Sistemas Raman híbridos
Aumente os recursos do seu microscópio Raman Renishaw combinando-o com outros sistemas de análise de uma grande variedade de fabricantes.
Com os sistemas de microscopia correlativa da Renishaw você pode ter certeza de que está analisando o mesmo ponto com ambas as técnicas.
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SPM/AFM: Resolução nanométrica
Combine o microscópio inVia™ Raman com um microscópio de varredura por sonda (SPM), tal como um microscópio de força atômica (AFM), para investigar as propriedades químicas e estruturais de materiais. Adicione resolução química em escala nanométrica com espectroscopia Raman aprimorada pela ponta (TERS) e revele informações complementares como propriedades mecânicas.
Nanoentalhe: medições das propriedades mecânicas
Combine o poder do microscópio InVia Raman com medições de nanoentalhe e correlacione diretamente propriedades mecânicas e tribológicas com informações químicas, como cristalinidade, polimorfismo, fase e tensão.
Leia um artigo do Microscopy and Analysis Journal
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Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
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