VIONiC™ 光學增量式光學尺系列
VIONiC 光學尺系列是 Renishaw 最高效能的增量開放式光學尺。透過優異的量測效能、高操作速度和卓越的可靠性，可提供直接數位位置回饋。
加強運動控制
VIONiC 讀頭整合 Renishaw 經市場認可的過濾光學鏡組與進階細分技術。因此可提供超低細分誤差 (SDE)、絕佳抗汙能力，且無須使用額外轉接器或獨立介面。
VIONiC 讀頭相容於多種線性、部分弧線和旋轉光學尺，從低膨脹係數的 ZeroMet™ 光學尺到高精確的 REXM 環皆適用。因此如果您需要多功能及絕不妥協的量測能力，請選擇 VIONiC 光學尺系列產品。由於設計中已採用直覺式自動校正模式，因此 VIONiC 光學尺易於安裝。
VIONiC 光學尺相容於 ADTpro-100 獨立式光學尺診斷工具及 ADTi-100 診斷工具，而這兩款工具都相容於 ADT View 軟體。可提供深入的進階診斷資訊，有助於最佳化光學尺安裝及現場偵錯，滿足要求最嚴苛的運動控制應用。
我們提供一系列可下載的技術文件，介紹 VIONiC 光學尺系統的技術規格。請觀看 VIONiC 增量式光學尺簡介
您需要量測哪種形式的運動？
線性
光學尺類型 | 光學尺名稱 | 精度 | 柵距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 供應長度 |
不鏽鋼捲尺
| RTLC20 | ±5 µm/m | 20 µm | 10.1 ±0.2 µm/m/°C | 長達 10 m（可依要求供應 10 m 以上長度） |
不鏽鋼光學尺搭配選購的軌道
| RTLC20 與選購的 FASTRACK™ | ±5 µm/m | 20 µm | 10.1 ±0.2 µm/m/°C | 長達 10 m（可依要求供應 10 m 以上長度） |
ZeroMet™ 光學尺
| RELM20/RELE20 | ±1 µm 用於最多 1 m，則 ±1 µm/m | 20 µm | 0.75 ±0.35 µm/m/°C | 最長達 1.5 m |
不鏽鋼光學尺
| RSLM20/RSLE20/RSLC20 | ±1.5 μm 達到 1 m、±2.25 μm 達到 2 m、±3 μm 達到 3 m、±4 μm 達到 5 m | 20 µm | 10.1 ±0.2 µm/m/°C | 最長達 5 m |
精細不鏽鋼捲尺
| RKLC20-S | ±5 µm/m | 20 µm | 以端蓋固定光學尺尾端時，能符合基板材質 | 長達 20 m（可依要求供應 20 m 以上長度） |
部分弧線
光學尺類型 | 光學尺名稱 | 精度 | 柵距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 供應長度 |
精細型不鏽鋼部分弧線光學尺
| RKLC20-S | ±5 µm/m | 20 µm | 10.1 ±0.2 μm/m/°C | 長達 20 m（可依要求供應 20 m 以上長度） |
旋轉
光學尺類型 | 光學尺名稱 | 精度（視環直徑而定） | 柵距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 環直徑 |
不鏽鋼環
| RESM20/REST20 | 刻度精度：±3.97 至 ±0.38 弧秒 | 20 µm | 15.5 ±0.5 µm/m/°C | 52 至 550 mm |
超高精度不鏽鋼環
| REXM20/REXT20 | 安裝精度： （直徑 ≥ 100 mm）±1 弧秒 | 20 µm | 15.5 ±0.5 µm/m/°C | 52 至 417 mm |
主要優點
超低細分誤差
進階細分技術提供一般低於 ±15 nm 的超低細分誤差 (SDE)，為所有 Renishaw 光學尺中的最低數值。
高速運作
解析度可達 2.5 nm，最高時脈率 50 MHz，速度則高達 12 m/s。解析度為 0.1 µm 時速度最高可達 3.63 m/s。
進階診斷工具 (ADT)
選購的深入進階診斷資訊，有助於最佳化光學尺安裝和現場偵錯。
選購的進階診斷工具
Renishaw 光學尺安裝時，通常只需使用讀頭上的設定 LED 指示燈，不過進階診斷工具 (ADT) 有助於處理更困難的安裝作業。這類工具可提供詳細的即時光學尺資料，以協助偵錯並避免機器長時間停機。
VIONiC 光學尺相容於以下兩種進階診斷工具：ADTpro-100 及 ADTi-100。
ADTpro-100：
- 手持獨立式光學尺診斷工具，無需使用電腦或其他設備。
- 配備內建彩色觸控螢幕。
- 簡易直覺的操作方式搭配隨插即用功能，有助於系統設定及校正。
- 可透過介面連接選購的 ADT View 電腦軟體，用於儲存光學尺資料，作為系統設定和效能記錄。ADT View 也可用於更新 ADTpro-100 韌體
ADTi-100：
- 可透過介面連接直覺操作的 ADT View 電腦軟體。
- 提供全方位即時光學尺資料回饋，有利於執行挑戰較高的安裝與診斷作業。
- 有助於進行全軸系統設定、校正及訊號最佳化。
- 可儲存光學尺資料作為系統設定及效能記錄，例如訊號強度與軸位置的光學尺對比資料。
ADTpro-100 與 ADTi-100 可獨立使用，或在讀頭與控制器之間進行串聯連接，藉此形成控制迴路。
歡迎探索我們的開放式光學尺系列，滿足您的工業自動化需求。