Interfaz SEM-Raman inLux™
Una solución universal para análisis Raman SEM in-situ
La innovadora interfaz inLux™ SEM Raman aporta la funcionalidad Raman de alta calidad a la cámara del microscopio electrónico de barrido (SEM). Ahora puede obtener espectros Raman que pueden generar imágenes en 2D y 3D al tiempo que captura imágenes en el SEM. La muestra permanece estática entre las imágenes SEM y los modos de obtención de datos Raman, y aporta la confianza de una ubicación precisa para la comparación de imágenes Raman y SEM.
La interfaz inLux proporciona una amplia gama de funciones Raman. Puede obtener espectros de puntos individuales o múltiples, o generar imágenes confocales Raman 2D y 3D. La interfaz inLux se entrega totalmente equipada de serie para este trabajo, que permite analizar volúmenes de más de 0,5 mm en cada eje. Dispone de control de posición codificado de hasta 50 nm, que garantizar una obtención de imágenes Raman.
Principales ventajas
- Información completa: El análisis Raman, espectroscopía de fotoluminiscencia (PL) y catodoluminiscencia (CL) se realiza simultáneamente localizado con las imágenes SEM.
- Universal: la interfaz inLux puede montarse en una amplia gama de SEM de distintos fabricantes, con tamaños de cámara diferentes y sin necesidad de modificar el SEM.
- No invasivo: la sonda inLux retrae completamente con un solo clic. De este modo, la sonda no interfiere con otras funciones SEM o procesos de trabajo cuando no se usa.
- Distribución uniforme: las imágenes confocales Raman pueden producirse como estándar para facilitar la medición de muestras heterogéneas.
- Visualización de muestras: genera imágenes ópticas de área amplia y el montaje para visualizar las muestras y las áreas objetivo de interés.
- Configurable: hasta dos longitudes de onda láser de excitación diferentes, además de un módulo CL opcional.
- Automático: cambio con un clic de longitudes de onda láser para análisis Raman de muestras complicada.
Aplicaciones de la interfaz inLux
Identificación de contaminantes
La espectroscopia Raman es una técnica sin contacto no destructiva que proporciona información química de alta especificación, idónea para la identificación contaminantes. La espectroscopia Raman es especialmente útil para analizar contaminantes de carbono y orgánicos, que serían muy difíciles de identificar en un análisis elemental. Puede utilizar un SEM para localizar y estudiar la morfología de pequeñas partículas contaminantes que no pueden detectarse en un microscopio óptico. A continuación, estas partículas pueden utilizarse directamente para el análisis Raman mediante la interfaz inLux, sin necesidad de mover la muestra.
Análisis de materiales
Muchas de las partículas nuevas mostradas en los materiales surgen por su tamaño, forma o grosor. Los nanotubos y nanocintas de grafeno son ejemplos que demuestran que el gran aumento del microscopio de electrones es crucial para visualizar la muestra. Además de revelar la naturaleza química y estructural del material, el análisis Raman también proporciona información de las propiedades físicas. La interfaz inLux genera imágenes Raman que ilustran la cristalinidad, la tensión y las propiedades electrónicas que pueden relacionarse con las de SEM.
Conéctese a distintos sistemas Raman de Renishaw
La interfaz inLux se utiliza con espectrómetros Raman de grado de investigación y software de Renishaw. De este modo, se obtiene gran capacidad de procesamiento y funciones de análisis de forma intuitiva y fácil de usar. Desde identificación de contaminación industrial a investigación académica, la interfaz inLux le ayuda a aprovechar todo el potencial del sistema SEM.
Analizador Raman Virsa™
Para análisis Raman dedicado, la interfaz inLux puede conectarse al analizador Raman Virsa. El analizador Virsa proporciona una solución compacta económica para análisis Raman SEM, con la resolución espectral de alta sensibilidad que se espera de un sistema Raman de grado de investigación con montaje en mesa.
Más información sobre el analizador Virsa
Microscopio confocal Raman inVia™
Conecte la interfaz inLux al microscopio confocal Raman inVia para añadir análisis en SEM al microscopio Raman de grado de investigación más vendido del mundo. El microscopio inVia proporciona un rendimiento y sensibilidad líderes del sector en una serie configurable de longitudes de onda de excitación láser, detectores y rejillas. Es perfecto para analizar cualquier material activo Raman. El microscopio inVia puede utilizarse independientemente para el análisis Raman. El SEM puede utilizarse por otros usuarios cuando no se necesita para mediciones in situ.
Más información sobre el microscopio Raman inViaMás información
Indíquenos la configuración de su sistema SEM para comprobar si su microscopio de electrones de barrido es compatible con la interfaz Raman inLux SEM. Rellene el corto formulario en el siguiente enlace y uno de nuestros expertos se pondrá en contacto con usted.
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Especificaciones
| Parámetros | Valor |
| Masa | < 20 kg |
| Longitud del cable de fibra óptica | 4,6 m |
| Espectrómetros Raman compatibles | Microscopio confocal Raman inVia de Renishaw |
| Modelos SEM compatibles | Compatible con modelos de los principales distribuidores de sistemas SEM |
| Puertos necesarios para SEM | Puerto SEM lateral o trasero libre |
| Rendimiento de SEM | La interfaz inLux no necesita ninguna modificación del sistema SEM y puede retraerse completamente cuando no se utiliza para que no interfiera con el rendimiento del SEM u otros accesorios |
| Control de movimientos | Panel táctil, software WiRE |
| Protección de contacto | Sensor táctil, entorno de trabajo seguro controlado por encóderes absolutos |
| Seguridad láser | Sistema de bloque láser en la cámara de vacío |
| Asignación/imágenes Raman | Incluido de serie |
| Selección de módulo de fibra óptica | Hasta dos longitudes de onda de excitación láser diferentes + módulo catodoluminescente opcional |
| Longitudes de onda de excitación disponibles | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (otras disponible bajo pedido) |
| Intercambio láser | Control automático, motorizado y por software |
| Resolución espacial lateral | < 1 µm @ 532 nm |
| Rendimiento confocal | < 6 µm @ 532 nm |
| Resolución espectral | Consulte la ficha técnica del espectrómetro |
| Medidas | Ancho 804 mm x Alto 257 mm x Fondo 215 mm |
Descargas: interfaz Raman SEM inLux
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Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
