Sistemas Raman híbridos
Aumente las posibilidades de su microscopio Raman Renishaw acoplándolo a otros sistemas de análisis de una amplia variedad de fabricantes.
Con los sistemas de microscopía correlativos de Renishaw podrá estar seguro de estar analizando el mismo punto con ambas técnicas.
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SPM/AFM: Resolución nanométrica
Combine el microscopio Raman inVia™ con un microscopio de sonda de barrido (SPM), como el microscopio de fuerza atómica (AFM) para investigar las propiedades químicas y estructurales de los materiales. Añada resolución química a escala nanométrica con la espectroscopía Raman de punta mejorada (TERS) y revele información complementaria, como las propiedades mecánicas.
Nanoindentación: mediciones de las propiedades mecánicas
Combine la potencia del microscopio Raman inVia con mediciones de nanoindentación y correlacione directamente propiedades mecánicas y tribológicas como cristalinidad, polimorfismo, fase y tensión con la información química.
Lea un artículo de la revista Microscopia y Análisis
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Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
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