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Kombinierte Raman-Systeme

Kombinieren Sie Ihr konfokales inVia™ Raman-Mikroskop oder den Virsa™ Raman-Analyser mit anderen Analyseinstrumenten und erschließen Sie die Möglichkeiten einer multimodalen Bildgebung. Die Raman-Spektrometer von Renishaw wurden erfolgreich mit einer Vielzahl von Analysetechniken kombiniert, darunter Rasterkraftmikroskopie (AFM) mit spitzenverstärkter Raman-Spektroskopie (TERS), Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Fluoreszenzlebensdauer-Imaging-Mikroskopie (FLIM), Nanoindentierung und Infrarot- (IR-)Thermografie. Darüber hinaus können Raman-Instrumente von Renishaw für die Photolumineszenz- (PL) und Photostrom-Bildgebung konfiguriert werden.

Für einen effizienten Arbeitsablauf können Sie Ihre Probe mit zwei oder mehr Charakterisierungsverfahren auf nur einem integrierten Instrument analysieren. Mit den korrelativen Mikroskopsystemen von Renishaw können Sie sicher sein, dass dieselbe Probenregion mit mehr als einem Verfahren analysiert wird. Erfahren Sie nachstehend mehr über unsere kombinierte Raman-Systeme.

Externe Auslösung (Trigger) für die Raman-Analyse

Synchronisieren und automatisieren Sie Ihre Raman-Messungen unter Verwendung eines externen Auslösers. Erfahren Sie, wie ein Raman-System von Renishaw an die Hardware und Software von Drittanbietern angebunden kann

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Labview mockup

Optisches Einfangen von Mikropartikeln

Eine optische Pinzette („optische Falle“) verwendet Licht, um kleine Teilchen festzuhalten und zu manipulieren. Mit dem konfokalen Raman-Mikroskop inVia™ Qontor können Sie Mikropartikel festhalten und sie mithilfe der Raman-Spektroskopie oder Photolumineszenz- (PL-)Messungen analysieren.

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2 diagrams explaining optical trapping
invia Raman-Mikroskop Hybrid-System

SPM/AFM Raman

Sie können das inVia™ Raman-Mikroskop mit einer Vielzahl von Rastersondenmikroskopen (SPMs) und Rasterkraftmikroskopen (AFMs) kombinieren, um zusätzliche Informationen wie beispielsweise zur Topografie und mechanischen Eigenschaften zu erhalten. Ergänzen Sie Ihr System durch spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie (TERS) für eine chemische Auflösung im Nanometerbereich.

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Fluorescence lifetime imaging microscopy (FLIM)

Fluoreszenzlebensdauer-Imaging-Mikroskopie (FLIM)

FLIM ist in ein inVia Raman-Mikroskop integrierbar, um räumliche Bilder zur Darstellung der Fluoreszenzlebensdauer eines Fluorophors aufzunehmen. Die FLIM wird in der Zellbiologie zur Umgebungserfassung, Überwachung molekularer Wechselwirkungen und Fluorophor-Identifizierung eingesetzt.

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Photocurrent imaging

Photostrom-Bildgebung

Rüsten Sie Ihr konfokales Raman-Mikroskop inVia für die Aufnahme von Photoströmen aus, die durch einfallendes Laserlicht erzeugt werden. Das Photostrom-Mapping von Photovoltaikanlagen gibt Aufschluss über die elektronischen, optischen und Ladungsträgereigenschaften eines Materials.

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Photoluminescence

Photolumineszenz

Nutzen Sie die Photolumineszenz (PL), um die elektronischen Eigenschaften von Stoffen zu untersuchen. Sie können Ihr inVia Mikroskop konfigurieren, um Kristalldefekte, atomare Lücken und Substitutionen zu untersuchen. Die PL ist hilfreich bei der Analyse von Materialien wie Solarzellen, Halbleitern und Edelsteinen.

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Nanoindentation


Nanoindentierung

Kombinieren Sie die Leistungsfähigkeit des inVia Raman-Mikroskops mit Nanohärtemessungen und korrelieren Sie mechanische, tribologische Eigenschaften und chemische Informationen, wie Kristallinität, Polymorphie, phasenspezifische Eigen- und Lastspannung, direkt miteinander.Mehr erfahren
inLuxTM SEM Raman interface









inLux™ SEM-Raman Interface

Das inLux SEM-Raman Interface ergänzt Ihre SEM-Kammer um Raman-Funktionen hoher Qualität. Nun können Sie zwei- und dreidimensionale Raman-Bilder aufnehmen und gleichzeitig hochauflösende SEM-Bilder erfassen.

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Medium wavelength infrared (MWIR) Raman thermography










Mittelwellen-Infrarot-Raman-Thermografie (MWIR)

Der Virsa-Analyser kann mit einem MWIR-Mikroskop für die Temperaturmessung fasergekoppelt werden. Verwenden Sie Raman-Thermografie an Halbleiterbauelementen, um die lokale Temperatur mit einer seitlichen räumlichen Auflösung im Submikrometerbereich zu bestimmen.

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inVia custom solution










Sonstige Kundenlösungen

Sollten unsere Standardprodukte nicht exakt Ihren Anforderungen entspechen, kann unser erfahrenes Entwickler-Team Sonderlösungen für Ihre speziellen Anforderungen entwickeln. Entdecken Sie Beispiele für die Raman-Integration in Synchroton-Beamlines und Umgebungen für die QA/QC-Routineanalyse.


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eBook zur Spektroskopie: Die neuesten Fortschritte in der korrelativen Raman-Bildgebung

Die Raman-Spektroskopie ist ein schnell wachsendes Feld mit modernen Raman-Spektrometern, die Laboren eine höhere Benutzerfreundlichkeit und Empfindlichkeit bieten. Erfahren Sie, wie die Raman-Spektroskopie mit Rasterelektronenmikroskopie (SEM) oder Fluoreszenzlebensdauer-Imaging-Mikroskopie (FLIM) kombiniert werden kann, um das Verfahren für verschiedenste Anwendungen zu optimieren.

  • Entwicklungen in der Raman-Instrumentierung und Innovationen der Raman-Technologie
  • Raman-Spektroskopie in einer SEM-Kammer und wie das inLux SEM Raman-Interface ergänzende Informationen während der SEM-Bildgebung liefert
  • Korrelative FLIM- und Raman-Mikroskopie mit Beispielen für die Bildgebung an Pflanzengewebeschnitten und HeLa-Zellen
eBook zur Spektroskopie:herunterladen

Webinar auf Abruf: Die Raman-Spektroskopie mit anderen Verfahren kombinieren – für eine datenreiche Wissenschaft

Die Raman-Spektroskopie ist oftmals nur ein Werkzeug von vielen, die benötigt werden, um komplexe Herausforderungen der Forschung zu lösen. Renishaw hat das inVia Mikroskop zur Verwendung mit anderen Verfahren entwickelt, um korrelierte Daten zu sammeln und aussagekräftigere Informationen zu den wissenschaftlichen Grundlagen Ihrer Proben zu liefern. In diesem Webinar zeigen wir Raman-Daten, die in Verbindung mit anderen Verfahren wie z. B. Photostrommessungen, PL, SEM, AFM, topographische Messungen und Rayleigh-Streuung erfasst wurden.

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Ihre Renishaw-Niederlassung wird Ihnen gerne mit Ihrer Anfrage weiterhelfen.
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