Konfokales Raman-Mikroskop inVia™ InSpect
Unser Bestseller unter den Raman-Mikroskopen, optimiert für den Einsatz in der Spurenanalyse kriminaltechnischer Labore.
Sie können Proben, wie beispielsweise hartkristalline Pulver, Keramikscherben und Glassplitter, die mit anderen Techniken nur sehr schwer oder mit hohem Zeitaufwand identifizierbar sind, einfach analysieren – ohne besondere Vorbereitung.
Merkmale
Vorteile des inVia InSpect Raman-Mikroskops:
- Hochspezifische Identifizierung – Die Raman-Mikroskopie kann chemische Strukturen unterscheiden, selbst eng verwandte.
- Hohe räumliche Auflösung – Ihren anderen Mikroskopietechniken ebenbürtig
- Auswahl an mikroskopischen Kontrastverfahren – einschließlich Hellfeld-, Dunkelfeld- und Polarisationskontrast mit Auflicht- und Durchlichtbeleuchtung
- Partikelanalyse – fortgeschrittene Bilderkennungsalgorithmen und Gerätesteuerungsfunktionen zur Charakterisierung von Partikelverteilungen
- Korrelative Bildgebung – Erstellung von zusammengesetzten Bildern durch die Kombination von Raman-Daten mit Bildern aus anderen Mikroskopietechniken
Für zusätzliche Details können Sie sich die inVia InSpect Broschüre herunterladen.
Empty Modelling™
Empty Modelling Software verwendet ein multivariates Analyseverfahren, um komplexe Daten in seine Bestandteile zu zerlegen. Verwenden Sie dies, in Verbindung mit der Durchsuchung von Bibliotheken, um Daten von Proben zu analysieren, die unbekannte Materialien enthalten.
StreamHR™ Mapping
StreamHR Mapping verbindet den Betrieb des InSpekt Mikroskop Hochleistungs-Detektors mit dem MS30 Mikroskopstisch. Es erhöht die Geschwindigkeit der Datenerfassung und spart Zeit bei der Generierung von Images.
Vollautomatisierung
Sie können die Ausrichtung, Kalibrierung und Konfigurationen durch Renishaws WiRE Software steuern. Sie können, zum Beispiel, schnell — mit nur einem Klick — zwischen Probenbetrachtung und Raman-Analyse umschalten.
Anwendungen
Schmauchspuren
Das inVia InSpect Mikroskop bietet ein umfassendes Paket für die Analyse von Schmauchspuren, ungeachtet von deren Herkunft; es bietet Vorteile für den Nachweis und die Identifizierung von sowohl organischen als auch nichtorganischen Rückständen. In diesem Hinweis erkunden wir einige der wichtigsten Merkmale und Vorteile der Raman-Technik für die Schmauchspur-Analyse.
Urkundenfälschung
Es gibt viele verschiedene Arten von Tinte; die Farben mögen die gleichen sein, aber chemisch können große Unterschiede bestehen. Die Raman-Analyse, unter Verwendung des inVia Raman-Mikroskops, ermöglicht eine schnelle, zerstörungsfreie Prüfung der in Frage gestellten Bereiche mit der Spezifität, ähnliche Arten von Tinte, die optische identisch sind, zu unterscheiden.
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Downloads: inVia InSpect Raman-Mikroskop
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Brochure: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The perfect addition for trace analysis in your forensic laboratory.
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Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
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Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
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Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
Spezifikationen
Parameter | Wert | |
Bereich der Wellenlänge | 200 nm bis 2200 nm | |
Unterstützte Laser | Von 229 nm bis 1064 nm | |
Spektrale Auflösung | 0,3 cm-1 (FWHM) | Höchster, typisch notwendiger Wert: 1 cm-1 |
Stabilität | < ±0,01 cm-1 | Schwankung in der Mittenfrequenz von einem angepassten Si 520 cm-1 Band, nach Wiederholungsmessungen. Wurde anhand einer spektralen Auflösung von 1 cm-1 oder höher erreicht |
Untere Wellenzahl-Grenze | 5 cm-1 | Niedrigster, typisch notwendiger Wert: 100 cm-1 |
Obere Wellenzahl-Grenze | 30.000 cm-1 | Standard: 4.000 cm-1 |
Räumliche Auflösung (lateral) | 0,25 µm | Standard: 1 µm |
Räumliche Auflösung (axial) | < 1 µm | Standard: < 2 µm. Abhängig von Objektiv und Laser |
Detektorgröße (Standard) | 1024 Pixel × 256 Pixel | Andere verfügbare Optionen |
Betriebstemperatur Detektor | -70 °C | |
Unterstützte Rayleigh Filter | Unbegrenzt | Bis zu vier Filtersets in automatischer Aufnahme. Unbegrenzte Anzahl zusätzlicher Filtersets unterstützt durch vom Nutzer umschaltbare kinematische Aufnahmen mit präziser Fixierung. |
Anzahl unterstützter Laser | Unbegrenzt | Standardmäßig einer. Zusätzliche Laser, über 4 hinaus, müssen auf einem optischen Tisch montiert werden |
Gesteuert über Windows PC | Windows® PC nach neuester Spezifikation | Enthält PC-Workstation, Bildschirm, Tastatur und Trackball |
Versorgungsspannung | 110 V AC bis 240 V AC +10% -15% | |
Netzfrequenz | 50 Hz oder 60 Hz | |
Typischer Energieverbrauch (Spektrometer) | 150 W | |
Tiefe (Dual-Lasersysteme) | 930 mm | Dual-Laser Grundplatte |
Tiefe (Dreifach-Lasersysteme) | 1116 mm | Dreifach-Laser Grundplatte |
Tiefe (Kompakt) | 610 mm | Bis zu drei Laser (je nach Lasertyp) |
Typische Masse (ohne Laser) | 90 kg |