ATOM™ 增量式編碼器系統搭配 RCDM 旋轉（角度）盤
特性
- 讀頭尺寸：20.5 x 12.7 x 8.35 mm (FPC 版本：20.5 x 12.7 x 7.3 mm)
- 解析度可達 1 nm
- 速度高達 20 m/s
- 類比或數位輸出
- 低細分誤差 (SDE)：20 µm 版本 < ±75 nm、40 µm 版本 < ±120 nm
優點
- 微型封裝
- 採用光學濾波系統設計，具備優異的抗汙能力
- 提供診斷套件協助處理棘手安裝與系統優化。
- 盤形編碼器適合輕巧旋轉應用
- 品質保證
何謂 ATOM？
ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特，代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。
ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC)，提供 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。
提供各種介面可供選擇，包含標準 Ri、高效能 Ti 與小型開放式 ACi 介面。
RCDM 盤是什麼？
RCDM 為一體式玻璃盤，刻度直接標記在盤面上，採單一參考原點與光學準直調整帶設計。光學準直調整帶可盡量降低準直誤差，並提升安裝精度。
有兩種版本尺寸可供選擇：20 µm 或 40 µm 刻矩增量刻度 (20 µm：Ø30 mm 至 Ø108 mm，40 µm 為Ø17 mm 至 Ø108 mm)。
非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他傳統封閉式光學尺固有的機械遲滯錯誤。
為什麼選擇這種光學尺系統？
微型光學尺適合狹小空間
ATOM 的尺寸小至 7.3 mm x 20.5 mm x 12.7 mm，可整合至最狹窄的空間。多種選項可供選擇，包括有線及元件型 FPC 版本。
高可靠性與系統效能
ATOM 是全球第一台採用 Renishaw 獨特過濾光學鏡組設計的微型光學尺系統。讀頭內的動態訊號處理功能（包括自動增益控制與自動偏置控制）強化這項特色。此組合賦予 ATOM 更優的抗汙能力與訊號純度，足以媲美我們的標準化讀頭。SDE 20 µm 為 ±75 nm，40 µm 為 ±120 nm。因此，此微型讀頭具備平順的速度控制，有利於改善掃描性能及位置穩定性，這些是許多運動控制應用必備的基本特徵。
品質保證
ATOM 的自動生產線與快速交貨系統，確保產品的品質。ATOM 須通過多道品管流程，包括溫度與溼度檢測、震動檢測、ISO9001、靜電放電檢測、放射干擾檢測、傳導干擾檢測、LED 燒機與 100% 全檢。
介面選項
ATOM 提供多種介面選項，使光學尺與即有系統的整合更具彈性。
Ri 介面
- Ri 介面提供類比 1Vpp 或數位內插輸出，此輸出精細至 50 nm（時脈）或 0.5 μm（非時脈），並在一小型低成本封裝內完成。
- Ri 介面封裝於產業標準的 15 向 D 型連接器殼內，包括 CAL 按鈕。
Ti 介面
- Ti 介面為需要高速、低 SDE、細分精細至 1 nm 的數位內插應用所設計，且包括 CAL 按鈕。
- 時脈輸出已針對產業標準控制器，在所有解析度下的速度與性能最佳化。
- 另提供類比版本。
ACi 介面
- ACi 介面係一系列的高性能、微型、開放式細分器子系統。
- 這些介面為現今需要精細解析度的運動系統，提供無與倫比的價格性能效益，並以超小型、開放格式、小尺寸解決方案帶來高速效能，提供校準系統的功能。
- 以最高 40 MHz 時脈輸出時，數位細分可精細至 10 nm。
- 提供 FPC、纜線式或 PCB 連接器版本。
選配診斷工具組
可採用 ATOM 軟體優化 ATOM 光學尺的安裝，提供快速全面的系統調節。此軟體與與 ATOM 診斷硬體一起使用，即可使用 A-9411-0011 零件訂貨號向 Renishaw 購買。可透過 USB 線（於套件中提供）或客戶線上電子裝置連接硬體與電腦。
瞭解所有關於 ATOM 診斷工具組的資訊。
技術規格
量測標準 | 玻璃盤 |
讀頭尺寸 (LxWxH) | 纜線版本：20.5 mm x 12.7 mm x 8.35 mm FPC 版本：20.5 mm x 12.7 mm x 7.3 mm |
柵距 | 20 µm 與 40 µm |
熱膨脹係數 | ~8 µm/m/°C |
碟盤外徑 | 20 µm：30 mm 至 108 mm 40 µm：17 mm 至 108 mm 如需更大尺寸，請聯絡 Renishaw |
刻線數 | 20 µm：4,096 至 16,384 40 µm：1,024 至 8,192 |
參考原點 | 單一參考原點 |
刻劃精度 | ±0.5 µm（圓盤 ø 高達 100 mm） ±0.7 µm（圓盤 ø 超過 100 mm） |
最高速度
| （如需詳細資訊，請參閱規格資料表） 20 µm：高達 10 m/s 40 µm：高達 20 m/s 視介面類型而定。如需詳細資訊，請參閱規格資料表 20 µm：高達 10 m/s 40 µm：高達 20 m/s |
細分誤差 (SDE) | 20 µm 版本：一般低於 ±75 nm 40 µm 版本：一般低於 ±120 nm |
動態訊號控制 | 透過即時訊號調節，包括自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC)，在整個工作條件範圍內實現性能優化 |
增量訊號 |
（若要瞭解角度解析度的詳細資訊，請參閱規格資料表） |
電氣連接 | 纜線讀頭：板間連接器相容於 Ri、Ti 及 ACi 介面，或 15 向 D 型連接器 |
電源 | 5 V ± 10% < 50 mA（讀頭）、< 200 mA（搭配 Ti 介面）、< 100 mA（搭配 Ri 介面）、< 100 mA（搭配 ACi 介面）（無端接） |
振動（運作時） | 於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s² |
衝擊（非工作） | 1000 m/s²、6 ms、½ 正弦 |
工作溫度 | 0 °C 至 +70 °C |
防護等級 | 纜線版本：IP40 Ri 介面 IP20 Ri/Ti 介面：IP20 ACi 介面：IP00 |
請參閱規格手冊，了解詳細資訊。