das lineare RTLC Maßband von Renishaw kombiniert eine ±5 μm/m Genauigkeit mit der Unempfi ndlichkeit von Edelstahl. Es ist in zwei Versionen erhältlich: als selbstklebendes Edelstahlmaßband RTLC-S und als RTLC zur Verwendung mit FASTRACK, dem schnell und einfach zu installierenden Trägersystem.
[1.2MB]
Datenblatt: RKLC inkrementelles Wegmesssystem

Datenblatt: RKLC inkrementelles Wegmesssystem

Das RKLC Messsystem besteht aus einem robusten, 6 mm breiten Edelstahlmaßband von lediglich 0,15 mm Dicke. Dieses dünne Profil ermöglicht bei fester Fixierung der Maßbandenden an einer Maschinenachse dessen Anpassung an den Ausdehnungskoeffizienten und das thermische Verhalten des Installationsuntergrunds. Die Ausdehnungsdifferenz zwischen dem Maßband und der Maschine wird somit minimiert und die Messleistung, die mit einer einfachen Temperaturkompensation des Systems erzielt werden kann, verbessert.
[595kB]
Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

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Datenblatt: RESM rotative Maßverkörperungen

Datenblatt: RESM rotative Maßverkörperungen

Der RESM ist ein einteiliger Edelstahlring mit einer 20 µm oder 40 µm Teilungsperiode am Außendurchmesser und einer optischen Referenzmarke IN-TRAC™.
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TONiC™ inkrementelle Messsysteme

Datenblatt: TONiC™ Mess-System

Datenblatt: TONiC™ Mess-System

Das T1000 System von Renishaw ist ein extrem kompaktes Wegmess-System, das speziell für hochdynamische, präzise lineare Einheiten entwickelt wurde um bessere Genauigkeit, höhere Geschwindigkeit und größere Zuverlässigkeit zu erreichen.
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Datenblatt: TONiC™ FS Messsystem

Datenblatt: TONiC™ FS Messsystem

Das TONiC FS (Funktionale Sicherheit) von Renishaw ist ein offenes, optisches Messsystem, das gemäß den folgenden internationalen Normen zur funktionalen Sicherheit zertifiziert ist: • ISO 13849 Kategorie 3 PLd • IEC 61508 SIL2 • IEC 61800-5-2 SIL
[1.4MB]
Datenblatt: TONiC™ UHV Messsystem

Datenblatt: TONiC™ UHV Messsystem

Das TONiC™ UHV System bietet alle Vorteile der bewährten TONiC™ Weg- und Winkelmess-Systeme in einem Abtastkopf, der unter Verwendung von UHV-tauglichen Materialien und Prozessen konzipiert und gefertigt wurde.
[1.4MB]
Data sheet: DSi dual readhead angle encoder system [en]

Data sheet: DSi dual readhead angle encoder system

DSi brings higher accuracy to rotary axes whilst propoZ™ technology offers a selectable reference mark position.
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Datenblatt: TONiC™ DOP (Dual Output) Mess-System

Datenblatt: TONiC™ DOP (Dual Output) Mess-System

Die Mess-Systeme der TONiC™-Baureihe von Renishaw sind mit Dual Output Interface erhältlich.
[1.2MB]
Datenblatt: RTLC inkrementelles Maßbandsystem

Datenblatt: RTLC inkrementelles Maßbandsystem

Das lineare RTLC Maßband von Renishaw kombiniert eine ±5 μm/m Genauigkeit mit der Unempfi ndlichkeit von Edelstahl. Es ist in zwei Versionen erhältlich: als selbstklebendes Edelstahlmaßband RTLC-S und als RTLC zur Verwendung mit FASTRACK, dem schnell und einfach zu installierenden Trägersystem.
[1.2MB]
Datenblatt: RKLC inkrementelles Wegmesssystem

Datenblatt: RKLC inkrementelles Wegmesssystem

Das RKLC Messsystem besteht aus einem robusten, 6 mm breiten Edelstahlmaßband von lediglich 0,15 mm Dicke. Dieses dünne Profil ermöglicht bei fester Fixierung der Maßbandenden an einer Maschinenachse dessen Anpassung an den Ausdehnungskoeffizienten und das thermische Verhalten des Installationsuntergrunds. Die Ausdehnungsdifferenz zwischen dem Maßband und der Maschine wird somit minimiert und die Messleistung, die mit einer einfachen Temperaturkompensation des Systems erzielt werden kann, verbessert.
[595kB]
Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

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[984kB]
Datenblatt: RELM20 hochgenauer Linearmaßstab

Datenblatt: RELM20 hochgenauer Linearmaßstab

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[1.3MB]
Datenblatt: RSLM20 hochgenauer inkrementaler Stahlmaßstab

Datenblatt: RSLM20 hochgenauer inkrementaler Stahlmaßstab

sp_region_epd
[1.1MB]
Datenblatt: RESM rotative Maßverkörperungen

Datenblatt: RESM rotative Maßverkörperungen

Der RESM ist ein einteiliger Edelstahlring mit einer 20 µm oder 40 µm Teilungsperiode am Außendurchmesser und einer optischen Referenzmarke IN-TRAC™.
[854kB]
Datenblatt: REXM20 Hochgenaues Winkelmesssystem

Datenblatt: REXM20 Hochgenaues Winkelmesssystem

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VIONiC™ inkrementelle Messsysteme

Datenblatt: Messsystembaureihe VIONiC™

Datenblatt: Messsystembaureihe VIONiC™

Das VIONiC Messsystem mit integrierter Filteroptik und Interpolationstechnologie von Renishaw ist ein digitales, inkrementelles, optisches Komplettmesssystem mit hoher Leistungsfähigkeit.
[1.4MB]
Datenblatt: RTLC inkrementelles Maßbandsystem

Datenblatt: RTLC inkrementelles Maßbandsystem

Das lineare RTLC Maßband von Renishaw kombiniert eine ±5 μm/m Genauigkeit mit der Unempfi ndlichkeit von Edelstahl. Es ist in zwei Versionen erhältlich: als selbstklebendes Edelstahlmaßband RTLC-S und als RTLC zur Verwendung mit FASTRACK, dem schnell und einfach zu installierenden Trägersystem.
[1.2MB]
Datenblatt: RKLC inkrementelles Wegmesssystem

Datenblatt: RKLC inkrementelles Wegmesssystem

Das RKLC Messsystem besteht aus einem robusten, 6 mm breiten Edelstahlmaßband von lediglich 0,15 mm Dicke. Dieses dünne Profil ermöglicht bei fester Fixierung der Maßbandenden an einer Maschinenachse dessen Anpassung an den Ausdehnungskoeffizienten und das thermische Verhalten des Installationsuntergrunds. Die Ausdehnungsdifferenz zwischen dem Maßband und der Maschine wird somit minimiert und die Messleistung, die mit einer einfachen Temperaturkompensation des Systems erzielt werden kann, verbessert.
[595kB]
Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

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[984kB]
Datenblatt: RELM20 hochgenauer Linearmaßstab

Datenblatt: RELM20 hochgenauer Linearmaßstab

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[1.3MB]
Datenblatt: RSLM20 hochgenauer inkrementaler Stahlmaßstab

Datenblatt: RSLM20 hochgenauer inkrementaler Stahlmaßstab

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[1.1MB]
Datenblatt: RESM rotative Maßverkörperungen

Datenblatt: RESM rotative Maßverkörperungen

Der RESM ist ein einteiliger Edelstahlring mit einer 20 µm oder 40 µm Teilungsperiode am Außendurchmesser und einer optischen Referenzmarke IN-TRAC™.
[854kB]
Datenblatt: REXM20 Hochgenaues Winkelmesssystem

Datenblatt: REXM20 Hochgenaues Winkelmesssystem

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Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTi-100

Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTi-100

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ATOM™ inkrementelle Messsysteme

Datenblatt: ATOM DX™ Miniaturmesssystem

Datenblatt: ATOM DX™ Miniaturmesssystem

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[1.9MB]
Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

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[984kB]
Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTi-100

Datenblatt: Advanced Diagnostic Tool ADTi-100

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[243kB]

ATOM™ inkrementelle Messsysteme

Datenblatt: ATOM Miniaturmess-System

Datenblatt: ATOM Miniaturmess-System

ATOM ist das weltweit erste Miniaturmess-System mit Filteroptiken für verbesserte Verschmutzungstoleranz, Signalstabilität und Zuverlässigkeit bei linearen und rotativen Anwendungen.
[2.8MB]
Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

Datenblatt: RKL Maßverkörperung für Teilrotationsanwendungen

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[984kB]