Konfokalni ramanski mikroskop inVia™ InSpect
Naš najbolje prodajani konfokalni ramanski mikroskop, optimiziran za analizo sledov v forenzičnih laboratorijih.
Identificirajte snovi, ki jih je težko ali zamudno identificirati z drugimi tehnikami, kot so trdi kristalinični prahovi, keramične črepinje in stekleni drobci. Analiza je preprosta in zahteva le malo ali nobene priprave.
![Ramanski mikroskop inVia Inspect](/media/img/gen/3dfba30afedb46b0bc3b737e2426f214.jpg)
Lastnosti
Ramanski mikroskop inVia InSpect vam omogoča:
- Visokospecifično identifikacijo – ramanski mikroskop lahko razloči kemične strukture, tudi zelo podobne.
- Visoko prostorsko ločljivost – primerljivo z ostalimi tehnikami mikroskopiranja
- Različne tehnike za doseganje kontrasta – vključno s svetlim poljem, temnim poljem in polarizacijo, ter z odsevno in presevno svetlobo
- Analizo delcev – uporabite napredne algoritme za prepoznavo objektov na slikah in funkcije vodenja instrumenta za karakterizacijo porazdelitve delcev
- Korelativno snemanje – ustvarite kompozitne posnetke tako, da kombinirate ramanske podatke z drugimi tehnikami mikroskopiranja
Za podrobnejše informacije si prenesite brošuro inVia InSpect.
![Ramanski posnetek tablete ekstazija](/media/img/gen/1033eff3f02b489d870873ad66f2ab88.jpg)
Empty Modelling™
Programska oprema Empty Modelling uporablja tehniko multivariatne analize za razčlenitev kompleksnih podatkov na sestavne dele. To lahko skupaj z iskanjem po knjižnicah uporabite za analizo podatkov vzorcev, ki vsebujejo neznane snovi.
![Objektiv za ramanski mikroskop InVia](/media/img/gen/56b2704c7a194d478e417bcca05a11be.jpg)
Kartiranje StreamHR™
Kartiranje StreamHR usklajuje delovanje visokozmogljivega detektorja mikroskopa InSpect in mikroskopske mizice MS30. Na ta način se poviša hitrost zajema podatkov in prihrani čas pri ustvarjanju posnetkov.
![Ramanski mikroskop inVia InSpect](/media/img/gen/97fd836581a2463484f47e5b70c4a723.jpg)
Popolna avtomatizacija
Poravnavo, umerjanje in konfiguracijo lahko upravljate s programsko opremo Renishaw WiRE. S klikom na gumb lahko npr. preprosto preklapljate med ogledom vzorcev in ramansko analizo.
Aplikacije
![Jemanje sledov smodniških delcev](/media/img/gen/4555cfb889244e909c81f6f1403b2e88.jpg)
Sledi smodnika
Mikroskop inVia InSpect je celovita rešitev za analizo smodniških delcev ne glede na njihov izvor, ki omogoča iskanje in identifikacijo organskih in anorganskih sledi. V tem dokumentu je opisanih nekaj glavnih lastnosti in koristi uporabe ramanske tehnike pri analizi smodniških delcev.
![Analiza črnil pri odkrivanju ponarejenih dokumentov](/media/img/gen/63d296b87ac4484d99945634b37ab3a2.jpg)
Ponarejeni dokumenti
Obstaja mnogo različnih vrst črnil z enako barvo in različno kemično sestavo. Ramanska analiza z ramanskim mikroskopom inVia omogoča hitro in nedestruktivno analizo spornih dokumentov s potrebno specifičnostjo za razlikovanje med podobnimi črnili, ki so videti enaka.
Ali želite izvedeti več?
Vaše lokalno predstavništvo vam bo z veseljem pomagalo pri vaši poizvedbi.
Lahko izpolnite obrazec, ali pa nam pošljete e-poštno sporočilo.
Prejemajte zadnje novice
Ostanite na tekočem z novicami o naših zadnjih inovacijah, dogodkih, aplikacijah in prihodu novih izdelkov, ki jih boste prejemali neposredno v poštni predal.
Prenosi: ramanski mikroskop InVia InSpect
-
Brochure: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The perfect addition for trace analysis in your forensic laboratory.
-
Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
-
Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
-
Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
Podroben opis
Parameter | Vrednost | |
Obseg valovnih dolžin | 200 nm do 2200 nm | |
Podprti laserji | Od 229 nm do 1064 nm | |
Spektralna ločljivost | 0,3 cm-1 (FWHM) | Običajno najvišja potrebna: 1 cm-1 |
Stabilnost | < ±0,01 cm-1 | Variabilnost osrednje frekvence pasu Si 520 cm-1 na krivulji prilega, določena po več meritvah. Doseženo s spektralno ločljivostjo 1 cm-1 ali več |
Spodnje mejno valovno število | 5 cm-1 | Običajno najnižje potrebno: 100 cm-1 |
Zgornje mejno valovno število | 30.000 cm-1 | Standardno: 4.000 cm-1 |
Prostorska ločljivost (lateralna) | 0,25 µm | Standardno: 1 µm |
Prostorska ločljivost (aksialna) | < 1 µm | Standardno: < 2 µm. Odvisno od objektiva in laserja |
Velikost detektorja (standardno) | 1024 pikslov × 256 pikslov | Ostale možnosti |
Delovna temperatura detektorja | –70 °C | |
Podprti Rayleighovi filtri | Neomejeno | Do štirje filtrski seti v avtomatiziranem nosilcu. Neomejeno število dodatnih filtrskih setov v kinematičnih nosilcih z natančnim pozicioniranjem in ročnim preklapljanjem |
Število podprtih laserjev | Neomejeno | Standardno eden. Za več kot 4 dodatne laserje je potrebna pritrditev na optično mizico |
Osebni računalnik z Windowsi za krmiljenje | Osebni računalnik s sodobnimi specifikacijami in z operacijskim sistemom Windows® | Vključuje delovno postajo, zaslon, tipkovnico in sledilno kroglico |
Napajalna napetost | 110 V AC do 240 V AC +10% -15% | |
Napajalna frekvenca | 50 Hz ali 60 Hz | |
Značilna poraba moči (spektrometer) | 150 W | |
Globina (dvolaserski sistemi) | 930 mm | Osnovna plošča za dva laserja |
Globina (trilaserski sistemi) | 1116 mm | Osnovna plošča za tri laserje |
Globina (kompaktna) | 610 mm | Do trije laserji (odvisno od vrste laserja) |
Značilna masa (brez laserjev) | 90 kg |