5osá technologie
Měřte jinak
Na rozdíl od běžných metod měření na CMM využívá pětiosá technologie společnosti Renishaw synchronizovaný pohyb os souřadnicového měřicího stroje a hlavy k minimalizaci dynamických chyb za mimořádně vysokých rychlostí měření.
Co je 5osé měření?
Rozsáhlé zkušenosti s vývojem hlavic, snímačů a řídicích systémů umožnily společnosti Renishaw vyvinout systémy pětiosého měření, které nabízejí bezprecedentní rychlost a flexibilitu měření bez kompromisů v přesnosti. Pětiosé měření zvyšuje výkon měření, minimalizuje prostoje ve výrobě a poskytuje komplexnější posouzení kvality produkovaných výrobků.
Na rozdíl od tříosých měřicích systémů založených na indexovatelných hlavicích nebo pevných sondách umožňují pětiosé systémy souvislý pohyb doteku po nepřetržité dráze okolo složitých dílců bez nutnosti opustit povrch kvůli indexování hlavice. Algoritmy řídicích systémů, které synchronizují pohyb souřadnicového měřicího stroje a pohyb hlavice vytvářejí optimální dráhu doteku a minimalizují dynamické chyby souřadnicového měřicího stroje.
Výklad technologie pětiosého měření
U konvenčních metod měření provádí souřadnicový měřicí stroj všechny pohyby potřebné pro získání údajů o měřeném povrchu. Zrychlení při rozjezdu nebo brzdění pohybu osy způsobuje v konstrukci stroje setrvačné deformace, které způsobují chyby měření.
Výrobci metrologických systémů strávili roky snahou vyvinout techniky, které by zredukovaly vliv těchto dynamických chyb. Existuje však horní hranice rychlosti daná tuhostí stroje a servopohonu, za níž nelze provést spolehlivé měření.
Technologie 5osého měření tuto hranici prolomila díky použití hlavice, která provádí měření pohybem ve dvou rotačních osách. Souřadnicový měřicí stroj tak může provádět úlohy, k nimž byl zkonstruován – pohybovat se během měření konstantní rychlostí v jednom vektoru. Protože je hlavice mnohem lehčí a dynamičtější než souřadnicový měřicí stroj, dokáže rychle reagovat na změny tvaru dílce. Při měření tak nedochází ke vzniku škodlivých dynamických chyb. Výsledkem je daleko vyšší rychlost skenování a tedy i výrazně kratší cykly měření.