Interfaz SEM-Raman inLux™
Una solución universal para análisis Raman SEM in situ
La innovadora interfaz inLux™ SEM Raman aporta la funcionalidad Raman de alta calidad a la cámara del microscopio electrónico de barrido (SEM). Ahora puede obtener espectros Raman que pueden generar imágenes en 2D y 3D al tiempo que captura imágenes en el SEM. La muestra permanece estática entre los modos de captura de imágenes SEM y Raman, por lo que, al comparar estas imágenes, puede estar seguro de que ambas tienen la misma ubicación.
La interfaz inLux ofrece una amplia gama de capacidades Raman. Puede obtener espectros de puntos individuales, de varios puntos o generar imágenes Raman confocales 2D y 3D. La interfaz inLux se entrega totalmente equipada de serie para este trabajo, que permite analizar volúmenes de más de 0,5 mm en cada eje. Cuenta con control de posición totalmente codificado, de hasta 50 nm de resolución; lo que garantiza una imagen Raman precisa.
Principales ventajas
- Cantidad de información: el análisis Raman, de fotoluminiscencia (PL) y de cátodoluminiscencia espectral (CL) se realiza simultáneamente y tienen la misma ubicación que las imágenes SEM.
- Universal: la interfaz inLux se puede montar en una amplia gama de microscopios SEM de diferentes fabricantes, con diferentes tamaños de cámara y sin necesidad de realizar ninguna modificación.
- No invasiva: la sonda inLux se puede retraer completamente con un solo clic. Esto garantiza que la sonda no interfiera con otras funciones o flujos de trabajo SEM cuando no esté en uso.
- Determine la distribución: las imágenes Raman confocales pueden generarse de forma predeterminada, permitiendo medir fácilmente la heterogeneidad de la muestra.
- Visualización de muestras: montaje y toma de imágenes ópticas de grandes superficies, que permite visualizar la muestra y centrarse en las áreas de interés.
- Configurable: hasta dos longitudes de onda láser diferentes, además de un módulo de CL opcional.
- Automatizado: cambio de longitud de onda del láser con un solo clic, para el análisis Raman de muestras difíciles.
Aplicaciones de la interfaz inLux
Identificación de contaminantes
La espectroscopía Raman es una técnica sin contacto y no destructiva que puede proporcionar información química altamente específica, lo que la hace ideal para identificar contaminantes. La espectroscopía Raman es especialmente poderosa en el análisis de carbono y de contaminantes orgánicos, que serían difíciles de diferenciar empleando el análisis elemental. Se puede utilizar un SEM para localizar y estudiar la morfología de pequeñas partículas contaminantes que no se pueden resolver mediante microscopía óptica. A continuación, estas partículas pueden seleccionarse directamente para el análisis Raman mediante la interfaz inLux, sin tener que mover la muestra.
Análisis de materiales
Muchas de las propiedades novedosas que exhiben los materiales surgen de su tamaño, forma o espesor. El grafeno, las nanovarillas y los nanotubos son ejemplos en los que el gran aumento que proporciona la microscopía electrónica de barrido es vital para visualizar la muestra. Además de revelar la naturaleza química y estructural del material, el análisis Raman también puede proporcionar información sobre las propiedades físicas. La interfaz inLux permite generar imágenes Raman que ilustran la cristalinidad, la tensión y las propiedades electrónicas, y que pueden correlacionarse con las del SEM.
Conéctese a los diferentes sistemas Raman de Renishaw
La interfaz inLux se utiliza conjuntamente con los espectrómetros Raman de grado de investigación de Renishaw y su software. Esto proporciona una gran capacidad de procesamiento y análisis, a la vez que es intuitivamente fácil de usar. Desde la identificación de contaminación industrial hasta la investigación académica, la interfaz inLux le ayuda a aprovechar al máximo su SEM.
Analizador Raman Virsa™
Para análisis Raman específico, la interfaz inLux puede conectarse al analizador Raman Virsa. El analizador Virsa ofrece una solución compacta y rentable para el análisis Raman en SEM, con la alta sensibilidad y resolución espectral que se espera de un sistema Raman de grado de investigación de sobremesa.
Más información sobre el analizador Virsa
Microscopio confocal Raman inVia™
Conecte la interfaz inLux al microscopio confocal Raman inVia para añadir el análisis en SEM al microscopio Raman de grado de investigación más vendido del mundo. El microscopio inVia ofrece un rendimiento y una sensibilidad líderes en el sector, con una amplia gama detectores, rejillas y longitudes de onda de excitación láser configurables. Es ideal analizar cualquier material activo por Raman. El microscopio inVia se puede utilizar de forma independiente para el análisis Raman. Su SEM puede estar disponible para otros usuarios cuando no se requieran mediciones in situ.
Más información sobre el microscopio Raman inViaeBook de espectroscopia: Últimos avances en Imágenes correlativas Raman
La espectroscopia Raman es un campo que experimenta una rápida expansión, con modernos espectrómetros Raman que proporcionan a los laboratorios más facilidad de uso y sensibilidad. Vea cómo puede combinar la espectroscopia Raman con la microscopia electrónica de barrido (SEM) o microscopia de imagen de vida útil fluorescente (FLIM) para mejorar la técnica en varias aplicaciones.
- Desarrollo de dispositivos e innovaciones de la tecnología Raman;
- Espectroscopia Raman in situ con una cámara SEM y cómo la interfaz inLux SEM Raman aporta información complementaria en las imágenes SEM;
- Microscopia Raman correlativa FLIM, con ejemplos de imágenes de secciones de tejido de la planta y células HeLa.
Más información
Indíquenos la configuración de su sistema SEM para comprobar si su microscopio de electrones de barrido es compatible con la interfaz Raman SEM inLux. Rellene el corto formulario en el siguiente enlace y uno de nuestros expertos se pondrá en contacto con usted.
Visite nuestro seminario web sobre la interfaz Raman SEM inLux
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Especificaciones
| Parámetros | Valor |
| Peso | < 20 kg |
| Longitud del cable de fibra óptica | 4,6 m |
| Compatibilidad con espectrómetros Raman | Microscopio confocal Raman Renishaw inVia, analizador Renishaw Virsa |
| Modelos SEM compatibles | Compatible con los modelos de los principales fabricantes de SEM |
| Requisito de puerto SEM | Requiere un puerto SEM lateral o trasero libre |
| Rendimiento SEM | La interfaz inLux no requiere ninguna modificación del SEM y se puede retraer completamente cuando no se utiliza, para que no interfiera en el rendimiento del SEM o de otros accesorios. |
| Control de movimiento | Panel táctil, software WiRE |
| Protección de colisión | Sensor táctil, volumen de trabajo seguro controlado mediante encóderes absolutos |
| Seguridad del láser | Accionamiento del láser vinculado al vacío de la cámara |
| Exploración / captura de imágenes Raman | De serie |
| Selección de módulos de fibra óptica | Hasta dos longitudes de onda de excitación láser diferentes, además de un módulo de cátodoluminiscencia opcional. |
| Longitudes de onda de excitación láser disponibles | 405 nm, 532 nm, 660 nm y 785 nm (otras disponibles por encargo) |
| Conmutación láser | Automatizada, motorizada y controlada por software |
| Resolución espacial lateral | < 1 µm a 532 nm |
| Rendimiento confocal | < 6 µm a 532 nm |
| Resolución espectral | Consulte la hoja de especificaciones del espectrómetro |
| Dimensiones | 804 mm (anchura) x 257 mm (altura) x 215 mm (fondo) |