航太成功案例
點雲斷面器
傳統量測中,必須一一量測葉片形狀的所有截面輪廓。每個需要的剖面都必須生成並執行一個 DMIS 工件程式,若在未來需要更多的截面輪廓,就必須重新量測葉片。
Renishaw 的點雲斷面器 (PCS) 能提供更為靈活的新方法。現在,只要使用 APEXBlade 和 Renishaw 的 REVO 測頭,即可使用掃掠掃描擷取整片葉片。這些量測能在葉片的整體形狀上,生成端部中心資料點雲。接著 PCS 能透過擷取的點雲資料,在任何平面上生成離線的「表面」剖面。
PCS 建立在 GML 之上並透過 MODUS 執行,它可在相同量測資料組中一再重複使用,無論在量測過程中,或是未來需要更多不同位置的剖面時皆然,而不需要進行重新量測。
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MPCS 表面剖面生成使用滾珠技術來消除餘弦誤差
APEXBlade - GML 能讓規劃複雜 5 軸路徑變得不再痛苦
在三次元量床 (CMM) 檢測的領域中,撰寫機台檢測程式的能力非常重要。此一工作通常需要仰賴專用的檢測軟體套件,隨著測頭量測系統從簡單的手動 3 軸(移動和碰觸)系統,發展成可轉位的 3 軸連續掃描測頭座,這項工作也日益複雜。您不妨想像最新的掃描測頭座,像是 Renishaw REVO 這樣連續 5 軸的掃描測頭座,在程式設計上會有多麼複雜。
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REVO video showing blisk measurement and surface analysis with SurfitBlade software
![REVO 掃掠掃描](/media/img/en/2145c1ee54c045d59618f6bc484a839d.jpg)
![APEX 路徑生成](/media/img/gen/6c6829060b1247d284667f99553653d6.jpg)
APEXBlade 這組套件能夠大幅簡化連續 5 軸掃描路徑的製作。它建構在 GML 上;以航太葉片為例,它會要求使用者匯入標稱幾何形狀、選取要量測的葉片,接著它會自動決定葉片上的最佳 5 軸掃掠掃描路徑。
從此生成的 DMIS 工件程式是專為匯入 Renishaw 自己的 CMM 檢測套件 MODUS 而量身打造,能在 MODUS 中執行。
在本應用程式中,會密集地在規劃循環中使用含有開發附加功能的 GML,處理高度受限制的量測數量,所造成複雜的路徑規劃問題、處理誤碰撞,以及提供最佳化的測頭組態配置。