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ATOM DX™ optisches Inkremental-Messsystem

ATOM DX ist das kleinste optische Inkremental-Messsystem von Renishaw. Es bietet digitale Ausgangssignale in Auflösungen von bis zu 2,5 Nanometern direkt vom Abtastkopf. Positionsmessung, integrierte Interpolation und Filteroptik sind alle in ein und demselben Miniaturmesssystem untergebracht. Dieses Messsystem ist für die meisten platzkritischen Anwendungen geeignet, die keine Abstriche bei der Leistungsfähigkeit erlauben.

Performance auf kleinstem Raum

ATOM DX baut auf dem am Markt bewährten Optiksystem der ATOM™ Messsystem-Plattform auf und ist mit der hochleistungsfähigen Interpolationstechnologie von Renishaw ausgestattet. Es bietet den Vorteil, dass keine zusätzlichen Adapter und Schnittstellen erforderlich sind.

Dank der integrierten Einstell-LED von Renishaw und dem intuitiven und einfachen Installationsvorgang mithilfe der bewährten automatischen Kalibrierroutine ist ATOM DX direkt nach dem Auspacken einsatzbereit. ATOM DX ist sowohl mit dem eigenständigen Diagnoseinstrument für Messsysteme ADTpro-100 als auch dem ADTi-100 Diagnoseinstrument kompatibel, die beide mit der Software ADT View erhältlich sind. Sie bieten detaillierte Diagnoseinformationen und helfen bei der optimalen Installation des Messsystems und der sofortigen Fehlersuche, um selbst schwierigste Motion Control-Anwendungen zu handhaben.

ATOM DX Abtastköpfe können mit verschiedenen linearen, rotativen und Teilkreis-Maßverkörperungen verwendet werden und eignen sich damit für die meisten Anforderungen. Sie sind in zwei Varianten erhältlich: mit seitlichem Kabelausgang und oberem „Top Exit“-Ausgang sowie Maßverkörperungen mit wahlweise 20 µm oder 40 µm Teilungsperiode.

In unserer Auswahl an technischen Dokumenten als Download finden Sie die technischen Spezifikationen für unsere ATOM DX Messsysteme.

Schauen Sie sich unsere Einführung zu ATOM DX Inkremental-Messsystemen an

Welche Art der Bewegung möchten Sie messen?

Linear

MaßverkörperungProduktnameGenauigkeit

Teilungsperiode

Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C

Lieferlänge

Maßband aus Edelstahl

RTLF Maßband

RTLF

20 µm: ±5 µm/m

40 µm (hohe Genauigkeit): ±5 µm/m
40 µm: ±15 µm/m

20 µm/40 µm~10,1 ±0,2 µm/m/°CBis 10 m (> 10 m auf Anfrage)

Glasmaßstab

RCLC Maßband

RCLC


±3 µm/m20 µm/40 µm~8 µm/m/°CBis 130 mm

Schmales Edelstahlmaßband

RKLC Maßband

RKLF-S

20 µm: ±5 µm/m

40 µm (hohe Genauigkeit): ±5 µm/m

40 µm: ±15 µm/m

20 µm/40 µm

Wie Installationsuntergrund, wenn Maßbandenden mit Endklemmen fixiert sind

Bis 10 m (> 10 m auf Anfrage)

Teilrotation

Maßverkörperung

Produktname

Genauigkeit

Teilungsperiode

Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C

Max. Länge der Maßverkörperung

Schmales Edelstahlmaßband für Teilkreismessungen

RKLC Teilkreis-Maßverkörperung

RKLF-S

±15 µm/m


40 µm

10,1 ±0,2 µm/m/°C

Bis 10 m (> 10 m auf Anfrage)



Rotativ

Maßverkörperung

Produktname

Teilungsgenauigkeit

Teilungsperiode

Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C

Scheiben-Außendurchmesser

Glasscheibe

RCDM Rasterscheibe

RCDM

±0,5 (Scheibe bis zu 100 mm ø)

±0,7 (Scheibe über 100 mm ø)


20 µm/40 µm~8 µm/m/°C17 mm bis 108 mm

CENTRUM™ Edelstahlscheibe

CENTRUM™ Rasterscheibe

CSF40±0,5 µm40 µm

15,5 ±0,5 µm/m/°C

Montagemöglichkeiten:

Schrauben: 38,4 mm bis 120 mm

Klemmen: 31 mm bis 120 mm

Bezüglich anderer Größen bitte Renishaw kontaktieren

Vorteile

Darstellung der Miniaturisierung

Miniaturkopf

Eignet sich durch seine geringen Profilhöhen ab 7,85 mm bei der Variante mit seitlichem und oberen Kabelabgang auch für Anwendungen auf kleinstem Raum.

Darstellung eines Tachometers

Hohe Geschwindigkeit

Maximale Geschwindigkeiten von bis zu 20 m/s und eine Reihe von Interpolationsoptionen.

Bild zur Darstellung des zyklischen Fehlers (SDE)

Geschwindigkeitsregelung

Renishaws neueste Interpolationstechnologie mit aktualisierten Signalverarbeitungsalgorithmen zur Reduzierung des zyklischen Fehlers (SDE).

Die Messsysteme von Renishaw ermöglichen eine sehr einfache und flexible Systemintegration. Wir verwenden fast immer das ATOM Messsystem von Renishaw und seit kurzem auch das ATOM DX Messsystem für unsere kompakteren Mikrobearbeitungssysteme.

Lasing Microsystem S.A. (Spanien)

Optionale Advanced Diagnostic Tools

Obwohl die Einstell-LED am Abtastkopf im Allgemeinen für die Einrichtung der optischen Messsysteme von Renishaw ausreicht, kann ein Advanced Diagnostic Tool (ADT) zur Unterstützung bei besonders schwierigen Installationen eingesetzt werden. Diagnoseinstrumente liefern detaillierte Informationen zum Messsystem und bieten Unterstützung bei der Fehlersuche, um längere Maschinenausfallzeiten zu vermeiden.

Das ATOM DX Messsystem ist mit den beiden Diagnoseinstrumenten, dem ADTpro-100 und dem ADTi-100, kompatibel.

ADTi-100 und ADTpro-100 Diagnoseinstrumente

Das ADTpro-100:

  • ist ein handgeführtes, eigenständiges Diagnoseinstrument für Messsysteme – es benötigt keinen externen Computer oder sonstige Ausrüstung.
  • Es verfügt über einen integrierten Farb-Touchscreen.
  • ist einfach bedienbar und mittels Plug & Play schnell eingerichtet, um Unterstützung bei der Einrichtung und Kalibrierung des Systems zu bieten.
  • nutzt die optionale Computersoftware ADT View, die das Speichern der Messsystem-Daten zur Protokollierung der Systemkonfiguration und -leistung ermöglicht. Darüber hinaus kann ADT View zur Aktualisierung der ADTpro-100 Firmware verwendet werden.

Das ADTi-100:

  • nutzt die intuitive Computersoftware ADT View.
  • liefert in Echtzeit umfassende Rückmeldungen über den Zustand des Messsystems zur Unterstützung bei besonders schwierigen Installationen und der Diagnose.
  • bietet Unterstützung bei der Systemeinrichtung, -kalibrierung und Signaloptimierung entlang der gesamten Achse.
  • ermöglicht das Speichern von Daten zum Messsystem, wie beispielsweise Signalstärke in Bezug auf die Position über die gesamte Achse, zur Protokollierung der Systemkonfiguration und -leistung.

Sowohl das ADTpro-100 als auch das ADTi-100 können eigenständig oder zwischen Abtastkopf und Steuerung angeschlossen als Teil des Maschinenregelkreises eingesetzt werden.

Entdecken Sie unsere Auswahl an optischen Messsystemen in offener Ausführung, die speziell für Ihre Anforderungen in der industriellen Automation entwickelt wurden.