Microscópio Raman confocal inVia™ InSpect
Nosso microscópio confocal Raman mais vendido, otimizado para uso em laboratórios forenses para análise de traços.
Identifique os materiais que podem ser difíceis ou demorados com outras técnicas, como pós cristalinos duros, fragmentos de cerâmica e lascas de vidro, facilmente analisados com pouca ou nenhuma preparação.
Características
O microscópio inVia InSpect Raman oferece:
- Identificação altamente específica - a microscopia Raman pode diferenciar estruturas químicas, mesmo aquelas intimamente relacionadas
- Alta resolução espacial - comparável às suas outras técnicas de microscopia
- Uma série de técnicas de contraste de microscópio - incluindo campo claro, campo escuro e contraste de polarização com iluminação de luz refletida e transmitida
- Análise de partículas - use algoritmos avançados de reconhecimento de imagem e recursos de controle de instrumento para caracterizar as distribuições de partículas
- Imagens correlativas - crie imagens compostas combinando dados Raman com imagens de outras técnicas de microscopia
Para informações mais detalhadas, baixe o folheto do inVia InSpect.
Empty Modelling™
O software Empty Modelling usa uma técnica de análise multivariada para resolver dados complexos em seus constituintes. Use-o com pesquisa de biblioteca para analisar dados de amostras que contêm materiais desconhecidos.
Mapeamento StreamHR™
O mapeamento StreamHR harmoniza a operação do detector de alto desempenho dos microscópios InSpect e a mesa do microscópio MS30. Ele aumenta a velocidade da coleta de dados e economiza tempo na geração de imagens.
Automação plena
Você pode controlar o alinhamento, calibração e configurações por meio do software WiRE da Renishaw. Por exemplo, você pode alternar rapidamente – com o clique de um botão – entre a visualização da amostra e a análise Raman.
Aplicações
Resíduo de arma de fogo
O microscópio inVia InSpect oferece um pacote abrangente para a análise de resíduos de arma de fogo, independentemente de sua origem, oferecendo benefícios para a detecção e identificação de resíduos orgânicos e inorgânicos. Nesta nota, exploramos algumas das principais características e benefícios da técnica Raman para análise GSR.
Falsificação de documentos
Existem muitos tipos diferentes de tintas; as cores podem ser iguais, mas quimicamente podem ser diferentes. A análise Raman com o microscópio Raman inVia permite testes rápidos e não destrutivos de áreas pesquisadas com a especificidade para distinguir tipos de tinta semelhantes que podem parecer visualmente idênticos.
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Downloads: microscópio inVia InSpect Raman
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Brochure: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The perfect addition for trace analysis in your forensic laboratory.
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Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
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Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
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Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
Especificações
Parâmetro | Valor | |
Faixa de comprimento de onda | 200 nm a 2200 nm | |
Lasers suportados | De 229 nm a 1064 nm | |
Resolução espectral | 0,3 cm-1 (FWHM) | A mais alta normalmente necessária: 1 cm-1 |
Estabilidade | < ±0.01 cm-1 | Variação na frequência central da banda de Si 520 cm-1 ajustada à curva, seguindo medições repetidas. Alcançada utilizando uma resolução espectral de 1 cm-1 ou mais alta |
Corte baixo do número de onda | 5 cm-1 | O mais baixo normalmente necessário: 100 cm-1 |
Corte alto do número de onda | 30.000 cm-1 | Padrão: 4.000 cm-1 |
Resolução espacial (lateral) | 0,25 µm | Padrão: 1 µm |
Resolução espacial (axial) | < 1 µm | Padrão: < 2 µm. Depende da objetiva e do laser |
Dimensões do detector (padrão) | 1024 × 256 pixels | Outras opções disponíveis |
Temperatura operacional do detector | -70 °C | |
Número de filtros Rayleigh suportados | Ilimitado | Até quatro conjuntos de filtro em montagem automatizada. Número ilimitado de conjuntos de filtro adicionais suportados por suportes cinemáticos localizados com exatidão e comutáveis pelo usuário. |
Número de lasers suportados | Ilimitado | Um como padrão. Lasers adicionais acima de 4 requer a montagem sobre uma mesa óptica. |
Controlado por Windows PC | Especificação Windows® PC mais recente | Inclui estação de trabalho do PC, monitor, teclado e trackball |
Tensão de alimentação | 110 V AC a 240 V AC +10% -15% | |
Frequência de alimentação | 50 Hz ou 60 Hz | |
Consumo normal de energia (espectrômetro) | 150 W | |
Profundidade (sistemas laser duplos) | 930 mm | Placa base laser dupla |
Profundidade (sistemas laser triplos) | 1116 mm | Placa base laser tripla |
Profundidade (compacta) | 610 mm | Até três lasers (depende do tipo de laser) |
Massa normal (excluindo lasers) | 90 kg |