Interface Raman-MEB inLux™
Solution universelle pour analyse Raman-MEB sur site
L’interface innovante Raman-MEB inLux™ apporte une fonctionnalité Raman de haute qualité à votre chambre de microscopie à balayage électronique (MEB). Vous pouvez désormais collecter des spectres Raman capables de produire des images 2D et 3D tout en effectuant simultanément une imagerie au MEB. Comme l’échantillon reste statique entre les modes d’imagerie MEB et de collecte de données Raman, vous pouvez être sûr de la précision de la colocalisation lorsque vous comparez les images Raman et les images MEB.
L’interface inLux offre une gamme complète de fonctionnalités Raman. Vous pouvez collecter des spectres à partir de points uniques ou multiples ou bien générer des images Raman confocales 2D et 3D. L’interface inLux est équipée de série pour tous ces travaux, ce qui vous permet d’analyser des zones de plus de 0,5 mm sur chaque axe. Elle dispose d’un contrôle de position entièrement codé, jusqu’à 50 nm, garantissant une imagerie Raman précise.
Avantages principaux
- Richesse des informations - Les analyses Raman, de photoluminescence (PL) et de cathodoluminescence (CL) spectrale sont effectuées simultanément à l’imagerie MEB et colocalisées.
- Universalité - L’interface inLux peut être montée sur une large gamme de MEB de différents fabricants, avec des chambres de différentes tailles, et sans aucune modification du MEB.
- Technologie non invasive - La sonde inLux peut être entièrement rétractée en un seul clic. Ainsi, la sonde n’interfère pas avec d’autres fonctions ou flux de travail du MEB lorsqu’elle n’est pas utilisée.
- Détermination de la répartition - Des images Raman confocales peuvent être produites de série, ce qui permet de mesurer facilement l’hétérogénéité de l’échantillon.
- Visualisation de l’échantillon - Imagerie optique et montage sur une grande surface pour visualiser l’échantillon et cibler les zones d’intérêt.
- Configurabilité - Jusqu’à deux longueurs d’onde d’excitation laser différentes, plus un module CL en option.
- Automatisation - Changement de longueur d’onde laser en un clic pour l’analyse Raman d’échantillons difficiles.
Applications de l’interface inLux
Identification de contaminants
La spectroscopie Raman est une technique sans contact et non destructive qui peut fournir des informations chimiques très spécifiques, ce qui la rend idéale pour l’identification de contaminants. Elle est particulièrement puissante pour l’analyse de contaminants carbonés et organiques qui seraient difficiles à différencier par analyse élémentaire. Un MEB peut être utilisé pour localiser et étudier la morphologie de petites particules contaminantes qui ne peuvent être résolues par microscopie optique. Ces particules peuvent ensuite être directement ciblées en vue d’une analyse Raman à l’aide de l’interface inLux, sans avoir à déplacer l’échantillon (colocalisation).
Analyse des matériaux
La plupart des propriétés nouvelles que présentent les matériaux découlent de leur taille, de leur forme ou de leur épaisseur. Le graphène, les nanotiges et les nanotubes sont des exemples de matériaux pour lesquels le fort grossissement de la microscopie électronique à balayage est essentiel à la visualisation de l’échantillon. En plus de révéler la nature chimique et structurelle du matériau, l’analyse Raman peut également fournir des informations sur ses propriétés physiques. L’interface inLux peut produire des images Raman illustrant la cristallinité, la déformation et les propriétés électroniques qui peuvent être corrélées aux informations fournies par le MEB.
Connexion à différents systèmes Raman de Renishaw
L’interface inLux est utilisée conjointement avec les spectromètres Raman destinés à la recherche et les logiciels Renishaw. Elle offre des capacités de traitement et d’analyse complètes, associées à une utilisation simple et intuitive De l’identification de la contamination industrielle à la recherche universitaire, l’interface inLux peut vous aider à tirer le meilleur parti de votre MEB.
Analyseur Raman Virsa™
Pour une analyse Raman dédiée, l’interface inLux peut être connectée à l’analyseur Raman Virsa. L’analyseur Virsa offre une solution compacte et rentable pour une analyse Raman intégrée au MEB, avec la haute sensibilité et la résolution spectrale attendues d’un système Raman destiné à la recherche dans un boîtier monté en rack.
En savoir plus sur l’analyseur Virsa
Microscope confocal Raman inVia™
Connectez l’interface inLux au microscope confocal Raman inVia pour ajouter une analyse intégrée au MEB au microscope Raman de recherche le plus vendu au monde. Le microscope inVia offre des performances et une sensibilité de premier ordre dans une gamme configurable de longueurs d’onde d’excitation laser, de détecteurs et de réseaux. Il est idéal pour l’analyse de tout matériau actif du point de vue Raman. Le microscope inVia peut être utilisé indépendamment pour une analyse Raman. Votre MEB peut alors être disponible pour d’autres utilisateurs lorsque des mesures sur site ne sont pas nécessaires.
En savoir plus sur le microscope Raman inViaPlus d’informations
Décrivez votre configuration pour savoir si votre MEB est compatible avec l’interface Raman-MEB inLux. Remplissez le formulaire en cliquant sur le lien ci-dessous. L’un de nos experts prendra rapidement contact avec vous.
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Caractéristiques
| Paramètres | Valeurs |
| Masse | < 20 kg |
| Longueur de câble de fibre optique | 4,6 m |
| Spectromètres Raman compatibles | Microscope confocal Raman inVia Renishaw, analyseur Virsa Renishaw |
| Modèles MEB compatibles | Compatibilité assurée avec les modèles de tous les principaux fournisseurs de MEB |
| Port MEB requis | Port latéral ou arrière libre |
| Performances du MEB | L’interface inLux ne nécessite aucune modification du MEB et peut être entièrement rétractée lorsqu’elle n’est pas utilisée afin de ne pas interférer avec les performances du MEB ou d’autres accessoires. |
| Contrôle de mouvement | Pavé tactile, logiciel WiRE |
| Protection des contacts | Capteur tactile, volume de travail sécurisé surveillé par des codeurs absolus |
| Sécurité du laser | Laser verrouillé au vide de la chambre |
| Mappage/Imagerie Raman | De série |
| Sélection du module de fibre optique | Jusqu’à deux longueurs d’onde d’excitation laser différentes + module de cathodoluminescence en option |
| Longueurs d’onde d’excitation laser disponibles | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (autres longueurs d’onde disponibles sur demande) |
| Commutation laser | Automatisée, motorisée et commandée par logiciel |
| Résolution spatiale latérale | < 1 µm à 532 nm |
| Performances confocales | < 6 µm à 532 nm |
| Résolution spectrale | Voir la fiche technique du spectromètre |
| Dimensions | L 804 mm x H 257 mm x D 215 mm |
Téléchargements : Interface Raman-MEB inLux
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Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
