ATOM™ 增量式編碼器系統搭配 RCDM 旋轉(角度)盤
特性
- 讀頭尺寸:20.5 x 12.7 x 8.35 mm (FPC 版本:20.5 x 12.7 x 7.3 mm)
- 解析度可達 1 nm
- 速度高達 20 m/s
- 類比或數位輸出
- 低細分誤差 (SDE):20 µm 版本 < ±75 nm、40 µm 版本 < ±120 nm
優點
- 微型封裝
- 採用光學濾波系統設計,具備優異的抗汙能力
- 提供診斷套件協助處理棘手安裝與系統優化。
- 盤形編碼器適合輕巧旋轉應用
- 品質保證
![網站橫幅的透明修補程式](/media/img/gen/4efef74a4adf4781888859de0d5ea48b.png)
何謂 ATOM?
ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特,代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。
ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC),提供 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。
提供各種介面可供選擇,包含標準 Ri、高效能 Ti 與小型開放式 ACi 介面。
RCDM 盤是什麼?
RCDM 為一體式玻璃盤,刻度直接標記在盤面上,採單一參考原點與光學準直調整帶設計。光學準直調整帶可盡量降低準直誤差,並提升安裝精度。
有兩種版本尺寸可供選擇:20 µm 或 40 µm 刻矩增量刻度 (20 µm:Ø30 mm 至 Ø108 mm,40 µm 為Ø17 mm 至 Ø108 mm)。
非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲(扭轉)及其他傳統封閉式光學尺固有的機械遲滯錯誤。
為什麼選擇這種光學尺系統?
微型光學尺適合狹小空間
ATOM 的尺寸小至 7.3 mm x 20.5 mm x 12.7 mm,可整合至最狹窄的空間。多種選項可供選擇,包括有線及元件型 FPC 版本。
高可靠性與系統效能
ATOM 是全球第一台採用 Renishaw 獨特過濾光學鏡組設計的微型光學尺系統。讀頭內的動態訊號處理功能(包括自動增益控制與自動偏置控制)強化這項特色。此組合賦予 ATOM 更優的抗汙能力與訊號純度,足以媲美我們的標準化讀頭。SDE 20 µm 為 ±75 nm,40 µm 為 ±120 nm。因此,此微型讀頭具備平順的速度控制,有利於改善掃描性能及位置穩定性,這些是許多運動控制應用必備的基本特徵。
品質保證
ATOM 的自動生產線與快速交貨系統,確保產品的品質。ATOM 須通過多道品管流程,包括溫度與溼度檢測、震動檢測、ISO9001、靜電放電檢測、放射干擾檢測、傳導干擾檢測、LED 燒機與 100% 全檢。
介面選項
ATOM 提供多種介面選項,使光學尺與即有系統的整合更具彈性。
Ri 介面
- Ri 介面提供類比 1Vpp 或數位內插輸出,此輸出精細至 50 nm(時脈)或 0.5 μm(非時脈),並在一小型低成本封裝內完成。
- Ri 介面封裝於產業標準的 15 向 D 型連接器殼內,包括 CAL 按鈕。
![Ri 介面(平方)](/media/img/gen/2eebd4d45636412ea7babce1c5015982.jpg)
Ti 介面
- Ti 介面為需要高速、低 SDE、細分精細至 1 nm 的數位內插應用所設計,且包括 CAL 按鈕。
- 時脈輸出已針對產業標準控制器,在所有解析度下的速度與性能最佳化。
- 另提供類比版本。
ACi 介面
- ACi 介面係一系列的高性能、微型、開放式細分器子系統。
- 這些介面為現今需要精細解析度的運動系統,提供無與倫比的價格性能效益,並以超小型、開放格式、小尺寸解決方案帶來高速效能,提供校準系統的功能。
- 以最高 40 MHz 時脈輸出時,數位細分可精細至 10 nm。
- 提供 FPC、纜線式或 PCB 連接器版本。
![網站:ACi 用於 ATOM 讀頭](/media/img/gen/7e9078d7fc2a446684c9845fbff2ccce.jpg)
可採用 ATOM 軟體優化 ATOM 光學尺的安裝,提供快速全面的系統調節。此軟體與與 ATOM 診斷硬體一起使用,即可使用 A-9411-0011 零件訂貨號向 Renishaw 購買。可透過 USB 線(於套件中提供)或客戶線上電子裝置連接硬體與電腦。
瞭解所有關於 ATOM 診斷工具組的資訊。
技術規格
量測標準 | 玻璃盤 |
讀頭尺寸 (LxWxH) | 纜線版本:20.5 mm x 12.7 mm x 8.35 mm FPC 版本:20.5 mm x 12.7 mm x 7.3 mm |
柵距 | 20 µm 與 40 µm |
熱膨脹係數 | ~8 µm/m/°C |
碟盤外徑 | 20 µm:30 mm 至 108 mm 40 µm:17 mm 至 108 mm 如需更大尺寸,請聯絡 Renishaw |
刻線數 | 20 µm:4,096 至 16,384 40 µm:1,024 至 8,192 |
參考原點 | 單一參考原點 |
刻劃精度 | ±0.5 µm(圓盤 ø 高達 100 mm) ±0.7 µm(圓盤 ø 超過 100 mm) |
最高速度
| (如需詳細資訊,請參閱規格資料表) 20 µm:高達 10 m/s 40 µm:高達 20 m/s 視介面類型而定。如需詳細資訊,請參閱規格資料表 20 µm:高達 10 m/s 40 µm:高達 20 m/s |
細分誤差 (SDE) | 20 µm 版本:一般低於 ±75 nm 40 µm 版本:一般低於 ±120 nm |
動態訊號控制 | 透過即時訊號調節,包括自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC),在整個工作條件範圍內實現性能優化 |
增量訊號 |
(若要瞭解角度解析度的詳細資訊,請參閱規格資料表) |
電氣連接 | 纜線讀頭:板間連接器相容於 Ri、Ti 及 ACi 介面,或 15 向 D 型連接器 |
電源 | 5 V ± 10% < 50 mA(讀頭)、< 200 mA(搭配 Ti 介面)、< 100 mA(搭配 Ri 介面)、< 100 mA(搭配 ACi 介面)(無端接) |
振動(運作時) | 於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s² |
衝擊(非工作) | 1000 m/s²、6 ms、½ 正弦 |
工作溫度 | 0 °C 至 +70 °C |
防護等級 | 纜線版本:IP40 Ri 介面 IP20 Ri/Ti 介面:IP20 ACi 介面:IP00 |
請參閱規格手冊,了解詳細資訊。