Microscópio Raman confocal inVia™
O mais recente microscópio confocal Raman de nível de pesquisa oferece excelente desempenho e os melhores dados no menor tempo possível.
Ele é simples de operar, tem desempenho excelente e proporciona resultados confiáveis, mesmo nos experimentos mais desafiadores. Você pode produzir imagens químicas ricas e detalhadas, com dados altamente específicos de pontos discretos. Com flexibilidade inigualável, os cientistas e engenheiros de todo o mundo confiam no inVia.
Características
O inVia consiste de um microscópio de pesquisa acoplado a um espectrômetro Raman de alto desempenho. Ele é simples de operar e oferece excelente desempenho, elevado rendimento de sinal, combinados com alta resolução espectral e estabilidade, proporcionando resultados confiáveis mesmo nas medições mais desafiantes.
O projeto óptico altamente eficiente do microscópio inVia proporciona os melhores dados Raman, mesmo a partir de poucos traços de material. Se você precisa produzir imagens químicas detalhadas e dados muito específicos de pontos discretos de modo fácil e confiável, então o microscópio inVia é o sistema ideal para você.
Para obter informações mais detalhadas, baixe o folheto do microscópio inVia.
Velocidade e sensibilidade
A alta sensibilidade permite que você observe sinais Raman fracos e analise rapidamente até mesmo traços de material, monocamadas e dispersões fracas. Ela consiste de sistema óptico estigmático no eixo que proporciona alta eficiência óptica, excelente rejeição de luz dispersa e sensibilidade incomparável.
Alta resolução espacial
O projeto óptico permite atingir um nível muito alto de confocalidade (a capacidade de rejeitar o sinal de regiões distantes do ponto de interesse). Isso assegura que você obtenha alta estabilidade e a mais alta resolução espacial possível, limitada apenas pelo limite de difração inerente da luz.
Elevado desempenho espectral
Ele pode resolver características espectrais mais estreitas do que 0,5 cm-1, para que você possa distinguir entre bandas Raman próximas e diferenciar materiais muito similares, tais como polimorfos farmacêuticos. A alta estabilidade permite monitorar pequenos desvios na posição da banda Raman (tão reduzidos quanto 0,02 cm-1).
Estabilidade excepcional
Uma placa base tipo colmeia com projeto personalizado mantém o microscópio e os lasers inVia em posição e é tão estável que normalmente não é necessária uma mesa óptica ou antivibração. Os principais componentes móveis são equipados com encoders de alta precisão Renishaw, que garantem que tudo seja posicionado corretamente.
Flexibilidade espectral
Você pode configurar o microscópio inVia para que se torne ideal na análise das suas amostras específicas. Ele oferece suporte a vários lasers com comutação automática controlada por computador. Você pode alterar o comprimento de onda de excitação rapidamente e determinar rapidamente as melhores configurações para obter dados confiáveis de todas as suas amostras.
Flexibilidade de amostragem
O InVia suporta microscópios de pesquisa na vertical, invertidos e de estrutura aberta, bem como sondas de fibra óptica para análise remota de longa distância. Ele é compatível com uma variedade de objetivas e células ambientais, permitindo que você analise suas amostras em várias condições ambientais.
Opções adicionais
inVia™ InSpect
Otimizamos nosso microscópio Raman mais vendido para uso em laboratórios forenses. O microscópio inVia InSpect possui as ferramentas necessárias para análises químicas não destrutivas.
Sistemas Raman combinados
Combine duas ou mais técnicas analíticas in situ acoplando seu instrumento Raman a outros instrumentos analíticos complementares.
Soluções especiais Raman
Nossa muito experiente Equipe de Produtos Especiais pode desenvolver uma solução personalizada para atender os seus requisitos específicos.
Aplicações
Investigando produtos farmacêuticos
Com muitos componentes e propriedades, é altamente desejável determinar a composição, o tamanho do domínio e a distribuição das formulações disponíveis comercialmente com patente expirada. O microscópio inVia oferece incrível especificidade e sensibilidade química, gerando imagens químicas detalhadas em uma ampla gama de formulações.
Estudando polímeros
O microscópio inVia Raman proporciona especificidade e sensibilidade química, de modo não destrutivo, sem a necessidade de manipulação e preparação da amostra. Isso é importante no estudo de polímeros, pois buscamos novos materiais, melhoramos a eficácia dos materiais existentes e reduzimos os custos dos produtos.
Mantenha o foco em tempo
real com LiveTrack
O microscópio inVia utiliza a tecnologia de rastreamento automático de foco LiveTrack™ para adquirir espectros e topografia em tempo real, exatos e reproduzíveis de amostras com grandes variações de altura. Crie imagens 3D deslumbrantes de superfícies irregulares, curvas ou ásperas sem a necessidade de escaneamento preliminar. Assista ao vídeo para ver um exemplo.
Analise amostras de líquidos ou gases facilmente com o kit de macroamostragem
O kit de macroamostragem facilita a análise de amostras de líquidos ou gases em frascos e cubetas. Instalado em segundos, ajuda a realizar sua análise Raman rapidamente.
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Downloads: microscópio Raman InVia
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Folheto: Microscópio confocal Raman InVia
Renishaw inVia: o microscópio Raman de alto desempenho mais vendido no mundo
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Product note: Centrus detector [en]
At the heart of Renishaw’s Raman systems, Centrus is more than just a detector; it is key to the implementation of advanced Renishaw technologies
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Product note: inVia excitation wavelength options [en]
inVia™ Raman microscope: choosing filter and wavelength options
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Technical note: Polarised Raman spectroscopy using the inVia Raman microscope [en]
This note demonstrates that the inVia confocal Raman microscope is an ideal tool for polarisation studies.
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Product note: Free-space microscopes [en]
Renishaw’s free-space microscopes (FSMs) have a large clearance for oversized samples. FSMs can be configured with the full capabilities of an inVia™ Qontor® confocal Raman microscope, bringing complete automation and LiveTrack™ focus-tracking technology to large and heavy samples.
Especificações
O microscópio InVia está disponível em três modelos; do sistema inVia Qontor - o carro-chefe com automação plena e tecnologia de rastreamento de foco - até o sistema de nível básico inVia Basis.Parâmetro | Valor | |
Faixa de comprimento de onda | 200 nm a 2200 nm | |
Lasers suportados | De 229 nm a 1064 nm | |
Resolução espectral | 0,3 cm-1 (FWHM) | A mais alta normalmente necessária: 1 cm-1 |
Estabilidade | < ±0.01 cm-1 | Variação na frequência central da banda de Si 520 cm-1 ajustada à curva, seguindo medições repetidas. Alcançada utilizando uma resolução espectral de 1 cm-1 ou mais alta |
Corte baixo do número de onda | 5 cm-1 | O mais baixo normalmente necessário: 100 cm-1 |
Corte alto do número de onda | 30.000 cm-1 | Padrão: 4.000 cm-1 |
Resolução espacial (lateral) | 0,25 µm | Padrão: 1 µm |
Resolução espacial (axial) | < 1 µm | Padrão: < 2 µm. Depende da objetiva e do laser |
Dimensões do detector (padrão) | 1024 × 256 pixels | Outras opções disponíveis |
Temperatura operacional do detector | -70 °C | |
Número de filtros Rayleigh suportados | Ilimitado | Até quatro conjuntos de filtro em montagem automática. Número ilimitado de conjuntos de filtro adicionais suportados por suportes cinemáticos localizados com exatidão e comutáveis pelo usuário. |
Número de lasers suportados | Ilimitado | Um como padrão. Lasers adicionais acima de 4 requer a montagem sobre uma mesa óptica. |
Controlado por Windows PC | Especificação Windows® PC mais recente | Inclui estação de trabalho do PC, monitor, teclado e trackball |
Tensão de alimentação | 110 V AC a 240 V AC +10% -15% | |
Frequência de alimentação | 50 Hz ou 60 Hz | |
Consumo normal de energia (espectrômetro) | 150 W | |
Profundidade (sistemas laser duplos) | 930 mm | Placa base laser dupla |
Profundidade (sistemas laser triplos) | 1116 mm | Placa base laser tripla |
Profundidade (compacta) | 610 mm | Até três lasers (depende do tipo de laser) |
Massa normal (excluindo lasers) | 90 kg |
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Product note: MS30 high speed encoded stage [en]
The MS30 high speed encoded stage is a high performance, optically encoded, motorised sample stage for use with Renishaw’s Raman systems.
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Product note: Inverted microscopes for inVia [en]
Renishaw's inVia Raman spectrometers can be equipped with inverted microscopes instead of, or in addition to, the standard upright microscopes.
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Technical note: LiveTrack focus-tracking technology [en]
LiveTrack focus-tracking technology maintains optimum focus for both white light and Raman imaging to give stunning 3D images.
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Product note: Rayleigh imaging using the inVia™ confocal Raman microscope [en]
Product note detailing how you can perform Rayleigh imaging on the inVia confocal Raman microscope.
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Product note: Optical tweezing on the inVia™ Qontor® Raman microscope [en]
The inVia Qontor Raman microscope is available with optical tweezing. The microscope focuses the laser to the same point as the Raman laser, so you can both trap microparticles and analyse them using Raman or photoluminescence.
Visualização de amostras | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
Visualização estéreo (com binocular) | ■ | ▲ | ▲ |
Visualização memorizada e automática de pós-coleta | - | ▲ | ▲ |
Software de controle do microscópio | - | ▲ | ▲ |
Luz branca automática/Comutação Raman | - | ▲ | ▲ |
Salvamento automático de luz branca com dados | - | ▲ | ▲ |
Visualização combinada de luz branca e vídeo laser | - | ▲ | ▲ |
Autofoco de luz branca (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Coleta de dados Raman | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
Enfileiramento automático de medição | ▲ | ▲ | ▲ |
Rastreamento automático do foco (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Verificação de alinhamento e desempenho | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
Fonte de calibração interna com comprimento de onda do neon | - | ▲ | ▲ |
Padrões de referência interna para autocalibração | - | ▲ | ▲ |
Correção automática de calibração Raman (calibração rápida) | ▲ | ▲ | ▲ |
Autoalinhamento laser | ▲ | ▲ | ▲ |
Autoalinhamento do sinal Raman | ▲ | ▲ | ▲ |
Verificação da condição de desempenho | - | ▲ | ▲ |
Legenda
- não disponível | ■ opcional | ▲ incluído |