Interferômetro diferencial RLD10
Interferômetros diferenciais permitem uma medição relativa a uma referência definida.
O cabeçote diferencial é projetado com um esquema óptico exclusivo a fim de permitir um baixo desempenho de SDE. Alinhadores integrados de feixe permitem um ajuste de angularidade vertical e horizontal durante a configuração, o que incrementa o processo de alinhamento (somente adequado para aplicações de espelho plano).
O cabeçote detector RLD10-X3-DI foi projetado para ser montado na parede externa de uma câmara de processo através de uma fixação simples de três pinos. Não é necessário entrar na câmara para alinhar o cabeçote detector - sistemas integrados de alinhamento do feixe permitem o ajuste independente da inclinação e rotação dos feixes de referência e medição - e o projeto do sistema de montagem permite que o cabeçote detector seja removido e reposicionado com efeito mínimo sobre o alinhamento do sistema.
Recursos e benefícios
- Metrologia excepcional - estabilidade de frequência ppb e erro cíclico ultra reduzido, permitindo resoluções de saída de até 38,6 pm.
- Configurações diferenciais - medem a posição relativa da base em relação à coluna e, assim, eliminam erros de modo comuns, como a movimentação da parede lateral da câmara associada a flutuações ambientais.
- Alinhamento rápido - alinhamento simples, por fora da câmara de vácuo, utilizando quatro sistemas de alinhamento de feixe integrados para contornar as tolerâncias de montagem da câmara e espelho.
Especificação
Curso do eixo | 0 m - 1 m |
Resolução (resolução configurada com RLU) | Quadratura analógica = λ/4 (158 nm) Quadratura digital = 10 nm Resolução RPI20 = 38,6 pm |
Erro de não linearidade do sistema* (SDE) *exclui a interface | <±1 nm abaixo de 50 mm/s com intensidade de sinal >70% <±6 nm a 1 m/s com intensidade de sinal >50% |
Rotação máxima | Até 1 m/s |
Informações sobre produtos
- Data sheet: RLD10 DI (differential interferometer) detector head [en]
- Data sheet: Low power RLD detector heads [en]
- News release: New differential measurement configuration for vacuum applications [en]
- Application note: Air turbulence effects on measurement stability of the differential interferometer [en]