個案研究： Renishaw XM-60 多光束校正儀 大幅提高空間誤差量測效率 (pdf)
檔案大小: 508 kB
語言: 中文（繁體）
產品編號: H-5650-1236
在量測空間精度相關誤差時需要考慮諸多因素，而量測這有誤差需要花費很長時間。量測空間精度方面，以追蹤量測系統為例，隨著機器尺寸增大，量測所需時間將呈平方級的增加。
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